兼容多测试平台的双界面智能卡测试系统实现方法技术方案
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及智能卡测试验证领域，特别是涉及一种。
技术介绍
随着智能卡的发展，在金融、社保、交通以及居民健康领域的应用越来越普及，飞速增长的发卡量对智能卡的功能和性能测试验证提出了更高的要求，如何更快的完成在多种多样的读卡器上的测试是其中之一。目前市面上的商用读卡器供应商就有很多家，不同驱动类型的读卡器指令头就不相同。在双界面智能卡的功能和性能测试验证中，需要使用不同的读卡器进行功能和性能的测试和验证，以便可以兼容不同的读卡器。现阶段双界面智能卡的测试会根据不同的读卡器编写相同的测试用例，或者某些测试只能在特定的读卡器上测试。因此对于一个项目会有多套测试脚本，或者某些测试项会强制规定测试平台。在双界面智能卡测试中遇到的另一个问题是多种多样的读卡器参数需要配置，配置读卡器参数的指令每个测试平台都不相同，配置读卡器参数的指令复杂难记，以上这些都加大了工程师对于测试用例开发的难度。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种兼容多测试平台的双界面智能卡测试系统的实现方法，能在不同读卡器之间切换，实现测试脚本的统一，同时能方便、灵活的配置不同读卡器的参...
【技术保护点】
一种兼容多测试平台的双界面智能卡测试系统实现方法，其特征在于：基于运行在windows操作系统上的基于Tcl语言的上端脚本工具，使用Tcl语言编写测试用例，对上端脚本工具支持的驱动完成加载；在配置文件中对支持的不同读卡器进行定义，设置测试平台和通讯接口类型两个全局变量，用期望使用的读卡机和通讯接口类型对所定义的两个全局变量进行赋值，利用Tcl语言伪指令或者手动操作选择与读卡器相匹配的驱动，完成不同测试平台的切换以及配置读卡器参数。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：赵海荣，陈可伟，戴昭君，
申请(专利权)人：上海华虹集成电路有限责任公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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