脱落检测仪制造技术

本发明专利技术公开一种脱落检测仪，用于检测键盘的键帽，包含底座、移动支架和测试元件，当键盘位于该底座上时，该键盘的至少一行键帽沿该第一方向排列，该底座具有沿该第一方向的相对的第一端和第二端，且该移动支架可相对该底座自该第一端沿第一方向移动至该第二端，当该移动支架自该第一端沿第一方向移动至该第二端时，该测试元件与其中一行待检测元件的多个待检测元件依序接触并抵顶所接触的待检测元件，当该键帽与该本体的实际结合力小于该拉拔力时，该待检测元件脱离该本体。即一行键帽一次性检测完成，方便、快捷。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术描述一种脱落检测仪，尤指一种用于检测键盘的键帽的脱落检测仪。
技术介绍
一般来说，键帽会因组装不良以及结合力不足等情况而发生脱落，为了确保键帽组装在键盘上后可与键盘稳定的结合在一起，以防止使用过程中或运输过程中键帽发生脱离，需要对每颗键帽进行拉拔力测试，即需要对每颗键帽的结合情况进行逐一检查，从而保证键盘的质量。但是，每片键盘上存在很多键帽，操作员肉眼或手动操作不易发现结合不良的键帽，因此，需要对每一键帽实行机械化测试。传统的键帽机械化测试过程中，一般是每次对一个键帽进行检测，然而因常规的单片键盘的键帽个数多的可达104颗，因而此种检测方式，虽然可以满足客户及消费者对品质的严格要求，但是会影响生产效率，进而影响产量，导致很难达到工厂逾期的产量。因此，有必要提供一种新的脱落检测仪，以克服上述缺陷。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种脱落检测仪，既能保证键盘的品质，又不影响产量。为达上述目的，本专利技术提供一种脱落检测仪，用于检测待检测装置的待检测元件的拉拔力，该待检测装置具有本体和设置于该本体上的至少一行待检测元件，该脱落检测仪包含：底座，用于放置该待检测装置，当该待检测装置位于该底座上时，该至少一行待检测元件沿第一方向排列，且该底座具有于该第一方向上的相对的第一端和第二端，该第一方向平行于该本体所在的平面；移动支架，设置于该底座上方，并且可相对该底座沿该第一方向移动；测试元件，设置在该移动支架上，该测试元件用以向该待检测元件提供第二方向上的力，其中，该第二方向为该待检测元件脱离该本体的方向；其中，当该移动支架自该第一端沿该第一方向移动至该第二端时，该测试元件自该第一端沿该第一方向移动至该第二端，且在移动过程中，该测试元件与其中一行待检测元件的多个待检测元件依序接触并抵顶所接触的待检测元件，以施加该第二方向上的拉拔力于该所接触的待检测元件上，当该所接触的待检测元件与该本体的实际结合力小于该拉拔力时，该所接触的待检测元件脱离该本体。较佳的，该移动支架沿第三方向横跨该基座，其中，该第三方向垂直于该第一方向且平行于该本体所在的平面。较佳的，该待检测装置包括多行待检测元件，该各行待检测元件之间沿该第三方向排列，该脱落检测仪包括多个测试元件，该多个测试元件沿该第三方向排列设置于该移动支架上，各测试元件具有间隙并对应于该多行待检测元件进行配置。较佳的，当该移动支架自该第一端沿该第一方向移动至该第二端时，每一行待检测元件分别与一个测试元件接触。较佳的，该待检测装置包括多行待检测元件，该移动支架包括第一移动支架和第二移动支架，该第一移动支架沿第三方向横跨该基座，且该第一移动支架上设置有多个测试元件，各测试元件具有间隙并对应于该多行待检测元件进行配置；该第二移动支架沿该第三方向横跨该基座，且该第二移动支架上设置有多个测试元件，该第二移动支架上的多个测试元件沿该第三方向排列，各测试元件具有间隙并对应于该多行待检测元件进行配置，当该移动支架自该第一端沿该第一方向移动至该第二端时，该第一移动支架上的每一个测试元件分别与一行待检测元件接触，该第二移动支架上的每一个测试元件分别与一行待检测元件接触，其中，该第三方向垂直于该第一方向、且平行于该本体所在的平面。较佳的，该第一移动支架上的测试元件的个数等于该待检测元件的行数，该第二移动支架上的测试元件的个数等于该待检测元件的行数。较佳的，该第一移动支架和该第二移动支架沿该第一方向排列，且该第一移动支架和该第二移动支架之间具有第一预设间距，以使该第一移动支架上的多个测试片与该第二移动支架上的多个测试片互不干涉，当该第一移动支架上的测试元件与该待检测装置的第一待检测元件接触时，该第二移动支架上的测试元件与该待检测装置的第二待检测元件接触，该第二待检测元件较该第一待检测元件靠近该第一端，该第一待检测元件与该第二待检测元件沿该第一方向排列并位于同一行。较佳的，每一个待检测元件具有相对的第一侧和第二侧，该第一移动支架上的每一个测试元件分别与该待检测元件的该第一侧相抵顶，该第二移动支架上的每一个测试元件分别与该待检测元件的该第二侧相抵顶，于同一时刻，该第一移动支架上的任一测试元件与该第二移动支架上的任一测试元件接触于相异的两个待检测元件。较佳的，当该移动支架沿该第一方向移动时，该第一移动支架上的测试元件相对该本体所在的平面倾斜第一预设角度，该第二移动支架上的测试元件相对该待检测装置所在的平面倾斜第二预设角度，以向该待检测元件提供该第二方向上的拉拔力，其中，该第一预设角度和该第二预设角度介于0度至90度之间。较佳的，该第一预设角度和该第二预设角度均为45度。较佳的，该测试元件与该移动支架固定连接，且该测试元件与该待检测元件滑动接触；或者，该测试元件与该移动支架活动连接，且该测试元件与该待检测元件滚定接触。较佳的，该待检测元件具有凸起部，当该测试元件与该待检测元件接触时，该测试元件位于该凸起部和该本体之间且抵顶该凸起部，以向该待检测元件提供该第二方向上的拉拔力；或者，该待检测元件与该本体之间具有第一间隙，当该测试元件与该待检测元件接触时，该测试元件位于该第一间隙内且该测试元件抵顶该待检测元件，以向该待检测元件提供该第二方向上的拉拔力。较佳的，该测试元件为片状、圆柱状、棍棒或者圆针状。较佳的，还包括驱动装置，用以驱动该移动支架移动。较佳的，还包括感测装置和处理模块，该处理模块耦接于该感测装置和该感测装置，该感测装置用于感测该待检测装置，当该待检测装置脱离该底座时，该感测装置发送第一信号给该处理模块，该处理模块根据该第一信号控制该驱动装置驱动该移动支架返回该第一端；当该处理模块收到第二信号时，该处理模块根据该第二信号控制该驱动装置驱动该移动支架自该第一端移动至该第二端。较佳的，该待检测装置为键盘，该待检测元件为键帽。与现有技术相比，本专利技术提一种脱落检测仪，用于检测键盘的键帽，包含底座、移动支架和测试元件，当键盘位于该底座上时，该键盘的至少一行键帽沿该第一方向排列，该底座具有沿该第一方向的相对的第一端和第二端，且该移动支架可相对该底座自该第一端沿第一方向移动至该第二端，当该移动支架自该第一端沿第一方向移动至该第二端时，该测试元件与其中一行键帽的多个键帽依序接触并抵顶所接触的键帽，以施加该第二方向上的拉拔力于该所接触的键帽上，当该键帽与该本体的实际结合力小于该拉本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种脱落检测仪，用于检测待检测装置的待检测元件的拉拔力，该待检测装置具有本体和设置于该本体上的至少一行待检测元件，其特征在于，该脱落检测仪包含：底座，用于放置该待检测装置，当该待检测装置位于该底座上时，该至少一行待检测元件沿第一方向排列，且该底座具有于该第一方向上的相对的第一端和第二端，该第一方向平行于该本体所在的平面；移动支架，设置于该底座上方，并且可相对该底座沿该第一方向移动；测试元件，设置在该移动支架上，该测试元件用以向该待检测元件提供第二方向上的拉拔力，其中，该第二方向为该待检测元件脱离该本体的方向；其中，当该移动支架自该第一端沿该第一方向移动至该第二端时，该测试元件自该第一端沿该第一方向移动至该第二端，且在移动过程中，该测试元件与其中一行待检测元件的多个待检测元件依序接触并抵顶所接触的待检测元件，以施加该第二方向上的拉拔力于该所接触的待检测元件上，当该所接触的待检测元件与该本体的实际结合力小于该拉拔力时，该所接触的待检测元件脱离该本体。

【技术特征摘要】
1.一种脱落检测仪，用于检测待检测装置的待检测元件的拉拔力，该待检
测装置具有本体和设置于该本体上的至少一行待检测元件，其特征在于，该脱
落检测仪包含：
底座，用于放置该待检测装置，当该待检测装置位于该底座上时，该至少
一行待检测元件沿第一方向排列，且该底座具有于该第一方向上的相对的第一
端和第二端，该第一方向平行于该本体所在的平面；
移动支架，设置于该底座上方，并且可相对该底座沿该第一方向移动；
测试元件，设置在该移动支架上，该测试元件用以向该待检测元件提供第
二方向上的拉拔力，其中，该第二方向为该待检测元件脱离该本体的方向；
其中，当该移动支架自该第一端沿该第一方向移动至该第二端时，该测试
元件自该第一端沿该第一方向移动至该第二端，且在移动过程中，该测试元件
与其中一行待检测元件的多个待检测元件依序接触并抵顶所接触的待检测元
件，以施加该第二方向上的拉拔力于该所接触的待检测元件上，当该所接触的
待检测元件与该本体的实际结合力小于该拉拔力时，该所接触的待检测元件脱
离该本体。
2.如权利要求1所述的脱落检测仪，其特征在于，该移动支架沿第三方向
横跨该基座，其中，该第三方向垂直于该第一方向且平行于该本体所在的平面。
3.如权利要求2所述的脱落检测仪，其特征在于，该待检测装置包括多行
待检测元件，各行待检测元件之间沿该第三方向排列，该脱落检测仪包括多个
测试元件，该多个测试元件沿该第三方向排列设置于该移动支架上，各测试元
件具有间隙并对应于该多行待检测元件进行配置。
4.如权利要求3所述的脱落检测仪，其特征在于，当该移动支架自该第一
端沿该第一方向移动至该第二端时，每一行待检测元件分别与一个测试元件接
触。
5.如权利要求1所述的脱落检测仪，其特征在于，该待检测装置包括多行
待检测元件，该移动支架包括第一移动支架和第二移动支架，该第一移动支架
沿第三方向横跨该基座，且该第一移动支架上设置有多个测试元件，各测试元
件具有间隙并对应于该多行待检测元件进行配置；该第二移动支架沿该第三方
向横跨该基座，且该第二移动支架上设置有多个测试元件，该第二移动支架上
的多个测试元件沿该第三方向排列，各测试元件具有间隙并对应于该多行待检
测元件进行配置，当该移动支架自该第一端沿该第一方向移动至该第二端时，
该第一移动支架上的每一个测试元件分别与一行待检测元件接触，该第二移动
支架上的每一个测试元件分别与一行待检测元件接触，其中，该第三方向垂直
于该第一方向、且平行于该本体所在的平面。
6.如权利要求5所述的脱落检测仪，其特征在于，该第一移动支架上的测
试元件的个数等于该待检测元件的行数，该第二移动支架上的测试元件的个数
等于该待检测元件的行数。
7.如权利要求5所述的脱落检测仪，其特征在于，该第一移动支架和该第
二移动支架沿该第一方向排列，且该第一移动支架和该...

【专利技术属性】
技术研发人员：边蹬峰，刘孟秋，田元昭，
申请(专利权)人：重庆达方电子有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆;50