【技术实现步骤摘要】
一种可涨缩调节的电路板测试治具
本技术属于电路板测试治具
,尤其涉及一种可涨缩调节的电路板测试治具。
技术介绍
目前,市面上现有电路板测试治具包括针盘、线盘和测试接口,针盘的上表面穿插有间隔设置的多根测试探针,而且这些测试治具的针盘都是安装在线盘上,牢牢固定死。但是在电路板测试中,申请人发现由于生产加工精度和基材涨缩的问题导致生产出来的电路板测试点或多或出现位置偏移的问题,从而使测试点与针盘上的测试探针无法连接、完成测试,尤其软硬板结合的电路板,两种材料的涨缩比例完全不同,使用现有的测试治具更加难以完成测试,已成为本电路板测试行业的一道难题。
技术实现思路
为了解决现有技术中存在的上述技术问题,本技术提供了一种可根据待测电路板的规格调节可活动调节子针盘在线盘上的安装位置,实现针盘涨缩控制,以确保待测电路板的每个测试点均能与测试探针连接、顺利完成测试,测试功能稳定、可靠,准确度高,使用灵活,操作简单、方便,通用性极强的电路板测试治具。本技术解决现有技术问题所采用的技术方案为:一种可涨缩调节的电路板测试治具,包括有针盘、线盘、测试连接口,所述线盘上穿设间隔设置的多条导电线,且导电线的一端与测试连接口内测试连接针导通连接;所述针盘由两个以上子针盘构成,且至少一个子针盘可活动调节位置地安装在线盘的上表面,每个子针盘的上表面穿插有间隔设置的可上下活动的多根测试探针;测试时,受压下移的所述多根测试探针下端与多条导电线的另一端一一对应导通连接。进一步地,所述可活动调节的子针盘底面设有定位销,所述线盘的上表面对应每个定位销的位置设有两个以上定位销孔;组装时,每个 ...
【技术保护点】
一种可涨缩调节的电路板测试治具,包括有针盘(1)、线盘(2)、测试连接口(3),所述线盘(2)上穿设间隔设置的多条导电线(21),且导电线(21)的一端与测试连接口(3)内测试连接针(31)导通连接;其特征在于:所述针盘(1)由两个以上子针盘(11)构成,且至少一个子针盘(11)可活动调节位置地安装在线盘(2)的上表面,每个子针盘(11)的上表面穿插有间隔设置的可上下活动的多根测试探针(12);测试时,受压下移的所述多根测试探针(12)下端与多条导电线(21)的另一端一一对应导通连接。
【技术特征摘要】
1.一种可涨缩调节的电路板测试治具,包括有针盘(1)、线盘(2)、测试连接口(3),所述线盘(2)上穿设间隔设置的多条导电线(21),且导电线(21)的一端与测试连接口(3)内测试连接针(31)导通连接;其特征在于:所述针盘(1)由两个以上子针盘(11)构成,且至少一个子针盘(11)可活动调节位置地安装在线盘(2)的上表面,每个子针盘(11)的上表面穿插有间隔设置的可上下活动的多根测试探针(12);测试时,受压下移的所述多根测试探针(12)下端与多条导电线(21)的另一端一一对应导通连接。2.根据权利要求1所述可涨缩调节的电路板测试治具,其特...
【专利技术属性】
技术研发人员:郭红建,
申请(专利权)人:珠海拓优电子有限公司,
类型:新型
国别省市:广东,44
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