基于连分数存储的集成电路测试数据压缩方法技术

本发明专利技术提出了一种基于连分数存储的集成电路测试数据压缩方法，可以实现测试数据的进一步压缩。其依次按位从测试数据包S中读取数据，根据相邻确定位向无关位填充0或1，以使所得游程的长度达到最大，并将测试数据包S转换为多个游程，然后依据相邻两个游程得到一组压缩编码并加入压缩数据包；所述的压缩编码依次由3部分组成：双游程代码、公约数代码、连分数代码；本发明专利技术还公开了对应的解码程序。

【技术实现步骤摘要】
基于连分数存储的集成电路测试数据压缩方法
本专利技术涉及集成电路测试技术，特别是对系统芯片(System-on-a-Chip,SoC)的外建自测试(Built-OutSelf-Test,BOST)方法中测试数据压缩方法。
技术介绍
在SoC设计中，越来越高的电路密度导致测试数据量急剧增加。更大的测试数据规模不仅要求更高的内存需求，而且还增加测试时间。ITRS2013报告显示，SOC-CP-ConsumerSOC进行测试的最小测试数据量10年增加了近4倍，最低压缩比10年增加了近6倍。测试数据压缩技术通过减少测试数据量来解决这个问题，而不会影响系统的整体性能。编码压缩技术采用比原始测试数据更短的代码字来存储测试数据，实现测试数据的压缩，是测试数据压缩技术中应用广泛的技术之一。该技术具有如下优点：采用的是无损压缩，不降低故障覆盖率；解压结构独立于被测电路，可以有效地保护IP核的知识产权；特别适用于不支持BIST的CUT，应用性更广泛。按照编码原理，编码压缩技术可以分为游程编码和统计编码。游程编码按照测试数据中连续的0或1的个数进行编码，具有代表性的有EFDR码、变游程码(VRLC)、混合本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于连分数存储的集成电路测试数据压缩方法，包括以下步骤：a、采用自动测试模式生成工具ATPG，生成确定的完全测试集T，所述的完全测试集T由有限个固定宽度的测试向量组成，记录该测试向量的宽度；b、将所有测试向量级联，得到测试数据包，记为S；c、依次按位从测试数据包S中读取数据；调用游程计算程序，得到第一个游程R1，所述的游程计算程序根据相邻确定位向无关位填充0或1，以使得第一个游程R1的长度达到最大；记录所得游程的类型为C1、长度为L1；d、继续从S中读取数据，调用游程计算程序，得到第二个游程R2，所述的游程计算程序根据相邻确定位向无关位填充0或1，以使得第二个游程R2的长度达到最大；记录所...

【技术特征摘要】
1.一种基于连分数存储的集成电路测试数据压缩方法，包括以下步骤：a、采用自动测试模式生成工具ATPG，生成确定的完全测试集T，所述的完全测试集T由有限个固定宽度的测试向量组成，记录该测试向量的宽度；b、将所有测试向量级联，得到测试数据包，记为S；c、依次按位从测试数据包S中读取数据；调用游程计算程序，得到第一个游程R1，所述的游程计算程序根据相邻确定位向无关位填充0或1，以使得第一个游程R1的长度达到最大；记录所得游程的类型为C1、长度为L1；d、继续从S中读取数据，调用游程计算程序，得到第二个游程R2，所述的游程计算程序根据相邻确定位向无关位填充0或1，以使得第二个游程R2的长度达到最大；记录所得游程的类型为C2、长度为L2；e、依据步骤c所得到的第一个游程R1、步骤d所得到的第二个游程R2，调用编码程序，得到一组压缩编码，并将该压缩编码加入压缩数据包；本步骤中，所述的压缩编码依次由3部分组成：第一部分为双游程代码，第二部分为公约数代码，第三部分为连分数代码，所述编码程序包括：e1、计算双游程代码，所述双游程代码为3位二进制代码，第一位为0，第二位以0或1表示第一个游程R1的类型C1，第三位以0或1表示第二个游程R2的类型C2；e2、计算公约数代码：首先计算L1、L2的最大公约数为gcd，然后将该十进制数gcd转换为二进制形式的公约数代码，所述公约数代码包括前缀和后缀，所述的前缀和后缀为位数相同的二进制数，其编码方法：前缀由i个1和1个0构成，其中，；后缀为gcd+4转换成对应的二进制数后去掉最高位1的剩余部分；e3、计算连分数代码：依据该最大公约数gcd，将L1/L2转化为最简分数，再将所得最简分数转换为一个有限简单连分数表示，所述的有限简单连分数包括由若干个正整数构成的部分商序列，记为L1/L2=[a0/a1/a2/.../an]；依次将单个十进制形式的部分商转换为...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴海峰，江健生，程一飞，吴琼，詹文法，
申请(专利权)人：吴海峰，
类型：发明
国别省市：安徽,34