一种用于CMOS传感器的测试方法技术

本发明专利技术涉及一种用于CMOS传感器的测试方法，主要解决现有技术中存在的测试功能少、测试芯片数量少的技术问题，本发明专利技术通过采用包括平行光灯箱；数量为N的无镜头CMOS传感器，无镜头CMOS传感器测试时与所述平行光位置对应；与无镜头CMOS传感器连接的测试板，测试板包括用于采集信号数据的图像传感器；无镜头CMOS传感器及测试板均固定于测试板固定板，所述测试板固定板固定连接于升降台；所述测试板通过USB2.0均与控制单元连接，所述控制单元还与升降台连接，所述控制单元通过USB电缆及串口与上位机连接的技术方案，较好的解决了该问题，可用于CMOS传感器性能测试中。

【技术实现步骤摘要】
一种用于CMOS传感器的测试方法
本专利技术涉及传感器测试领域，特别涉及到一种用于CMOS传感器的测试方法。
技术介绍
采用新工艺做的CMOS传感器一般需要对电路和像素性能进行评估，以便后续用该工艺进行批量生产。既然要对电路和像素性能进行评估测试，那么就需要进行数据采集，然后对数据进行换算得出想要的数据。评估电路和像素性能是一个很重要的环节，测试芯片数量比较多，可能几十颗甚至上百颗，且每颗芯片需要抓拍很多图片进行分析，工作量还是比较大的，每颗测试的条件要保持一致，测试环境需放置密封的光箱内，通过该控制系统对数据进行采集和运算。现有的测试系统通常只能对CMOS传感器的电路和像素性能单一进行测试，并且只能测试一个CMOS传感器芯片。其存在测试功能少、测试数量少的技术问题。因此，提供一种测试功能齐全、测试芯片数量多、使用方便的测试系统就很有必要。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是现有技术中存在的测试功能少、测试芯片数量少的技术问题。提供一种新的用于CMOS传感器的测试系统，该测试系统具有测试功能齐全、能够一次进行多芯片测试的特点。为解决上述技术问题，采用的技术方案如下：一种用于CM本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于CMOS传感器的测试方法，其特征在于：所述方法包括：(1)将无镜头CMOS传感器装配在测试板上，测试板固定在固定架上，放置密封暗箱内；(2)上位机通过串口发送指令给控制单元，打开平行光灯箱，调节升降台位置，将包括无镜头CMOS传感器的测试板依次对准DNP灯箱，控制单元控制相应USB线缆与上位机连通，接通测试板，完成后控制单元反馈指令到上位机，上位机通过控制单元初始化测试板上的无镜头CMOS传感器芯片参数，(3)设定曝光时间值，连续拍100张图片后，按照预定的路径保存每组曝光时间所采集的100张图片为一个文件夹，上位机发送指令，关掉光源；设置光照为全黑Dark，拍5张图片后；(4)打开光...

【技术特征摘要】
1.一种用于CMOS传感器的测试方法，其特征在于：所述方法包括：(1)将无镜头CMOS传感器装配在测试板上，测试板固定在固定架上，放置密封暗箱内；(2)上位机通过串口发送指令给控制单元，打开平行光灯箱，调节升降台位置，将包括无镜头CMOS传感器的测试板依次对准DNP灯箱，控制单元控制相应USB线缆与上位机连通，接通测试板，完成后控制单元反馈指令到上位机，上位机通过控制单元初始化测试板上的无镜头CMOS传感器芯片参数，(3)设定曝光时间值，连续拍100张图片后，按照预定的路径保存每组曝光时间所采集的100张图片为一个文件夹，上位机发送指令，关掉光源；设置光照为全黑Dark，拍5张图片后；(4)打开光源，曝光时间增大，重复步骤(3)直到曝光时间最大，完成芯片数据采集，进入步骤(5)；(5)启动数据处理程序处理芯片数据；(6)重复步骤(2)-(5)，测试板上无镜头CMOS传感器均测试完毕后进入步骤(7)；(7)打开密封暗箱，取出无镜头CMOS传感器，进行下一轮测试。2....

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：张家港市欧微自动化研发有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32