一种微米量级粉末物质微量元素的LIBS分析方法技术

技术编号:16917443 阅读:354 留言:0更新日期:2017-12-31 13:47
本发明专利技术提供了一种微米量级粉末物质中微量元素的激光诱导击穿光谱(LIBS)分析方法。该方法包括样品制备,测试装置的优化及其参数的选择,和测试实验的具体方案。我们的实验测试表明了该方法较传统的粉末压饼进行LIBS测量的方法具有以下优势:1)样品制备简单,在粉末样品的基础上无需笨重压饼机及某些粉末压饼所需的粘合剂;2)在很大程度上减弱甚至消除了饼状粉末样品LIBS分析所固有的基体效应;3)保持了LIBS技术的灵敏性。本发明专利技术所提供的方法适用于各种粉末状(颗粒粒径在35微米以下)物质,和可以通过机械碾磨机粉碎至上述粉末状物质的任何固态状物质。方法的应用领域可以包括但不局限于:工业、材料、环保、食品、医药、化妆品等。

【技术实现步骤摘要】
一种微米量级粉末物质微量元素的LIBS分析方法
本专利技术涉及一种分析微米粉末颗粒物质中微量元素的方法,属于分析测试技术方法领域。
技术介绍
激光诱导击穿光谱(Laser-inducedbreakdownspectroscopy,简称LIBS)由于它自身的技术优势,如无需复杂预处理便可对不同形态的样品进行分析,并快速地获取分析结果等,在工业工程控制及环境保护和相关联的食品安全等领域应用具有极为广阔的应用前景。但是,鉴于特别是环保类样品的多样性及其基体的复杂性,LIBS技术在该领域的应用开发还远远滞后于在其它领域的应用。除了其灵敏度还有待提高之外,比较突出的瓶颈性问题在于所谓的基体效应,即由于不同物质与激光相互作用的机制不同,而引起的在同一实验条件下所产生的等离子体的特性(温度、电子密度等)会不相同。从光谱分析的角度来讲,同一含量的给定元素在不同的基体里(比如说在大米里或土豆里,或在不同质地的土壤里)会发射出不同强度的特征光谱。基体效应是目前LIBS技术进行定量分析的较为显著的困难之一。应为对每一种特定的样品,比如说土壤,对于每一特定地区的土壤,一台分析仪器都需要通过用一组对应的、基体本文档来自技高网...
一种微米量级粉末物质微量元素的LIBS分析方法

【技术保护点】
一种微米量级粉末物质微量元素的LIBS分析方法,其特征在于,包括如下步骤:分别制备实验室标准样品和待测物质样品,将实验室标准样品进行LIBS检测,制作定标曲线;将待测物质样品进行LIBS检测,将检测结果与所述定标曲线进行对比,得到待测元素在待测物质中的含量;其中,所述实验室标准样品的制备方法为:将实验室标准样品粉末与纯净机油混合,得到均匀糊状物,将均匀糊状物置于表面磨光并擦洗干净的基板上,摊成均匀薄膜,所述待测物质样品的制备方法与实验室标准样品的制备方法相同;所述LIBS检测方法为:将所述制备成样品置于激光诱导击穿光谱仪的样品台上进行LIBS检测;其中,所述基板为化学纯的金属板或半导体板。

【技术特征摘要】
1.一种微米量级粉末物质微量元素的LIBS分析方法,其特征在于,包括如下步骤:分别制备实验室标准样品和待测物质样品,将实验室标准样品进行LIBS检测,制作定标曲线;将待测物质样品进行LIBS检测,将检测结果与所述定标曲线进行对比,得到待测元素在待测物质中的含量;其中,所述实验室标准样品的制备方法为:将实验室标准样品粉末与纯净机油混合,得到均匀糊状物,将均匀糊状物置于表面磨光并擦洗干净的基板上,摊成均匀薄膜,所述待测物质样品的制备方法与实验室标准样品的制备方法相同;所述LIBS检测方法为:将所述制备成样品置于激光诱导击穿光谱仪的样品台上进行LIBS检测;其中,所述基板为化学纯的金属板或半导体板。2.如权利要求1所述的微米量级粉末物质微量元素的LIBS分析方法,其特征在于,所述待测物粉末的粒径不超过35μm。3.如权利要求1所述的微米量级粉末物质微量元素的LIBS分析方法,其特征在于,所述金属板为铝板,所述铝板的长度、宽度和高度分别为60mm、30mm和10...

【专利技术属性】
技术研发人员:俞进田野
申请(专利权)人:上海交通大学
类型:发明
国别省市:上海,31

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