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本发明提出了一种基于连分数存储的集成电路测试数据压缩方法，可以实现测试数据的进一步压缩。其依次按位从测试数据包S中读取数据，根据相邻确定位向无关位填充0或1，以使所得游程的长度达到最大，并将测试数据包S转换为多个游程，然后依据相邻两个游程得...
该专利属于吴海峰所有，仅供学习研究参考，未经过吴海峰授权不得商用。

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