ICT测试探针针型使用错误自动检查装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种ICT测试探针针型使用错误自动检查装置，包括：一检查板，其可放置于ICT测试治具内的电路板载板的上方，该检查板包括一导电板以及一绝缘板，该绝缘板对准该电路板载板的通孔或缩孔的位置开设与该电路板载板的缩孔孔径一样大的检查孔；以及一检测模块，其连接该ICT测试治具内的若干个测试探针，当将该检查板放置于该电路载板的上方时收集该若干个测试探针导通或断开信息，并将所收集到的该若干测试探针的导通或断开信息分别与各个测试探针的程序标准规范进行对比并产生对比结果，最后输出该对比结果。

【技术实现步骤摘要】
ICT测试探针针型使用错误自动检查装置
本技术是一种检查装置，特别是一种ICT测试探针针型使用错误自动检查装置。
技术介绍
ICT测试(In—Circuit—Tester即自动在线测试仪)，是现代电子企业必备的PCBA(Printed-CircuitBoardAssembly，印刷电路板组件）生产的测试设备，ICT使用范围广，测量准确性高，对检测出的问题指示明确，即使电子技术水准一般的工人处理有问题的PCBA也非常容易。使用ICT能极大地提高生产效率，降低生产成本。ICT测试主要是通过测试探针接触PCB布局出来的测试点来检测PCBA的线路开路、短路、所有零件的焊接情况,可分为开路测试、短路测试、电阻测试、电容测试、二极管测试、三极管测试、场效应管测试、IC管脚测试等其它通用和特殊元器件的漏装、错装、参数值偏差、焊点连焊、线路板开短路等故障，并将故障是哪个组件或开短路位于哪个点准确告诉用户。然而,在保养的过程中,保养员由于操作失误很容易将治具内花针错用为刀针,导致测试探针扎坏插件电容PCBA线路,引起相关测试点对地点短路，导致批量性问题。为了避免以上失误，不得不在测试前采用人工管制，然而人工管制并不能100%防止问题的发生且检查效率低。有鉴于此，本技术提供一种ICT测试探针针型使用错误自动检查装置，其可自动检查ICT测试探针针型，避免错用探针而产生的损失且大大提高了检查效率。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种ICT测试探针针型使用错误自动检查装置，其可自动检查ICT测试探针针型，避免错用探针而产生的损失且大大提高了检查效率。为解决上述技术问题，本技术一种ICT测试探针针型使用错误自动检查装置，其适用于一ICT测试治具，该ICT测试治具内安装若干个测试探针以及一电路板载板，该电路板载板对应一待测电路板的测试点类型开设对应的通孔和缩孔，该ICT测试探针针型使用错误自动检查装置包括：一检查板，其可放置于该ICT测试治具内的该电路板载板的上方，该检查板包括一导电板以及一设置于该导电板下方的绝缘板，该绝缘板对准该电路板载板的通孔或缩孔的位置开设与该电路板载板的缩孔孔径一样大的检查孔；以及一检测模块，其连接该ICT测试治具内的若干个测试探针，该检测模块包括一储存单元、一信息收集单元、一处理单元以及一数据输出单元，该储存单元，用于储存该ICT测试治具内的各测试探针的程序标准规范，该信息收集单元，其连接该ICT测试治具内的若干个测试探针，用于当将该检查板放置于该电路载板的上方时收集该若干个测试探针导通或断开信息，该处理单元与该储存单元以及该信息收集单元连接，用于将所收集到的该若干测试探针的导通或断开信息分别与各个测试探针的程序标准规范进行对比并产生对比结果，该数据输出单元，其与该处理单元连接，用于输出该对比结果。优选地，该导电板为覆铜板。与现有技术相比较，本技术通过将该检查板放入该ICT测试治具中，该检测模块通过该信息收集单元收集各测试探针的导通或断开信息，该处理单元将所收集到的该若干测试探针的导通或断开信息分别与各个测试探针的程序标准规范进行对比并产生对比结果，该数据输出单元，其与该处理单元连接，用于输出该对比结果，通过该比对结果，测试人员可获知是否有测试探针类型使用错误，确实达到了自动检查ICT测试探针针型的目的，避免错用探针而产生的损失且大大提高了检查效率。【附图说明】图1为本技术一种ICT测试探针针型使用错误自动检查装置的检查板与ICT测试治具的电路板载板的结构示意图。图2为本技术的ICT测试探针针型使用错误自动检查装置的检测模块与ICT测试治具的测试探针的电性连接方块原理图。【具体实施方式】请参阅图1所示，本技术提供一种ICT测试探针针型使用错误自动检查装置，其适用于一ICT测试治具7，该ICT测试治具7内安装若干个测试探针以及一电路板载板71，该电路板载板71对应一待测电路板（未示）的测试点类型开设对应的通孔710和缩孔711，本技术的ICT测试探针针型使用错误自动检查装置包括一检查板1以及一检测模块2。在本实施例中,该若干个测试探针以一刀型测试探针72以及一花型测试探针73为例。该检查板1，其可放置于该ICT测试治具7内的该电路板载板71的上方，包括一导电板10以及一设置于该导电板10下方的绝缘板11，该绝缘板11对准该电路板载板71的通孔710或缩孔711的位置开设与该电路板载板7的缩孔71孔径一样大的检查孔110，使得刀型探针可以穿过该绝缘板11接触该导电板10，花型探针则无法通过该检查孔110而无法与该导电板10接触。在本实施例中，该导电板10为覆铜板。该检测模块2，其连接该ICT测试治具7内的若干个测试探针，该检测模块2包括一储存单元20、一信息收集单元21、一处理单元22以及一数据输出单元23。该储存单元20，用于储存该ICT测试治具7内的各测试探针的程序标准规范，如导通或是断开。该信息收集单元21，其连接该ICT测试治具7内的若干个测试探针，用于收集该若干个测试探针导通或断开信息。该处理单元22与该储存单元20以及该信息收集单元21连接，用于将所收集到的该若干测试探针的导通或断开信息分别与各个测试探针的程序标准规范进行对比并产生对比结果。该数据输出单元23，其与该处理单元22连接，用于输出该对比结果，以便测试人员根据对比结果获知是否有测试探针类型使用错误。举例说明，假设ICT测试治具中一共有20个测试点,其中10个测试点为刀针,剩余的10个测试点为花针。测试点编号<1,2,……10>为刀针测试点,<11,12……20>为花针测试点，将该检查板1放入该ICT测试治具里,则经该检测模块2测试后，<1,2,……10>应该短路,其它点应该断开，如果比对结果并非如上所述，则表明有测试探针类型使用错误，则测试人员可根据比对结果更换掉使用类型错误的测试探针，由此可确保探针的使用正确性。以上所述，仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以权利要求的保护范围为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种ICT测试探针针型使用错误自动检查装置，其适用于一ICT测试治具，该ICT测试治具内安装若干个测试探针以及一电路板载板，该电路板载板对应一待测电路板的测试点类型开设对应的通孔和缩孔，其特征在于，包括：/n一检查板，其可放置于该ICT测试治具内的该电路板载板的上方，该检查板包括一导电板以及一设置于该导电板下方的绝缘板，该绝缘板对准该电路板载板的通孔或缩孔的位置开设与该电路板载板的缩孔孔径一样大的检查孔；/n一检测模块，其连接该ICT测试治具内的若干个测试探针，该检测模块包括一储存单元、一信息收集单元、一处理单元以及一数据输出单元，该储存单元，用于储存该ICT测试治具内的各测试探针的程序标准规范，该信息收集单元，其连接该ICT测试治具内的若干个测试探针，用于当将该检查板放置于该电路载板的上方时收集该若干个测试探针导通或断开信息，该处理单元与该储存单元以及该信息收集单元连接，用于将所收集到的该若干测试探针的导通或断开信息分别与各个测试探针的程序标准规范进行对比并产生对比结果，该数据输出单元，其与该处理单元连接，用于输出该对比结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种ICT测试探针针型使用错误自动检查装置，其适用于一ICT测试治具，该ICT测试治具内安装若干个测试探针以及一电路板载板，该电路板载板对应一待测电路板的测试点类型开设对应的通孔和缩孔，其特征在于，包括：
一检查板，其可放置于该ICT测试治具内的该电路板载板的上方，该检查板包括一导电板以及一设置于该导电板下方的绝缘板，该绝缘板对准该电路板载板的通孔或缩孔的位置开设与该电路板载板的缩孔孔径一样大的检查孔；
一检测模块，其连接该ICT测试治具内的若干个测试探针，该检测模块包括一储存单元、一信息收集单元、一处理单元以及一...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈晟璘，
申请(专利权)人：佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44