一种RRU测试系统和方法技术方案

本发明专利技术属于移动通信技术领域，公开了一种RRU测试系统和方法，系统包括：待测试RRU、测试计算机、衰减器、功分器、频谱仪、信号源、交换机；方法包括：启动RRU；RRU进入测试状态，执行DDR自检；RRU接收测试命令；RRU进行下行链路测试；RRU进行上行链路测试；RRU进行光链路测试。本发明专利技术解决了现有技术中RUU设备测试的复杂度和难度较大、测试造成的资源浪费较大、测试需要新增开发额外的设备的问题，达到了降低测试的复杂度和难度，减少测试资源浪费、不用新增开发额外的设备的技术效果。

A RRU testing system and method

The invention belongs to the field of mobile communication technology, and discloses a RRU testing system and method, system includes: Test RRU, test computer, attenuator, power divider, spectrum analyzer, signal source and method includes: starting switch; RRU; RRU in test, DDR test; RRU receiver test command; RRU for the downlink RRU uplink test; test; RRU optical link test. The invention solves the complexity and difficulty of testing, RUU test equipment in the prior art, the waste of resources caused by large test needs new development of additional equipment, to reduce the complexity and difficulty of testing, reduce the waste of resources, technical effect without testing new development of additional equipment.

【技术实现步骤摘要】
一种RRU测试系统和方法
本专利技术涉及移动通信
，尤其涉及一种RRU测试系统和方法。
技术介绍
随着LTE的大规模商用，RRU设备的需求量急剧增加，对各RRU设备供应商的单日产能提出了新的需求，而RRU设备的测试成为制约RRU设备单日产能的瓶颈。目前进行RRU测试有两种通用的做法：一种是搭建eNodeB系统，通过BBU的光接口连接RRU发送下行信号和接受上行信号进行测试。这种方法，首先，由于eNodeB网元多，系统搭建复杂，测试异常时定位困难，因此会导致测试的复杂度和难度较大；其次，随着单日产能的增加，需要大量的eNodeB系统进行RRU测试，因此会造成资源的浪费。另一种是开发模拟BBU系统替代eNodeB系统，通过模拟IR接口功能发送下行信号和接受上行信号进行测试，这种方法的缺点是需要新增开发额外的设备。
技术实现思路
本申请实施例通过提供一种RRU测试系统和方法，解决了现有技术中RUU设备测试的复杂度和难度较大、测试造成的资源浪费较大、测试需要新增开发额外的设备的问题。本申请实施例提供一种RRU测试系统，包括：待测试RRU、测试计算机、衰减器、功分器、频谱仪、信号源、交换机；所述测试计算机内安装有上层测试软件；所述待测试RRU、所述测试计算机、所述频谱仪、所述信号源分别通过网线与所述交换机相连；所述待测试RRU、所述衰减器、所述功分器依次通过射频线缆连接；所述功分器通过射频线缆分别与所述频谱仪、所述信号源连接；所述待测试RRU的Trig端口与所述频谱仪的Trig端口连接，所述待测试RRU的Ref端口与所述频谱仪的10M参考输出信号端口连接；所述频谱仪的10M参考输入信号端口与所述信号源的10M参考输出信号端口连接；所述待测试RRU通过光纤连接第一光口的接收端和发送端；所述待测试RRU通过光纤连接第二光口的接收端和发送端。优选的，所述待测试RRU包括：中央处理器CPU、Flash存储器、双倍速率同步动态随机存储器DDR、现场可编辑门阵列FPGA、下行链路模块、上行链路模块、光链路模块；所述FPGA通过局部总线LocalBUS与CPU连接，所述FPGA与所述DDR连接，所述FPGA分别与下行链路模块、上行链路模块、光链路模块连接；所述CPU与Flash连接，下行测试数据固化在Flash中；所述FPGA包括MIG模块、DUC模块、CFR模块、DPD模块、DDC模块、IR接口。另一方面，本申请实施例提供一种RRU测试方法，包括以下步骤：启动待测试RRU，通过上层测试软件发送进入测试状态命令；所述待测试RRU接收所述进入测试状态命令，进入测试状态，执行DDR自检；若所述DDR自检不通过，则输出DDR故障信息并退出测试；若所述DDR自检通过，则所述上层测试软件发送测试命令，所述测试命令包括下行链路测试命令、上行链路测试命令、光链路测试命令；所述待测试RRU接收所述测试命令，进行链路测试，所述链路测试包括下行链路测试、上行链路测试、光链路测试；所述下行链路测试包括：RRU配置下行参数，DDR启动发送下行测试数据功能，测试计算机通过网口控制频谱仪进行下行链路信号指标测试；所述上行链路测试包括：RRU配置上行参数，测试计算机通过网口控制信号源发送上行测试数据到所述待测试RRU，DDR启动数据采集功能，将采集的数据传输至所述测试计算机，通过所述测试计算机进行上行链路信号指标测试；所述光链路测试采用光纤环回的方式测试光链路的连通性。优选的，所述DDR自检包括：测试DDR读写是否正常，自检逻辑测试数据写入、读出，比较判断数据写入、读出是否一致。优选的，所述RRU配置下行参数包括配置RRU载波频率、载波带宽、输出功率。优选的，所述下行链路测试中CPU将固化在Flash中的下行测试数据通过LocalBUS和MIG模块导入DDR中；FPGA将所述下行测试数据经由DUC模块、CFR模块、DPD模块进行处理后，发送至下行链路模块并输出射频信号；上层测试软件控制所述频谱仪进行下行链路信号指标测试，包括载波功率、邻信道功率比、误差向量幅度；测试并记录后关闭DDR发送功能。优选的，所述RRU配置上行参数包括配置RRU载波频率、载波带宽。优选的，所述上行链路测试中CPU通过LocalBUS控制FPGA内部数据接收模块将DDC模块输出的数据通过MIG模块导入DDR中；CPU将DDR中的数据上传至所述测试计算机；上层测试软件进行上行链路信号指标测试，包括测试上行数据是否能解调；测试并记录后关闭DDR数据采集功能。优选的，所述光链路测试包括：RRU配置光链路参数；光链路测试中CPU设置IR接口启动8B10B码发数；IR接口收数识别周期内错误码型个数；CPU采集错误码型个数并传输至测试计算机；上层测试软件记录码型错误数据；关闭IR接口发数和收数识别功能。优选的，所述RRU配置光链路参数包括配置光口数据速率为10Gbps。本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：在本申请实施例中，只需待测试RRU和测试仪表即可实现RRU系统测试，不用搭建复杂的测试系统(如eNodeB系统)，不需要开发额外的设备(如模拟BBU系统)，因此，本专利技术有效地降低了RUU设备测试的复杂度和难度，减少了测试的资源浪费、不需要新增开发额外的设备。附图说明为了更清楚地说明本实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一个实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种RRU测试系统的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种RRU测试系统中RRU的内部框图；图3为本专利技术实施例中提供的一种RRU测试方法的流程图。具体实施方式本申请实施例通过提供一种RRU测试系统和方法，解决了现有技术中RUU设备测试的复杂度和难度较大、测试造成的资源浪费较大、测试需要新增开发额外的设备的问题。本申请实施例的技术方案为解决上述技术问题，总体思路如下：一种RRU测试系统，包括：待测试RRU、测试计算机、衰减器、功分器、频谱仪、信号源、交换机；所述测试计算机内安装有上层测试软件；所述待测试RRU、所述测试计算机、所述频谱仪、所述信号源分别通过网线与所述交换机相连；所述待测试RRU、所述衰减器、所述功分器依次通过射频线缆连接；所述功分器通过射频线缆分别与所述频谱仪、所述信号源连接；所述待测试RRU的Trig端口与所述频谱仪的Trig端口连接，所述待测试RRU的Ref端口与所述频谱仪的10M参考输出信号端口连接；所述频谱仪的10M参考输入信号端口与所述信号源的10M参考输出信号端口连接；所述待测试RRU通过光纤连接第一光口的接收端和发送端；所述待测试RRU通过光纤连接第二光口的接收端和发送端。一种RRU测试方法，包括以下步骤：启动待测试RRU，通过上层测试软件发送进入测试状态命令；所述待测试RRU接收所述进入测试状态命令，进入测试状态，执行DDR自检；若所述DDR自检不通过，则输出DDR故障信息并退出测试；若所述DDR自检通过，则所述上层测试软件发送测试命令，所述测试命令包括下行链路测试命令、上行链路测试命令、光链路测试命令；所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种RRU测试系统，其特征在于，包括：待测试RRU、测试计算机、衰减器、功分器、频谱仪、信号源、交换机；所述测试计算机内安装有上层测试软件；所述待测试RRU、所述测试计算机、所述频谱仪、所述信号源分别通过网线与所述交换机相连；所述待测试RRU、所述衰减器、所述功分器依次通过射频线缆连接；所述功分器通过射频线缆分别与所述频谱仪、所述信号源连接；所述待测试RRU的Trig端口与所述频谱仪的Trig端口连接，所述待测试RRU的Ref端口与所述频谱仪的10M参考输出信号端口连接；所述频谱仪的10M参考输入信号端口与所述信号源的10M参考输出信号端口连接；所述待测试RRU通过光纤连接第一光口的接收端和发送端；所述待测试RRU通过光纤连接第二光口的接收端和发送端。

【技术特征摘要】
1.一种RRU测试系统，其特征在于，包括：待测试RRU、测试计算机、衰减器、功分器、频谱仪、信号源、交换机；所述测试计算机内安装有上层测试软件；所述待测试RRU、所述测试计算机、所述频谱仪、所述信号源分别通过网线与所述交换机相连；所述待测试RRU、所述衰减器、所述功分器依次通过射频线缆连接；所述功分器通过射频线缆分别与所述频谱仪、所述信号源连接；所述待测试RRU的Trig端口与所述频谱仪的Trig端口连接，所述待测试RRU的Ref端口与所述频谱仪的10M参考输出信号端口连接；所述频谱仪的10M参考输入信号端口与所述信号源的10M参考输出信号端口连接；所述待测试RRU通过光纤连接第一光口的接收端和发送端；所述待测试RRU通过光纤连接第二光口的接收端和发送端。2.根据权利要求1所述的RRU测试系统，其特征在于，所述待测试RRU包括：中央处理器CPU、Flash存储器、双倍速率同步动态随机存储器DDR、现场可编辑门阵列FPGA、下行链路模块、上行链路模块、光链路模块；所述FPGA通过局部总线LocalBUS与CPU连接，所述FPGA与所述DDR连接，所述FPGA分别与下行链路模块、上行链路模块、光链路模块连接；所述CPU与Flash连接，下行测试数据固化在Flash中；所述FPGA包括MIG模块、DUC模块、CFR模块、DPD模块、DDC模块、IR接口。3.一种RRU测试方法，其特征在于，包括以下步骤：启动待测试RRU，通过上层测试软件发送进入测试状态命令；所述待测试RRU接收所述进入测试状态命令，进入测试状态，执行DDR自检；若所述DDR自检不通过，则输出DDR故障信息并退出测试；若所述DDR自检通过，则所述上层测试软件发送测试命令，所述测试命令包括下行链路测试命令、上行链路测试命令、光链路测试命令；所述待测试RRU接收所述测试命令，进行链路测试，所述链路测试包括下行链路测试、上行链路测试、光链路测试；所述下行链路测试包括：RRU配置下行参数，DDR启动发送下行测试数据功能，测试计算机通过网口控制频谱仪进行下行链路信号指标测试；...

【专利技术属性】
技术研发人员：何涛勇，杨浩，刘永飘，向奇，陈付齐，
申请(专利权)人：武汉虹信通信技术有限责任公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42