下载SLD光源测试系统的技术资料

文档序号:16386030

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本实用新型实施例所述的SLD光源测试系统,待测SLD光源发出的光经过耦合器、起偏器组件、保偏光纤环、敏感元件后原路返回,返回后的两束线偏振光发生干涉;由探测器检测干涉光强,并得到与所述干涉光强对应的电信号;信号处理电路解析探测器发送的电信号...
该专利属于北京世维通光智能科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京世维通光智能科技有限公司授权不得商用。

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