SLD光源测试系统技术方案

本实用新型专利技术实施例所述的SLD光源测试系统，待测SLD光源发出的光经过耦合器、起偏器组件、保偏光纤环、敏感元件后原路返回，返回后的两束线偏振光发生干涉；由探测器检测干涉光强，并得到与所述干涉光强对应的电信号；信号处理电路解析探测器发送的电信号得到测量电流值；误差计算单元根据基准电流值以及测量电流值得到待测SLD光源在所处环境下引入的测量误差。由于光波在上述系统中的传输方式与FOCT中光传输方式相同，因此最终得到的SLD光源在所处环境下引入的测量误差的表现形式也可以与FOCT测量误差的形式等效，上述方案能完全和精准的反映出SLD光源的精度，测试结果可直接用于衡量其在FOCT中的系统性能，为FOCT中SLD光源的筛选提供有效的技术参考。

【技术实现步骤摘要】
SLD光源测试系统
本技术涉及光电子器件
，具体涉及一种SLD光源测试系统。
技术介绍
SLD(超辐射发光二极管)光源是光纤电流互感器(FiberOpticCurrentTransformer,FOCT)的必要组成部分，SLD光源的特性对FOCT的性能往往起到关键作用。FOCT是基于法拉第磁光效应和安培环路定律，通过光纤敏感环检测被测导体内电流的大小，具体为：当被测导体中有电流通过时，在光纤敏感环中传输的左旋和右旋圆偏振光的相速度分别向相反的方向改变，从而产生正比于电流大小的相位差(即法拉第相移)，此时的光路特性称之为具有非互易性。这个相位差可以通过干涉法来测量，并由光电探测器将干涉光信号转变为电压信号输出。根据对电压信号的分析，即可得出被测导体中电流的大小。SLD光源的多个特性参数对FOCT测量精度均有影响，如光源的谱宽与光路的相干性有关，光源的光谱调制度与光路相干噪声有关，光源的偏振度与干涉信号中的直流分量以及光路的偏振噪声有关，光源的功率与光学噪声、光源的动态特性、信号调制和系统启动时间有关。SLD光源在长期使用中，由于受外部环境的影响，其中心波长漂移、光功率衰减和光源管本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种SLD光源测试系统，其特征在于，包括：耦合器，其第一端接收待测SLD光源发出的光，第二端与探测器连接；起偏器组件，与所述耦合器的第三端连接，将所述待测SLD光源发出的光转换为两束线偏振光；保偏光纤环，其第一端与所述起偏器组件的输出端连接；敏感元件，感应通电导体内的基准电流值，与所述保偏光纤环的第二端连接；所述起偏器组件输出的两束线偏振光经所述保偏光纤环、所述敏感元件后原路返回，返回后的两束线偏振光发生干涉；探测器，检测所述耦合器的第二端输出的干涉光强，并得到与所述干涉光强对应的电信号；信号处理电路，接收所述探测器发送的电信号，解析后得到测量电流值；误差计算单元，接收所述信号处理电路发送的所...

【技术特征摘要】
1.一种SLD光源测试系统，其特征在于，包括：耦合器，其第一端接收待测SLD光源发出的光，第二端与探测器连接；起偏器组件，与所述耦合器的第三端连接，将所述待测SLD光源发出的光转换为两束线偏振光；保偏光纤环，其第一端与所述起偏器组件的输出端连接；敏感元件，感应通电导体内的基准电流值，与所述保偏光纤环的第二端连接；所述起偏器组件输出的两束线偏振光经所述保偏光纤环、所述敏感元件后原路返回，返回后的两束线偏振光发生干涉；探测器，检测所述耦合器的第二端输出的干涉光强，并得到与所述干涉光强对应的电信号；信号处理电路，接收所述探测器发送的电信号，解析后得到测量电流值；误差计算单元，接收所述信号处理电路发送的所述测量电流值，根据所述基准电流值以及所述测量电流值得到所述待测SLD光源在所处环境下引入的测量误差。2.根据权利要求1所述的SLD光源测试系统，其特征在于，所述起偏器组件包括起偏器和直波导调制器，其中：所述起偏器的第一端与所述耦合器的第三端连接；所述直波导调制器的第一端与所述起偏器的第二端采用45度对轴角连接；所述直波导调制器的第二端与所述保偏光纤环的第一端采用0度对轴角连接；所述直波导调制器的电信号输入端接收调制信号。3.根据权利要求2所述的SLD光源测试系统，其特征在于：所述信号处理电路中包括调制信号输出模块，所述调制信号输出模块发送调制信号至所述直波导调制器的电信号输入端。4.根据权利要求1所述的SLD光源测试系统，其特征在于，所述起偏器组件包括Y波导调制器和偏振合束器，其中：所述Y波导调制器的输入端通过耦合器接收所述待测SLD光源发出的光，所述Y波导调制器的电信号输入端接收...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖浩，李建光，雷军，刘博阳，郝琰，
申请(专利权)人：北京世维通光智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：河北,13