一种物体尺寸的测量方法技术

本发明专利技术实施例公开了一种物体尺寸的测量方法，包括：在终端显示屏幕上输出测量区域，并接收用户输入的触控指令；响应该触控指令，对该测量区域进行缩放；获取缩放后的测量区域的交点的像素坐标；根据该像素坐标确定缩放后的测量区域的测量数据。可见，本发明专利技术实施例可以通过缩放测量区域与被测量物体的边界匹配，从而可便捷的实现物体尺寸的有效测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子
，尤其涉及一种物体尺寸的测量方法。
技术介绍
随着网络的快速发展以及终端的迅速普及，终端的功能日益强大，如：用户可以利用终端拍照、下载音乐以及访问外部网络数据资源等等。然而，当用户想测量周边某个物体的尺寸(如长和宽)时，终端却只能“爱莫能助”了。目前测量物体尺寸的方法主要是使用测量尺测量。然而，如果不是专业的测量工作人员，通常不会随身携带测量尺，这就造成无法便捷地对物体尺寸进行有效测量。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种物体尺寸的测量方法，能够便捷地实现对物体尺寸的有效测量。本专利技术实施例公开了一种物体尺寸的测量方法，包括：在终端显示屏幕上输出测量区域；接收用户输入的触控指令，其中，所述触控指令用于对所述测量区域进行缩放控制；响应所述触控指令，对所述测量区域进行缩放；获取缩放后的测量区域的交点的像素坐标；根据所述像素坐标确定缩放后的测量区域的测量数据。本专利技术实施例可以在终端显示屏幕上输出测量区域，并接收用户输入的触控指令；响应该触控指令，以对该测量区域进行缩放；获取缩放后的测量区域的交点的像素坐标；根据像素坐标确定缩放后的测量区域的测量数据。可见，本专利技术实施例可以通过缩放测量区域与被测量物体的边界匹配，从而可便捷的实现物体尺寸的有效测量。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要>使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术实施例公开的一种物体尺寸的测量方法的流程示意图；图2a为本专利技术实施例公开的一种测量模式的示意图；图2b为本专利技术实施例公开的另一种测量模式的示意图；图3是本专利技术实施例公开的另一种物体尺寸的测量方法的流程示意图；图4是本专利技术实施例公开的一种终端的结构示意图；图5是本专利技术实施例公开的另一种终端的结构示意图；图6是本专利技术实施例公开的又一种终端的结构示意图；图7是本专利技术实施例公开的又一种终端的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例公开了一种物体尺寸的测量方法，能够便捷地实现对物体尺寸的有效测量，以下分别进行详细说明。请参阅图1，图1是本专利技术实施例公开的一种物体尺寸的测量方法的流程示意图，如图1所示，该物体尺寸的测量方法包括以下步骤：S101、在终端显示屏幕上输出测量区域。本专利技术实施例中，实施该测量方法的终端可以是智能手机、PC、平板电脑、个人数字助理(Personal Digital Assistant，PAD)、以及可穿戴便捷式设备等显示屏幕具有触控功能的终端。本专利技术实施例中，若该测量区域由平行于横轴的第一测量标尺线、平行于横轴的第二测量标尺线、平行于纵轴的第三测量标尺线以及平行于纵轴的第四测量标尺线围成，当需测量物体的长度时，可以移动测量区域的第三测量标尺线和\\或第四测量标尺线，其中，第三测量标尺线与第四测量标尺线与纵轴平行。当需要测量物体的宽度时，可以移动测量区域的第一标测量尺线和\\或第二测量标尺线；其中第一测量标尺线与第二测量标尺线平行于横轴。当需要计算待测物体的面积或周长时，可以同时测量物体的长度、宽度，由该长度值和宽度值计算待测物体的面积或周长。S102、接收用户输入的触控指令，该触控指令用于对测量区域进行缩放控制。本专利技术实施例中，可以在接收到用户输入的开启指令时，进入测量模式输出测量区域，用户可以在显示屏幕上根据被测量物体输入触控指令，放大或缩小测量区域使得测量区域与该被测量物体的边界相匹配。S103、响应该触控指令，对测量区域进行缩放。本专利技术实施例中，该触控指令可以包括第一触控指令、第二触控指令、第三触控指令和第四触控指令中的至少一个，其中，第一触控指令用于控制第一测量标尺线，第二触控指令用于控制第二测量标尺线，第三触控指令用于控制第三测量标尺线，第四触控指令用于控制第四测量标尺线。作为一种可选的实施方式，当触控指令包括第一触控指令时，响应第一触控指令，获取第一触控指令对应的触控轨迹；当该触控轨迹为拖动第一测量标尺线相对于第二测量标尺线向上移动时，放大测量区域；当触控轨迹为拖动第一测量标尺线相对于第二测量标尺线向下移动时，缩小测量区域。作为另一种可选的实施方式，当触控指令包括第二触控指令时，响应第二触控指令，获取第二触控指令对应的触控轨迹；当触控轨迹为拖动第二测量标尺线相对于第一测量标尺线向上移动时，缩小测量区域；当触控轨迹为拖动第二测量标尺线相对于第一测量标尺线向下移动时，放大测量区域。作为一种可选的实施方式，当触控指令包括第三触控指令时，响应第三触控指令，获取第三触控指令对应的触控轨迹；当触控轨迹为拖动第三测量标尺线相对于第四测量标尺线向左移动时，缩小测量区域；当触控轨迹为拖动第三测量标尺线相对于第四测量标尺线向右移动时，放大测量区域。作为另一种可选的实施方式，当触控指令包括第四触控指令时，响应第四触控指令，获取第四触控指令对应的触控轨迹；当触控轨迹为拖动第四测量标尺线相对于第三测量标尺线向左移动时，放大测量区域；当触控轨迹为拖动第四测量标尺线相对于第三测量标尺线向右移动时，缩小测量区域。本专利技术实施例中，上述针对第一测量标尺线和第二测量标尺线的触控指令用于通过缩放测量区域与被测量物体的长度相符，第三测量标尺线和第四测量标尺线的触控指令用于移动测量区域与被测量物体的宽度相符，从而得出被测量物体的长度和宽度。其中，针对第一测量标尺线的第一触控指令和针对第二测量标尺线的第二触控指令可以同时输入，例如，用户利用拇指和食指同时输入的缩放操作手势等。同样的，针对第三测量标尺线的第三触控指令和针对第四测量标尺线的第四触控指令也可以同时输入。S104、获取缩放后的测量区域的交点的像素坐标。本专利技术实施例中，当接收用户输入的触控指令，并对测量区域进行缩放后，可以获取缩放后的测量区域的交点的像素坐标以得到测量区域的长度、宽度。其中，若显示屏幕上测量区域的交点所在的像素为显示屏幕上横轴的第X个像<本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种物体尺寸的测量方法，其特征在于，包括：在终端显示屏幕上输出测量区域；接收用户输入的触控指令，其中，所述触控指令用于对所述测量区域进行缩放控制；响应所述触控指令，对所述测量区域进行缩放；获取缩放后的测量区域的交点的像素坐标；根据所述像素坐标确定缩放后的测量区域的测量数据。

【技术特征摘要】
1.一种物体尺寸的测量方法，其特征在于，包括：
在终端显示屏幕上输出测量区域；
接收用户输入的触控指令，其中，所述触控指令用于对所述测量区域进行
缩放控制；
响应所述触控指令，对所述测量区域进行缩放；
获取缩放后的测量区域的交点的像素坐标；
根据所述像素坐标确定缩放后的测量区域的测量数据。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在终端显示屏幕上输出测
量区域之前，所述方法还包括：
接收用户输入的开启指令，其中，所述开启指令用于触发本端输出测量区
域。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述像素坐标确定缩
放后的测量区域的测量数据之后，所述方法还包括：
以语音和/或文字方式输出确定的测量数据，其中，所述测量数据包括缩放
后的测量区域的长度、宽度和面积中的至少一种。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，若所述测量区域由平行于横轴
的第一测量标尺线、平行于横轴的第二测量标尺线、平行于纵轴的第三测量标
尺线以及平行于纵轴的第四测量标尺线围成，则所述触控指令包括针对所述第
一测量标尺线输入的第一触控指令、针对所述第二测量标尺线输入的第二触控
指令、针对所述第三测量标尺线输入的第三触控指令以及针对所述第四测量标
尺线输入的第四触控指令中的任一种或多种。
5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述响应所述触控指令，以对
所述测量区域进行缩放，包括：
当所述触控指令包括所述第一触控指令时，响应所述第一触控指令，获取
所述第一触控指令对应的触控轨迹；
当所述触控轨迹为拖动所述第一测量标尺线相对于所述第二测量标尺线向
上移动时，放大所述测量区域；
当所述触控轨迹为拖动所述第一测量标尺线相对于所述第二测量标尺线向
下移动时，缩小所述测量区域。
6.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述响应所述触控指令，以对
所述测量区域进行缩放，包括：
当所述触控指令包括所述第二触控指令时，响应所述第二触控指令，获取
所述第二触控指令对应的触控轨迹；
当所述触控轨迹为拖动所述第二测量标尺线相对于所述第一测量标尺线向
上移动时，缩小所述测量区域；
当所述触控轨迹为拖动所述第二测量标尺线相对于所述第一测量标尺线向
下移动时，放大所述测量区域。
7.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李海林，
申请(专利权)人：深圳市金立通信设备有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44