一种混针式电路板测试治具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种混针式电路板测试治具，包括有针盘、线盘、增强板和测试连接口，增强板设置在针盘与线盘之间；所述针盘的上表面穿插有直径为70μm或90μm或110μm的第一测试探针、直径为30μm或40μm或50μm或60μm的第二测试探针，第一测试探针和第二测试探针的长度为30mm，并可上下活动地间隔地穿插在针盘和增强板上；线盘上穿设间隔设置的多条导电线，多条导电线的一端与针盘上受压下移的测试探针一一对应导通连接，另一端连接在测试连接口内的测试连接针上。实现了在一个测试治具上同时设置小直径测试探针和大直径测试探针，治具加工成本和制作难度降低，同时解决了小直径测试探针受压易变形的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种混针式电路板测试治具
本技术属于电路板测试治具
，尤其涉及一种混针式电路板测试治具。
技术介绍
目前，市面上现有电路板测试治具包括针盘、线盘和测试接口，针盘的上表面穿插有间隔设置的多根测试探针。但是申请人发现：现有的这些测试治具的针盘上所安装的测试探针的直径一般有30μm、40μm、50μm、60μm、70μm、90μm、110μm；其中，直径为40μm、50μm、60μm的测试探针的长度为20mm，直径为30μm的测试探针的长度为15mm，直径为70μm、90μm、110μm的测试探针的长度为30mm，这样三种长度不同的测试探针根本无法设置在同一个治具上；比如：如果一个治具需要50μm、70μm、90μm、110μm的治具就只能全部采用长度为20mm的50μm的测试探针，从而导致治具成本和加工难度大大提高，因为测试探针越小价格越贵，越难于制作。
技术实现思路
为了解决现有技术中存在的上述技术问题，本技术提供了一种同时设置小直径和大直径的测试探针，加工成本和制作难度低，测试性能稳定、可靠，测试结果准确的混针本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种混针式电路板测试治具，其特征在于：包括有针盘(1)、线盘(2)、增强板(3)和测试连接口(4)，所述增强板(3)设置在针盘(1)与线盘(2)之间；所述针盘(1)的上表面穿插有直径为70μm或90μm或110μm的第一测试探针(5)、直径为30μm或40μm或50μm或60μm的第二测试探针(6)，所述第一测试探针(5)和第二测试探针(6)的长度为30mm，并可上下活动地间隔地穿插在针盘(1)和增强板(3)上；所述线盘(2)上穿设有间隔设置的多条导电线(7)，所述多条导电线(7)的一端与针盘(1)上受压下移的第一测试探针(5)和第二测试探针(6)一一对应导通连接，另一端连接在测试连接口(...

【技术特征摘要】
1.一种混针式电路板测试治具，其特征在于：包括有针盘(1)、线盘(2)、增强板(3)和测试连接口(4)，所述增强板(3)设置在针盘(1)与线盘(2)之间；所述针盘(1)的上表面穿插有直径为70μm或90μm或110μm的第一测试探针(5)、直径为30μm或40μm或50μm或60μm的第二测试探针(6)，所述第一测试探针(5)和第二测试探针(6)的长度为30mm，并可上下活动地间隔地穿插在针盘(1)和增强板(3)上；所述线盘(2)上穿设有间隔设置的多条导电线(7)，所述多条导电线(7)的一端与针盘(1)上受压下移的第一测试探针(5)和第二测试探针(6)一一对应导通连接，另一端连接在测试连接口(4)内的测试连接针(41)上。


2.根据权利要求1所述混针式电路板测试治具，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭红建，
申请(专利权)人：珠海拓优电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44