非接触式智能卡整套兼容性测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种非接触式智能卡整套兼容性测试系统，包括：一非接触式智能卡兼容测试仪、一测试PC、一非接触式智能卡读卡器。在测试脚本的控制下，非接触式智能卡按照指令要求，进行上下左右前后的各项移动，同时控制非接触式智能卡读卡器进行应用指令的收发，根据预先编写的脚本对当前非接触式智能卡片状态进行校验来确认是否通过测试。本发明专利技术能够实现整个测试过程全自动化，且有极大灵活性和可扩展性。

Non-contact smart card complete compatibility test system

The invention discloses a complete set of compatibility testing system for contactless smart cards, including a non-contact smart card compatibility tester, a test PC and a contactless smart card reader. Control in the test script, contactless smart card in accordance with the instructions, on the move around, and the control of contactless smart card reader application instructions transceiver, according to a pre written script of the contactless smart card status in check to confirm whether to pass the test. The invention can realize full automation of the testing process, and has great flexibility and scalability.

【技术实现步骤摘要】
非接触式智能卡整套兼容性测试系统
本专利技术涉及非接触式智能卡测试领域，特别是涉及一种非接触式智能卡整套兼容性测试系统。
技术介绍
随着信息化时代的发展，非接触式智能卡进入人们的生活，使用的频率越来越高。我国虽然落后于发达国家相关技术，但一直在积极的创新和探索中。为有效的分析非接触式智能卡的问题，专利技术了非接智能卡兼容性测试仪。但是参考目前的一些机械自动化方案，往往很难做到尽善尽美，测试不够人性化，人机交互差，界面单一，无法自行灵活编写更高阶的测试用例，不能自动进行测试结果的比较和输出报告等更高阶的需求，又一次出现在工程师前面。现有的机械自动化解决方案大多都是根据工厂流水线的需求进行设计的，由于需求方主要是一些大型工厂，需要保证工人也能无障碍操作，制作的很死板，功能单一，基本一个按键对应一个功能，缺少灵活性和可扩展性，没有办法满足实验室测试人员更高的需求，与实验室调试、测试需求大相径庭。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种非接触式智能卡整套兼容性测试系统，能够实现整个测试过程全自动化，且有极大灵活性和可扩展性。为解决上述技术问题，本专利技术的非接触式智能卡整套兼容性测试系统，包括：一非接触式智能卡兼容性测试仪，具有X,Y,Z三根完全独立运动的轴，根据需要进行上下、左右或前后的单轴移动，在控制下进行双轴或三轴协同运动，完成一个轨迹运动的过程；被测非接触式智能卡片固定在Z轴末端的夹爪上；一非接触智能卡读卡器，设置在非接触式智能卡兼容性测试仪底座的基座上，用于与所述被测非接触式智能卡进行通讯，读取被测非接触式智能卡的数据；一测试PC(个人电脑)，分别与所述非接触式智能卡兼容性测试仪和非接触智能卡读卡器相连接，运行测试上位机软件，通过在测试上位机软件中编制不同测试脚本，控制被测非接触式智能卡按照指令要求，进行不同轨迹移动，同时控制非接触智能卡读卡器进行应用指令的收发，根据预先编写的脚本对当前被测非接触式智能卡片状态进行校验，以确认是否通过测试。采用本专利技术可彻底在整个测试过程中实现全自动化，并且根据编写脚本工程师的能力，自己就可以完成深度定制的测试套件，为自身的需求量身打造。本专利技术拥有极高的可扩展性，除了目前使用的功能以外，还可以继续外接其他实验室设备，例如示波器、频谱仪，信号发生器等一起加入到整个测试体系中，利用TCL/TK已经拥有的接口，使得后续外部接入的设备变得异常简单，只需要简单的进行开发即可使用，最终这一切可以完成一套高度智能的兼容性测试系统，并且可以不断完善和进化。本专利技术具有高精度，高准确，高灵活性，各功能独立的特点，并且可以根据实际需要和各种不同类型的应用自行编写测试脚本，填补了目前非接触式智能卡自动测试需求的空白。附图说明下面结合附图与具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明：附图是所述非接触式智能卡整套兼容性测试系统一实施例示意图。具体实施方式结合附图所示，所述非接触式智能卡整套兼容性测试系统在下面的实施例中，包括：一非接智能卡兼容性测试仪、一非接触智能卡读卡器和一测试PC。非接智能卡兼容性测试仪和测试PC通过USB(通用串行总线)接口连接；非接触智能卡读卡器和测试PC通过USB连接。所述非接智能卡兼容性测试仪，包括：一机架，该机架内部具有两块空间，第一空间位于机架上方，为电机和控制器空间；第二空间位于第一空间的下方，为机械臂空间。一三轴联动的机械臂，倒置安装在第二空间的上端。其中，X轴固定在第二空间上方的机架上，Y轴导轨固定在X轴的联动器上，Z轴导轨固定在y轴的移动点上；Z轴末端装有能固定卡非接触式智能卡片的夹爪和真空吸嘴，夹爪通过传动装置(钢丝绳、高轻度玻璃纤维线等)与第一空间中的电机相连接，真空吸嘴通过吸管与第一空间中的真空泵相连接，能够确保高速移动时卡片不会掉落。一底座，位于机架的底部，设有固定非接触式智能卡读卡器的绑带(松紧绑带)和三层基座；能够确保机械臂高速移动产生的震动不会让非接触式智能卡读卡器移位，并且三层基座能够调节不同高度来对应不同厚度的非接触式智能卡读卡器，确保机械臂有最好的行程范围。所述第一空间内设置有多轴控制器、负责固定卡片的电机和真空泵、交流伺服系统和电源保护器。X轴，Y轴，Z轴为三根完全独立运动的轴，根据需要进行上下、左右、前后的单轴移动，或者进行双轴或三轴协同运动，完成一个轨迹运动的过程；在非接触式智能卡接受和发送数据过程中，将非接触式智能卡移动至非接触式读卡器天线上方位置，根据需求调节速度，在天线上方各个位置进行非接触式智能卡移动过程中通讯实验，模拟实际刷卡的轨迹过程，测试非接触式智能卡与非接触式读卡器的通讯兼容性。所述非接触智能卡读卡器，设置在非接触式智能卡兼容性测试仪底座的基座上，用于与所述被测非接触式智能卡进行通讯，读取被测非接触式智能卡的数据。所述测试PC，运行测试上位机软件，通过在测试上位机软件中编制不同测试脚本，控制被测非接触式智能卡按照指令要求，进行不同轨迹移动，同时控制非接触智能卡读卡器进行应用指令的收发，根据预先编写的脚本对当前被测非接触式智能卡片状态进行校验，以确认是否通过测试。所述测试上位机软件采用TCL/TK(ToolCommandLanguage工具命令语言)语言编制。TCL/TK语言语法简单，执行高效，强大的可扩展性和人机交互使得兼容性测试会变得异常的容易。同时TCL/TK语言语法强大的兼容性，几乎可以嵌入目前所有主流的语法中，对编译器无特殊要求，主流的TCL/TK编译器均可搭建这套非接触式智能卡整套兼容性测试系统，对于有开发能力的工程师来讲，使得非接触式智能卡整套兼容性测试系统的功能可以无限扩展下去。非接智能卡兼容性测试仪的控制器和非接触式智能卡读卡器使用的均是类似PCI(外设部件互连标准)、PC/SC(个人电脑/智能卡协议)、HID(通用串行总线人机接口设备协议)、CCID(通用串行总线芯片智能卡接口设备协议)的标准通信协议，所以只需要在设备厂商提供的设备二次开发的软件开发包，按照TCL/TK接口调用规则进行包装即可为非接触式智能卡整套兼容性测试系统所用。测试编写脚本TCL/TK代码示例如下：以上内容可以设置一个循环，即可成为一个全自动化的测试用例。包装TCL/TK接口函数示例：综上所述，本专利技术相对传统的自动化解决方案来说有着难以比拟的优势。整个搭建过程一旦完成，就拥有极高集成度的测试环境，并且自动化、智能化程度极高，又可以随时根据需求搭载多套测试用例，复用性强，灵活度高，测试精准，结果可靠。下面是一具体的实施例，可以更好的了解本专利技术的技术方案、实施过程及所具有的有益效果。在编写好测试用例后，测试工程师甚至不需要在旁边查看，整套测试环境就可以自行完成全部测试，并且打印出测试报告。在测试结果中工程师已经加入了很多错误点判断，在测试报告中，直接指出了测试失败的原因，极大提高了测试和分析错误点的效率，为设计产品空出了大量的时间进行修改。同时本专利技术可复制性也非常好，硬件使用只有非接智能卡兼容性测试仪、测试PC和非接触式智能卡读卡器。这些均在市场上非常容易购买，而非接智能卡兼容性测试仪也基本采用工业标准件，不存在难以备份多套的情况。鉴于本专利技术的可扩展性，再次为工程师提供了功能扩展的可能性，例如甚至可以将该系统连接在线网络，在家中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种非接触式智能卡整套兼容性测试系统，其特征在于，包括：一非接触式智能卡兼容性测试仪，具有X,Y,Z三根完全独立运动的轴，根据需要进行上下、左右或前后的单轴移动，在控制下进行双轴或三轴协同运动，完成一个轨迹运动的过程；被测非接触式智能卡片固定在Z轴末端的夹爪上；一非接触智能卡读卡器，设置在非接触式智能卡兼容性测试仪底座的基座上，用于与所述被测非接触式智能卡进行通讯，读取被测非接触式智能卡的数据；一测试PC，分别与所述非接触式智能卡兼容性测试仪和非接触智能卡读卡器相连接，运行测试上位机软件，通过在测试上位机软件中编制不同测试脚本，控制被测非接触式智能卡按照指令要求，进行不同轨迹移动，同时控制非接触智能卡读卡器进行应用指令的收发，根据预先编写的脚本对当前被测非接触式智能卡片状态进行校验，以确认是否通过测试。

【技术特征摘要】
1.一种非接触式智能卡整套兼容性测试系统，其特征在于，包括：一非接触式智能卡兼容性测试仪，具有X,Y,Z三根完全独立运动的轴，根据需要进行上下、左右或前后的单轴移动，在控制下进行双轴或三轴协同运动，完成一个轨迹运动的过程；被测非接触式智能卡片固定在Z轴末端的夹爪上；一非接触智能卡读卡器，设置在非接触式智能卡兼容性测试仪底座的基座上，用于与所述被测非接触式智能卡进行通讯，读取被测非接触式智能卡的数据；一测试PC，分别与所述非接触式智能卡兼容性测试仪和非接触智能卡读卡器相连接，运行测试上位机软件，通过在测试上位机软件中编制不同测试脚本，控制被测非接触式智能卡按照指令要求，进行不同轨迹移动，同时控制非接触智能卡读卡器进行应用指令的收发，根据预先编写的脚本对当前被测非接触式智能卡片状态进行校验，以确认是否通过测试。2.如权利要求1所述的系统，其特征在于：所述测...

【专利技术属性】
技术研发人员：张修远，
申请(专利权)人：上海华虹集成电路有限责任公司，
类型：发明
国别省市：上海,31