脱落检测仪制造技术

本发明专利技术公开一种脱落检测仪，用于检测键盘的键帽，包括基座、移动支架以及设置与该移动支架上的测试结构和限位结构，当该移动支架相对该待测试装置自该键盘的第一端移动至该键盘的第二端，使得该测试结构和该限位结构相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端，且在移动过程中，该测试结构对该待测试元件施加该第一方向上的力，该限位结构限制受该第一方向力的该待测试装置于该第一方向上的移动，且该测试结构和该限位结构不同时与相同的该待测试元件相作用，即本发明专利技术在测试时可以防止受力键盘被带起而降低检出率，降低漏检风险。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术描述一种脱落检测仪，尤指一种用于检测键盘的键帽的脱落检测仪。
技术介绍
一般来说，键帽会因组装不良以及结合力不足等情况而发生脱落，为了确保键帽组装在键盘上后可与键盘稳定的结合在一起，以防止使用过程中或运输过程中键帽发生脱离，需要对每颗键帽进行拉拔力测试，即需要对每块键帽的结合情况进行逐一检查，从而保证键盘的质量。在对键帽的结合情况进行检测时，需要向键帽提供一个预设的拉拔力，若受力的该键帽未脱落，则表示该键帽的结合情况良好，反之，则表示结合情况不达标。但是，在检测过程中，会发生键帽受拉拔力而使得整个键盘被带起的情况，此种情况会使得结合情况不合格的键帽无法被检出，导致检出率较低，检测的可靠性降低，进而降低产品品质，无法满足客户及消费者对品质的严格要求。因此，有必要提供一种新的脱落检测仪，以克服上述缺陷。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种脱落检测仪，可避免检测过程中键盘被带起而导致检出率降低的情况。为达上述目的，本专利技术提供一种脱落检测仪，用于检测待检测装置的待检测元件的拉拔力，该待检测装置包括本体和设置于该本体上的多个待检测元件，该待测试装置具有相对的第一端和第二端，该脱落检测仪包含：基座，用于放置该待测试装置；移动支架，设置于该基座上方，并可相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端；测试结构，设置于该移动支架上，用以向该待检测元件提供第一方向上的力，其中，该第一方向为该待检测元件脱离该本体的方向；以及限位结构，设置于该移动支架上且位于该待测试元件的上方，用于与该待测试元件相配合；其中，该移动支架相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端，使得该测试结构和该限位结构相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端，且在移动过程中，该测试结构对该待测试元件施加该第一方向上的力，该限位结构限制受该第一方向力的该待测试装置于该第一方向上的移动，且该测试结构和该限位结构不同时与相同的该待测试元件相作用。较佳的，该限位结构包括支撑结构和限位部，该支撑结构的第三端用以与该移动支架相连接，该支撑结构的第四端用以与该限位部相连接，该限位部用以与该待测试元件相配合，其中，该第三端与该第四端相对。较佳的，该支撑结构与该移动支架枢接，该支撑结构可相对该移动支架移动以调节该限位部与该待测试元件之间的距离。较佳的，该限位结构可相对该移动支架旋转，以调节该限位部与该待测试元件之间的距离。较佳的，该限位结构相对该移动支架绕第一轴方向旋转，该第一轴方向为该限位部的设置方向。较佳的，该支撑结构穿设于该移动支架，该支撑结构相对该移动支架移动，实现该限位部与该待测试元件之间的距离的调节。较佳的，该支撑结构可相对该移动支架沿该第一方向移动，以调节该限位部与该待测试元件之间的距离。较佳的，该限位部与该待测试元件之间具有第一预设间距，或者该限位部与该待测试元件相接触。较佳的，该限位部与该待测试元件滑动配合；或者，该限位部为滚轴设计，以与该待测试元件滚动配合。较佳的，该限位部沿第二方向横跨该待测试元件，该第二方向平行于该待测试装置所在的平面且垂直于该第一端指向该第二端的方向。较佳的，该待测试装置为键盘，该待测试元件为键帽。与现有技术相比，本专利技术提供一种脱落检测仪，用于检测键盘的键帽，包括基座、移动支架以及设置与该移动支架上的测试结构和限位结构，当该移动支架相对该待测试装置自该键盘的第一端移动至该键盘的第二端，使得该测试结构和该限位结构相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端，且在移动过程中，该测试结构对该待测试元件施加该第一方向上的力，该限位结构限制受该第一方向力的该待测试装置于该第一方向上的移动，且该测试结构和该限位结构不同时与相同的该待测试元件相作用，即本专利技术在测试时可以防止受力键盘被带起而降低检出率，降低漏检风险。附图说明图1为本专利技术第一实施例的脱落检测仪100的结构示意图。图2为本专利技术第二实施例的脱落检测仪100的结构示意图。具体实施方式为使对本专利技术的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解，兹配合实施例详细说明如下。参照图1和图2所示，揭示了本专利技术脱落检测仪100的结构示意图。图1为本专利技术第一实施例的脱落检测仪100的结构示意图，图2为本专利技术第二实施例的脱落检测仪100的结构示意图。本专利技术脱落检测仪100用于检测待检测装置的待检测元件的拉拔力，本实施例中，该待检测装置为键盘10，该待检测元件为键帽101，但不以此为限，脱落检测仪100亦可以用于检测其它元件与其本体的结合牢固程度，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。其中，键盘10具有本体102和设置于本体102上的键帽101。进一步的，键盘10具有相对的第一端103和第二端104。本专利技术脱落检测仪100包括底座11、移动支架12、测试结构13和限位结构14。下面对脱落检测仪100的各组件的具体功能进行描述。另外，为便于说明，特定义具有两两彼此垂直的X轴、Y轴以及Z轴，其中该X轴、该Y轴共同限定本体102所在的平面，第一端103和第二端104为键盘10的沿该X轴方向的相对的两端。底座11用于放置键盘10。较佳的，底座11具有容置空间，该容置空间用于容置并定位键盘10，且该容置空间的形状与键盘10的形状相匹配，以定位键盘10，防止键盘10于水平方向上的移动，便于对键盘10的键帽101的检测，以避免在检测过程中因键盘10发生水平方向的移动导致的脱落检测仪或键盘10受到损坏。移动支架12设置于底座11上方，并且可相对键盘10自第一端103移动至第二端104。测试结构13设置在移动支架12上，测试结构13用以向键帽101提供第一方向上的力，其中，该第一方向为键帽101脱离本体102的方向，例如该第一方向为图1中该Z轴方向。进一步的，测试结构13包括一个或者多个测试元件，
但不以此为限。其中，测试结构13可以是任何可以给键帽101施加该第一方向的力的结构，例如为可提供该第一方向的力的结构，或者为卡勾、拨片、棒状等结构，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不在赘述。限位结构14设置于移动支架12上且位于键帽101的上方，用于与键帽101相配合，以限制键盘10于该第一方向上的移动。且移动支架12于该X轴方向上具有相对的两侧，限位结构14可以设置于两侧，也可以设置于移动支架12的两侧的中间位置，具体由设计人员根据实际请客而定，在此不再赘述。于测试时，首先将键盘10放置于底座11上，然后控制移动支架12相对键盘10自第一端103移动至第二端104，使得测试结构13和限位结构14相对键盘10自第一端103移动至第二端104，于移动过程中，测试结构13与键帽101接触，且在接触时测试结构13对键帽101施加该第一方向上的拉拔力于键帽101上，以对键帽101进行拉拔力测试，同时，限位结构14限制受该第一方向力的键盘10于该第一方向上的移动，防止检测过程中键盘10被测试结构13带起而使得与本体102结合力小于该拉拔力的键帽101无法被检出，可提高检出率和检测的可靠性，进而提高产品品质和竞争力，且可满足客户及消费者对品质的严格要求。并且，由于限位结构14是与键帽101配合来限制键盘10于该第一方向上的移动，而测试结构13是向键帽101施加该第一方向上的力，因此测试结构13和限位结构14不能本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种脱落检测仪，用于检测待检测装置的待检测元件的拉拔力，该待检测装置包括本体和设置于该本体上的多个待检测元件，该待测试装置具有相对的第一端和第二端，其特征在于，该脱落检测仪包含：基座，用于放置该待测试装置；移动支架，设置于该基座上方，并可相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端；测试结构，设置于该移动支架上，用以向该待检测元件提供第一方向上的力，其中，该第一方向为该待检测元件脱离该本体的方向；以及限位结构，设置于该移动支架上且位于该待测试元件的上方，用于与该待测试元件相配合；其中，该移动支架相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端，使得该测试结构和该限位结构相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端，且在移动过程中，该测试结构对该待测试元件施加该第一方向上的力，该限位结构限制受该第一方向力的该待测试装置于该第一方向上的移动，且该测试结构和该限位结构不同时与相同的该待测试元件相作用。

【技术特征摘要】
1.一种脱落检测仪，用于检测待检测装置的待检测元件的拉拔力，该待检测装置包括本体和设置于该本体上的多个待检测元件，该待测试装置具有相对的第一端和第二端，其特征在于，该脱落检测仪包含：基座，用于放置该待测试装置；移动支架，设置于该基座上方，并可相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端；测试结构，设置于该移动支架上，用以向该待检测元件提供第一方向上的力，其中，该第一方向为该待检测元件脱离该本体的方向；以及限位结构，设置于该移动支架上且位于该待测试元件的上方，用于与该待测试元件相配合；其中，该移动支架相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端，使得该测试结构和该限位结构相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端，且在移动过程中，该测试结构对该待测试元件施加该第一方向上的力，该限位结构限制受该第一方向力的该待测试装置于该第一方向上的移动，且该测试结构和该限位结构不同时与相同的该待测试元件相作用。2.如权利要求1所述的脱落检测仪，其特征在于，该限位结构包括支撑结构和限位部，该支撑结构的第三端用以与该移动支架相连接，该支撑结构的第四端用以与该限位部相连接，该限位部用以与该待测试元件相配合，其中，该第三端与该第四端相对。3.如权利要求2所述的脱落检测仪，其特征在于，该支撑结构与该移动支架枢接，...

【专利技术属性】
技术研发人员：周云峰，王运涛，张驰，
申请(专利权)人：淮安达方电子有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32