校准尺寸测量设备的方法技术

一种尺寸测量设备被进一步校准以便改进该设备的初始误差映射或误差函数。在该设备(10)上测量已校准生产工件(14)，并且将测量值与校准值进行比较(44、90)以产生误差值。从这些误差值中的一些或全部与该初始误差映射或函数的全部或部分的组合中产生(46、92)一个或多个经更新的误差映射或函数。接着确定(48、94)经更新的映射或函数是否会产生更好的校正，且如果是的话，选择该经更新的映射或函数以供将来测量。通过选择基于新误差值和现有误差值的组合并且已确定会给出更好校正的误差映射或函数，在正常生产测量的过程期间智能地习得改进的映射或函数。

Method of calibrating size measuring equipment

A size measurement device is further calibrated to improve the initial error mapping or error function of the device. The calibrated production workpieces (14) are measured on the device (10), and the measured values are compared with the calibrated values (44, 90) to produce an error value. Some or all of these error values are combined with all or part of the initial error mapping or function to produce (46, 92) one or more updated error maps or functions. Then we will determine whether (48, 94) whether the updated mapping or function will produce better correction, and if so, we choose the updated mapping or function for future measurement. By selecting a combination of new error and existing error values and determining the error mapping or function that will give better correction, we can acquire the improved mapping or function intelligently during the process of normal production measurement.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】校准尺寸测量设备的方法
本专利技术涉及校准尺寸测量设备的方法。本专利技术可用于校准坐标测量设备，例如坐标测量仪(CMM)、比较测量仪、机床、手动坐标测量臂和检查机器人。
技术介绍
在工件产生之后，已知会在坐标测量设备(例如CMM或比较测量仪)上检查工件，坐标测量设备具有可移动部件，该可移动部件支撑能在该机器的三维工作容积内驱动的探针。CMM(或其它坐标测量设备)可以是所谓的笛卡尔(Cartesian)仪，其中支撑探针的可移动部件经由三个串联连接的滑座而安装，该三个串联连接的滑座分别可在三个正交方向X、Y、Z上移动。这是“串联运动学”运动系统的实例。或者，测量设备可以是例如具有“并联运动学”运动系统的非笛卡尔仪，该“并联运动学”运动系统包括三个或六个可伸展支柱，每个可伸展支柱并联连接在可移动部件与相对固定的基底部件或框架之间。随后通过协调三个或六个支柱的相应伸展来控制可移动部件(因此以及探针)在X、Y、Z工作容积中的移动。在国际专利申请案WO03/006837和WO2004/063579中示出非笛卡尔仪的实例。已知通过产生与坐标测量设备的X、Y、Z工作容积内的不同位置处经历的测量误差相本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种进一步校准尺寸测量设备的方法，所述尺寸测量设备通过初始误差映射或误差函数被校准，所述方法包括：测量所述测量设备上的生产工件，所述生产工件是通过生产过程产生的第一系列标称相同工件中的一个；比较所述生产工件的测量值与从所述测量设备外部的源获得的用于所述生产工件的校准值，以产生一个或多个误差值；确定一个或多个经更新的误差映射或误差函数，所述经更新的误差映射或误差函数将所述误差值中的一些或全部与所述初始误差映射或所述初始误差函数中的全部或部分组合；其特征在于：确定所述经更新的误差映射或误差函数中的一个或多个是否比所述初始误差映射或误差函数更好地校正测量误差；以及如果确定误差映射或误差函数会给出更好...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.03.02 GB 1503490.31.一种进一步校准尺寸测量设备的方法，所述尺寸测量设备通过初始误差映射或误差函数被校准，所述方法包括：测量所述测量设备上的生产工件，所述生产工件是通过生产过程产生的第一系列标称相同工件中的一个；比较所述生产工件的测量值与从所述测量设备外部的源获得的用于所述生产工件的校准值，以产生一个或多个误差值；确定一个或多个经更新的误差映射或误差函数，所述经更新的误差映射或误差函数将所述误差值中的一些或全部与所述初始误差映射或所述初始误差函数中的全部或部分组合；其特征在于：确定所述经更新的误差映射或误差函数中的一个或多个是否比所述初始误差映射或误差函数更好地校正测量误差；以及如果确定误差映射或误差函数会给出更好校正，接着就选择所述误差映射或误差函数以用于校正一个或多个另外的工件的测量值。2.根据权利要求1所述的方法，其中，通过将所述误差值中的仅一些与所述初始误差映射的全部或部分或与所述初始误差函数组合，或通过将所述误差值与所述初始误差映射的仅一部分组合，来确定一个或多个所述经更新的误差映射或误差函数。3.根据权利要求1或权利要求2所述的方法，包含测量一个或多个另外的工件，并且使用所述选定的误差映射或误差函数校正所述一个或多个另外的工件的测量值。4.根据前述权利要求中任一项权利要求所述的方法，其中，所述一个或多个另外的工件包含来自所述第一系列标称相同工件的生产工件。5.根据前述权利要求中任一项权利要求所述的方法，其中，所述一个或多个另外的工件包含来自通过生产过程产生的第二系列标称相同工件的生产工件，其不同于所述第一系列的所述工件。6.根据前述权利要求中任一项权利要求所述的方法，进一步包含：在所述测量设备上测量来自第二系列标称相同工件的生产工件；比较来自所述第二系列的所述生产工件的测量值与从所述测量设备外部的源获得的用于所述生产工件的校准值，以...

【专利技术属性】
技术研发人员：凯文·巴里·乔纳斯，
申请(专利权)人：瑞尼斯豪公司，
类型：发明
国别省市：英国,GB