一种非易失存储器坏块测试方法及系统技术方案
Method and system for testing bad block of non-volatile memory
A nonvolatile memory bad block test method and system, relates to the technical field of data memory, the method includes providing a nonvolatile memory without a bad block; marking non-volatile memory on at least one block for bad blocks; burning of embedded software to nonvolatile memory; observation of embedded software is normal operation; if embedded software can not run normally, then the detection of embedded software failure. The invention can provide a better simulated production testing method, early warning problems, timely detection and timely solution, improve the reliability of the software, and save the cost.
【技术实现步骤摘要】
一种非易失存储器坏块测试方法及系统
本专利技术涉及数据闪存
，尤其是，本专利技术涉及一种非易失存储器坏块测试方法及系统。
技术介绍
数据记录技术，一直是国内、外在航空、航天、航海等领域研究的关键技术之一。实际应用中，需要将采集到的高速实时数据(比如高分辨率图像数据)实时地记录下来以便事后处理。随着采集数据精度的提高以及记录参数的增多，需要记录的数据量急剧增加、数据传输速率也越来越高。这使记录设备在实时、超大容量、可靠性等方面的研究成为了热点，这就需要采用大容量的NandFlash非易失存储器。NandFlash是一种非易失性存储，物理存储结构以块(block)为单位，每个块(block)中又分为多个页(page)，每个页(page)中还有额外添加的带外数据(OOB数据)，用于校验当前页(page)的数据内容和标记坏块。NandFlash在出厂后，会在随机位置出现一些坏块。坏块，简单来说就是NandFlash上有些地址段无法读写。而坏块是以块(block)为单位，块(block)上只要有一个页(page)无法读写，那么整个块(block)都会标记为坏块。烧录器...
【技术保护点】
一种非易失存储器坏块测试方法，所述方法包括：S1：提供一个没有坏块的非易失存储器；S2：标记所述非易失存储器上至少一个块为坏块；S3：烧录嵌入式软件至所述非易失存储器；S4：观察嵌入式软件是否正常运行；若所述嵌入式软件不能正常运行，则检测所述嵌入式软件不合格。
【技术特征摘要】
1.一种非易失存储器坏块测试方法，所述方法包括：S1：提供一个没有坏块的非易失存储器；S2：标记所述非易失存储器上至少一个块为坏块；S3：烧录嵌入式软件至所述非易失存储器；S4：观察嵌入式软件是否正常运行；若所述嵌入式软件不能正常运行，则检测所述嵌入式软件不合格。2.根据权利要求1所述的一种非易失存储器坏块测试方法，其特征在于，在执行步骤S2前，将所述非易失存储器内容全片擦除。3.根据权利要求2所述的一种非易失存储器坏块测试方法，其特征在于：在执行步骤S2时，将标记的块上的数据均写为空值。4.根据权利要求3所述的一种非易失存储器坏块测试方法，其特征在于：在执行步骤S3时，烧录过程遇到标记的块，跳过标记的块到下一个块进行烧录，将需要写入至所述块的数据写入至所述块的下一个块中。5.根据权利要求4所述的一种非易失存储器坏块测试方法，其特征在于：在执行步骤S4时若所述嵌入式软件正常运行，将所述块的标记擦除，并标记所述非易失存储器的另一个块为坏块，重复进行步骤S2至步骤S4。6.根据权利要求1-5中任何一个所述的测试方法，其特征在于：当...
【专利技术属性】
技术研发人员：方迪，
申请(专利权)人：上海斐讯数据通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31
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