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本实用新型提供了一种混针式电路板测试治具，包括有针盘、线盘、增强板和测试连接口，增强板设置在针盘与线盘之间；所述针盘的上表面穿插有直径为70μm或90μm或110μm的第一测试探针、直径为30μm或40μm或50μm或60μm的第二测试探针...
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