非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及测试验证领域，公开了一种非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试装置，替代传统的使用不同非接触读卡器进行兼容性测试的方法，以及传统的手动调节读卡器发射波形进行兼容性测试的方法，提高测试验证的效率和全面性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试验证领域，提供一种非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试装置，提高测试验证的效率和全面性。
技术介绍
随着非接触智能卡应用的普及，非接触智能卡的兼容性要求越来越高，在智能卡产品开发和测试验证阶段对其兼容性的评价工作显得尤为重要，兼容性测试验证的工作也越来越多。现有的兼容性测试验证，主要是通过与不同的非接触读卡器进行通信的成功率来评判卡片的兼容性。还有一些测试设备可以手动调整信号波形的特征参数来测试非接触智能卡的接收情况，但调整比较繁琐无法自动化长时间进行测试。
技术实现思路
本专利技术涉及测试验证领域，提供一种非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试装置，替代传统的使用不同非接触读卡器进行兼容性测试的方法，以及传统的手动调节读卡器发射波形特征参数进行兼容性测试的方法，提高测试验证的效率和全面性。本专利技术所述的非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试装置，由测试空间1、信号波形调节单元2、控制单元3以及PC4组成。在非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试时，PC4下达测试指令给控制单元3，控制单元3控制信号波形调节单元2发射相应的测试信号到测试空间1，对测试空间中的非接触智能卡进行相应的信号波形特征参数的兼容性测试。整个测试过程不需要手动调整设备、信号等，可以全自动完成设定的多组测试。本专利技术所述的测试空间1为非接触智能卡的测试空间，其为一个近场天线，可以向空间发射能量和信号。信号波形调节单元2通过改造基本的的天线阻抗匹配电路(图2)为可自动调节信号波形的天线匹配电路(图3)。改造的方法是在基本的天线阻抗匹配电路的电容上并联多个预设电容，通过程控开关控制其是否接入电路。控制单元3的功能一个是接收来自于PC4的测试命令，一个是控制信号波形调节单元2产生不同的测试信号。PC4用于给控制单元3发送测试命令，接收测试结果。附图说明图1表示本专利技术的装置的整体框图。图2表示本专利技术中改造前的天线匹配电路图。图3表示本专利技术中改造后的天线匹配电路图。图4表示本专利技术中PC端测试程序流程。图5表示本专利技术中控制单元程序流程。具体实施方式在以下的详细描述中，实施例被足够详细的描述，以使得本领域的技术人员能够实施本专利技术。但以下的详细描述不应该理解为限制意义。本专利技术实施例参照附图4、附图5进行阐述。如附图4所示，设备上电，开始测试时，PC首先调入测试程序，然后发送测试命令给控制单元。如附图5所示，控制单元接收到测试命令、解析测试命令后发送相应的控制信号给信号波形调节单元2。信号波形调节单元2做相应的电容切入或者切出，完成信号波形参数的调节。控制单元接下来发射预期信号信息，通过信号波形调节单元2将信号从测试空间发送给非接触智能卡。智能卡接到信号，做出响应返回给控制单元。控制单元收到信号以后，给PC返回命令执行信息。PC收到信息以后判断此次命令执行情况以及是否为最后一条命令，如果不是最后一条命令则接着以同样的流程执行下一条命令，如果是最后一条命令，则生成测试报告，完成此次测试。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试装置，其特征在于，所述装置由测试空间1、信号波形调节单元2、控制单元3以及PC 4组成，在非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试时，PC 4下达测试指令给控制单元3，控制单元3控制信号波形调节单元2发射相应的测试信号到测试空间1，对测试空间中的非接触智能卡进行相应的信号波形的特征参数的兼容性测试。

【技术特征摘要】
1.一种非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试装置，其特征在于，所述装置由测试空间1、信号波形调节单元2、控制单元3以及PC4组成，在非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试时，PC4下达测试指令给控制单元3，控制单元3控制信号波形调节单元2发射相应的测试信号到测试空间1，对测试空间中的非接触智能卡进行相应的信号波形的特...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘丽丽，
申请(专利权)人：北京中电华大电子设计有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11