一种光电探测器频率响应测量装置及其测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光电探测器频率响应测量装置及其测量方法，属于光电子技术领域。本发明专利技术避免了现有技术中传统方法复杂的校准过程，测量装置包括半导体激光器、偏振控制器、电光调制器、微波信号源、波长可调谐激光器、光耦合器、待测光电探测器、频谱分析仪；所述半导体激光器、偏振控制器、电光调制器、光耦合器与待测光电探测器之间依次光路连接，所述波长可调谐激光器光路连接电光调制器；所述微波信号源与电光调制器之间为电路连接；所述待测光电探测器与频谱分析仪之间为电路连接。本发明专利技术具有测量准确度高、操作简单的优点。

Photoelectric detector frequency response measuring device and measuring method thereof

The invention discloses a photoelectric detector frequency response measuring device and a measuring method thereof, belonging to the photoelectron technology field. The invention avoids the traditional method of calibration process in the prior art complex, measuring device comprises a semiconductor laser, polarization controller, electro-optic modulator, microwave signal source, wavelength tunable laser, optical coupler, photoelectric detector, the measured spectrum analyzer; the semiconductor laser, polarization controller, electro-optic modulator, optical coupler are to be measured the photoelectric detector between the optical connection, the wavelength tunable laser light connecting electro-optic modulator; between the microwave signal source and modulator circuit connection; the light between the electric detector and spectrum analyzer for circuit connection. The invention has the advantages of high measurement accuracy and simple operation.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光电子
，涉及到光纤通信技术和光电信号处理技术，具体涉及一种光电探测器频率响应测量装置及其测量方法。技术背景随着数字光通信的发展，对快速光波的测量无论是在理论研究和实际应用上都变的十分重要。高速探测器是光传输和光信号处理系统中的基本元件，随着光纤通信系统的数据传输和处理速度越来越高，对于精确测量带宽光电探测器频率响应也变的很难。当前，测量光电探测器频率响应的方法有：扫频法(见文献王松,黄永清,任晓敏,颜强,扫频法精确测量高速光调制器频率响应,红外与激光工程.2009(006):1020-1024.)、脉冲频谱分析法(Shao,Y.andR.L.Gallawa,Fiberbandwidthmeasurementusingpulsespectrumanalysis,Appliedoptics.1986,25(7):1069-1071.)、干涉频率调制边带谱分析法(Eichen,E.andA.Silletti,Bandwidthmeasurementsofultrahigh-frequencyopticaldetectorsusingtheinterferometricFMsidebandtechnique,IEEEJ.LightwaveTechnol.1987,5(10):1377-1381.)和光外差法(伞海生,温继敏,刘戬,谢亮,祝宁华,基于光外差技术的超宽带频率响应测量系统,光学学报.2005,25(11):1498-1500.)。前面三种方法都存在一定的局限性，将越来越难以满足频率响应测试带宽的要求。而利用光源的相干特性测量带宽的技术——光外差宽带频率响应测量法已经被证明是一种准确可靠和行之有效的方法。然而，在现有所提到的光外差法中对于参与拍频的两束光频率和输出功率的稳定性要求十分苛刻，对此也有很多的校准方法(王睿,苗昂,王松,黄永清,光外差法测量光探测器频率响应的系统校准,光电子激光.2008,19(9):1220-1222.)，但这样不仅增加了系统的复杂度，同样也使得数据处理变的更难。在光外差法中，也有采用调制光波与另外一束光进行光外差的方法，但都只是单纯的将所拍频信号作为探测器频率响应(Tan,T.S.,R.L.Jungerman,andS.S.Elliott,OpticalreceiverandmodulatorfrequencyresponsemeasurementwithaNd:YAGringlaserheterodynetechnique,IEEETrans.MicrowaveTheoryTech..1989,37(8):1217-1222.；Yoshioka,M.,S.Sato,andT.Kikuchi,Amethodformeasuringthefrequencyresponseofphotodetectormodulesusingtwice-modulatedlight,IEEEJ.LightwaveTechnol.2005,23(6):2112-2117.；Lam,A.K.M.,M.Fairburn,andN.A.F.Jaeger,Wide-bandelectroopticintensitymodulatorfrequencyresponsemeasurementusinganopticalheterodynedown-conversiontechnique,IEEETrans.MicrowaveTheoryTech..2006,54(1):240-246.)，往往将电光调制器频响忽略，或者进行复杂的校准，以便去除电光调制器的频率响应。
技术实现思路
针对上述现有技术，本专利技术的目的在于提供一种能简化测量过程并能提高测量精度的光电探测器频率响应测量装置及其测量方法，旨在解决现有测量光电探测器频率响应的测量装置及其测量方法复杂的校准过程，以数据处理困难的问题。为了解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：一种光电探测器频率响应测量装置，其特征在于，包括半导体激光器1、偏振控制器2、电光调制器3、微波信号源4、波长可调谐激光器5、光耦合器6、待测光电探测器7、频谱分析仪8；所述半导体激光器1、偏振控制器2、电光调制器3、光耦合器6与待测光电探测器7之间依次光路连接，所述波长可调谐激光器5光路连接电光调制器3；所述微波信号源4与电光调制器3之间为电路连接；所述待测光电探测器7与频谱分析仪8之间为电路连接。上述方案中，所述波长可调谐激光器5为半导体波长可调谐激光器或为光纤波长可调谐激光器。上述方案中，所述电光调制器3为电光强度调制器或为电光相位调制器。本专利技术还提供了一种采用权利要求1的光电探测器频率响应测量装置的频率响应测量方法，其特征在于，包括以下步骤，①半导体激光器1输出的光波经偏振控制器2输入到电光调制器3，由微波信号源4输出的微波信号经由电光调制器3调制到光载波上，调制后的光信号与波长可调谐激光器输出的光信号通过光耦合器入射到待测光电探测器，待测光电探测器的输出信号进入频谱分析仪中进行测量。②使半导体激光器输出光波的频率为ω1，使波长可调谐激光器输出光波的频率为ω2，ω1>ω2，使微波信号的调制频率为ωm；在频谱分析仪上，将会观测到半导体激光器中心载波、-1阶微波调制边带、+1阶微波调制边带分别与波长可调谐激光器5中心载波的拍频信号，三个拍频信号的频率分别为ω1-ω2、ω1-ω2+ωm和ω1-ω2-ωm，并且ω1-ω2>ωm，测量频率为ω1-ω2+ωm和频率为ω1-ω2-ωm的拍频信号的幅度之比，此即待测光电探测器在两个频点的频率响应之比，通过改变微波调制频率ωm或者波长可调谐激光器输出光波的频率ω2，重复测量频率为ω1-ω2+ωm和ω1-ω2-ωm的信号幅度之比，即可得到待测光电探测器在不同频率的响应特性。本专利技术工作原理为：半导体激光器1输出的光波经偏振控制器2输入到电光调制器3，由微波信号源4输出的微波信号经由电光调制器3调制到光载波上，与波长可调谐激光器5发出的光波通过光耦合器6混频。混频的光波通过待测光电探测器7进行拍频探测，最后进入频谱分析仪8中进行差频信号功率的检测，并记录对应差频信号功率值。与现有技术相比，本专利技术具有以下有益效果：一、本专利技术光电探测器频率响应的测量装置与方法，由于采用的是边带拍频信号对比测量，电光调制器频率响应和微波信号源功率起伏对测试结果没有影响，相对于传统测量方法，该测量装置和方法无需对电光调制器频率响应和...

【技术保护点】
一种光电探测器频率响应测量装置，其特征在于，包括半导体激光器（1）、偏振控制器（2）、电光调制器（3）、微波信号源（4）、波长可调谐激光器（5）、光耦合器（6）、待测光电探测器（7）、频谱分析仪（8）；所述半导体激光器（1）、偏振控制器、电光调制器、光耦合器与待测光电探测器之间依次光路连接，所述波长可调谐激光器光路连接电光调制器；所述微波信号源与电光调制器之间为电路连接；所述待测光电探测器与频谱分析仪之间为电路连接。

【技术特征摘要】
1.一种光电探测器频率响应测量装置，其特征在于，包括半导体激光器（1）、偏振控制器（2）、电光调制器（3）、微波信号源（4）、波长可调谐激光器（5）、光耦合器（6）、待测光电探测器（7）、频谱分析仪（8）；所述半导体激光器（1）、偏振控制器、电光调制器、光耦合器与待测光电探测器之间依次光路连接，所述波长可调谐激光器光路连接电光调制器；所述微波信号源与电光调制器之间为电路连接；所述待测光电探测器与频谱分析仪之间为电路连接。
2.根据权利要求1所述的光电探测器频率响应测量装置，其特征在于，所述波长可调谐激光器(5)为半导体波长可调谐激光器或为光纤波长可调谐激光器。
3.根据权利要求1或2所述的光电探测器频率响应测量装置，其特征在于，所述电光调制器(3)为电光强度调制器或为电光相位调制器。
4.一种采用权利要求1的光电探测器频率响应测量装置的频率响应测量方法，其特征在于，包括以下步骤，
①半导体激光器（1）输出的光波经偏振控制器（2）输入到电...

【专利技术属性】
技术研发人员：张尚剑，邹新海，王恒，张雅丽，刘永，陆荣国，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川;51