一种非接触智能卡测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种非接触智能卡测试装置，包括：成品台、速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置和读卡器组合，其中，所述成品台，用于支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试；所述速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置，分别用于对所述成品台进行相对于所述读卡器组合的距离、角度和/或进场离场速度调节；所述读卡器组合，包括纯非接读卡器和双界面读卡器以及支持非接智能卡读取的机具，用于读取模块形态和/或卡片形态的非接触智能卡。本发明专利技术能够涵盖非接触智能卡的功能及性能测试，通过角度、高度、进场速度等方面控制，实现非接触智能卡的多维度测试，提高非接触智能卡产品的测试覆盖率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试
，尤指一种非接触智能卡测试装置。
技术介绍
非接触智能卡产品，具有传输速度快，交易时间短等特点，特别适用于使用环境恶劣，要求响应速度快、安全性高、功能需求复杂的场合。集成电路在生产中为了保证质量，需要尽可能的提高测试覆盖率。现有的非接触智能卡测试需要涉及到下面几方面问题：非接触智能卡的实场RF性能测试不能支持模块状态，必须封装为卡状态；非接触智能卡的RF性能测试不能够支持多种读卡器类型，多模块，多频次，多角度，多距离，多速度等组合同测；非接触智能卡产品的兼容性测试；自动化测试。目前市场上的非接触智能卡产品测试设备，一部分针对模块形式的产品测试，一部分针对卡片形式的产品测试，且测试功能主要集中在产品电性能及产品本身特点测试，不能模拟实场使用环境，且测试装置不能兼容模块及卡片形式的非接触智能卡产品同测。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种非接触智能卡测试装置，能够涵盖非接触智能卡的功能及性能测试，通过角度、高度、进场速度等方面控制，实现非接触智能卡的多维度测试，提高非接触智能卡产品的测试覆盖率。为了达到本专利技术目的，本专利技术提供了一种非接触智能卡测试装置，包括：成品台、速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置和读卡器组合，其中，所述成品台，用于支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试；所述速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置，分别用于对所述成品台进行相对于所述读卡器组合的距离、角度和/或进场离场速度调节；所述读卡器组合，包括纯非接读卡器或双界面读卡器或支持非接触智能卡读取的机具，用于读取模块形态和/或卡片形态的非接触智能卡。进一步地，所述成品台，通过更换台面来支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试。进一步地，通过单独控制或组合控制所述速度调节装置、角度调节装置和高度调节装置，实现对所述成品台进行相对于所述读卡器组合的距离、角度和/或进场离场速度调节。进一步地，所述非接读卡器是纯非接读卡器或双界面读卡器或专用非接产品测试设备。进一步地，所述非接触智能卡测试装置采用丝扛传动、齿轮齿条传动，通过多轴联动、以及程控装置，实现可编程控制的自动测试。与现有技术相比，本专利技术的测试方案可支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试，可兼容两种形态的产品测试；可模拟实场使用环境进行测试，例如模拟刷卡高度、角度以及进场速度；并可以组合上述条件进行产品功能测试；此外，还可以扩展工作站，支持非接触智能卡产品小批量自动化测试。本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明附图用来提供对本专利技术技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本专利技术的技术方案，并不构成对本专利技术技术方案的限制。图1是本专利技术的一实施例中非接触智能卡测试装置的结构示意图。图2是本专利技术的一实施例中非接触测试工作站的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本专利技术的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。图1是本专利技术的一实施例中非接触智能卡测试装置的结构示意图。如图1所示，该装置包括：非接触测试工作站1、接触测试工作站2、物料传输导轨3、上下物料盘4和摇轮计数器5。其中，非接触测试工作站1，用于支持非接触智能卡的产品测试。接触测试工作站2，用于支持接触智能卡的产品测试。物料传输导轨3，用于传输测试产品。上下物料盘4，用于将测试产品进行上下操作。摇轮计数器5，可以采用手摇轮的摇轮计数器，用于对测试产品进行计数。图2是本专利技术的一实施例中非接触测试工作站的结构示意图。如图2所示，非接触测试工作站包括成品台11、速度调节装置12、角度调节装置13、高度调节装置14和读卡器组合15，其中，成品台11可更换台面，支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试。速度调节装置12、角度调节装置13、高度调节装置14分别可以将成品台进行相对于读卡器的距离、角度和/或进场离场速度调节，即可以将成品台进行相对于读卡器的距离、角度或进场离场速度的单独控制或组合控制。读卡器组合15包括多种类非接读卡器，例如模块形态和/或卡片形态的非接读卡器，用于读取模块形态和/或卡片形态的非接触智能卡，非接读卡器可以是单面非接读卡器或双面非接读卡器。基于图1和图2所示的非接触智能卡测试装置，下面将具体介绍测试工作流程。实施例一针对模块类非接触智能卡产品进行测试。1、将卷带状的IC卡模块放置在本工装上，支持32个模块同测头；2、测试头另一端连接标准天线板，天线板放置在成品台上，成品台下方放置各型号或各类非接读卡器；3、通过上位机软件与PLC通信，控制三组伺服电机传动，实现成品台相对于读卡器的距离、角度、进场离场速度调节及控制，或多种条件组合使用；4、通过调用上位机测试脚本控制读卡器与模块类非接触产品进行功能测试；5、通过使用3、4两种方式的组合，及上位机软件设置实现RF性能的多模块、多频次、多角度，多距离，多速度自动测试。实施例二针对卡片类非接触智能卡产品进行测试。1、将卡片类非接触产品放置在成品台上，成品台下方放置各型号或各类非接读卡器；2、通过上位机软件与PLC通信，控制三组伺服电机传动。实现成品台相对于读卡器的距离、角度、进场离场速度调节及控制，或多种条件组合使用；3、通过调用上位机测试脚本控制读卡器与模块类非接触产品进行功能测试；4、通过使用2、3两种方式的组合，及上位机软件设置实现RF性能的多模块、多频次、多角度，多距离，多速度自动测试。本专利技术提供的非接触智能卡测试装置，测试工装支持多模块、测试头可拆卸、测试工装可扩展；工装测试包括距离、角度、速度并可实现软件自行配置；该工装支持非接触智能本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种非接触智能卡测试装置，其特征在于，包括：成品台、速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置和读卡器组合，其中，所述成品台，用于支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试；所述速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置，分别用于对所述成品台进行相对于所述读卡器组合的距离、角度和/或进场离场速度调节；所述读卡器组合，包括纯非接和/或双界面读卡器和/或支持非接触智能卡读取的机具，用于读取模块形态和/或卡片形态的非接触智能卡。

【技术特征摘要】
1.一种非接触智能卡测试装置，其特征在于，包括：成品台、速度调节
装置、角度调节装置、高度调节装置和读卡器组合，其中，
所述成品台，用于支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品
测试；
所述速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置，分别用于对所述成
品台进行相对于所述读卡器组合的距离、角度和/或进场离场速度调节；
所述读卡器组合，包括纯非接和/或双界面读卡器和/或支持非接触智能
卡读取的机具，用于读取模块形态和/或卡片形态的非接触智能卡。
2.根据权利要求1所述的非接触智能卡测试装置，其特征在于，所述成
品台，通过更换台面来支持非接触智能卡产品的模块...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘硕，雷黎丽，
申请(专利权)人：大唐微电子技术有限公司，大唐半导体设计有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11