探测器阳极装置制造方法及图纸

技术编号:15843752 阅读:74 留言:0更新日期:2017-07-18 17:35
本实用新型专利技术实施例提供了一种探测器阳极装置,包括:第一阳极板,第一阳极板具有第一信号阵列;第二阳极板,第二阳极板的面积小于第一阳极板,并且位于第一阳极板内,第二阳极板具有第二信号阵列;第一ASIC芯片,与第一阳极板相连接,当电子打在第一阳极板时,检测第一阳极板产生的第一信号;第二ASIC芯片,与第二阳极板相连接,当电子打在第二阳极板时,检测第二阳极板产生的第二信号;电子学处理器,与第一ASIC芯片和第二ASIC芯片相连接,根据第一信号和第二信号得到电子打在第一阳极板或者第二阳极板的位置。本实用新型专利技术实施例探测器阳极装置,利用两块不同的阳极板,实现了不同精度的电子位置检测。

【技术实现步骤摘要】
探测器阳极装置
本技术涉及一种阳极装置,尤其涉及一种探测器阳极装置。
技术介绍
目前,现有的探测器的阳极板只有一块,无论何种分辨率,由此只能成一个分辨率的图像,如果需要更改分辨率,就只能改用其他探测器,因为无法将探测器的阳极板进行更换。因此,现有的阳极装置的设置不够灵活。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术的缺陷,提供一种探测器阳极装置,利用两块不同的阳极板,实现不同精度的电子位置检测。为实现上述目的,本技术实施例提供了一种探测器阳极装置,所述探测器阳极装置包括:第一阳极板,所述第一阳极板具有第一信号阵列;第二阳极板,所述第二阳极板的面积小于第一阳极板,并且位于所述第一阳极板内,所述第二阳极板具有第二信号阵列;第一ASIC芯片,与所述第一阳极板相连接,当电子打在所述第一阳极板时,检测所述第一阳极板产生的第一信号;第二ASIC芯片,与所述第二阳极板相连接,当电子打在所述第二阳极板时,检测所述第二阳极板产生的第二信号;电子学处理器,与所述第一ASIC芯片和第二ASIC芯片相连接,根据所述第一信号和第二信号得到电子打在所述第一阳极板或者第二阳极板的位置;所述第一信号阵列为N×M阵列,N为第一本文档来自技高网...
探测器阳极装置

【技术保护点】
一种探测器阳极装置,其特征在于,所述探测器阳极装置包括:第一阳极板,所述第一阳极板具有第一信号阵列;第二阳极板,所述第二阳极板的面积小于第一阳极板,并且位于所述第一阳极板内,所述第二阳极板具有第二信号阵列;第一专用集成电路ASIC芯片,与所述第一阳极板相连接,当电子打在所述第一阳极板时,检测所述第一阳极板产生的第一信号;第二ASIC芯片,与所述第二阳极板相连接,当电子打在所述第二阳极板时,检测所述第二阳极板产生的第二信号;电子学处理器,与所述第一ASIC芯片和第二ASIC芯片相连接,根据所述第一信号和第二信号得到电子打在所述第一阳极板或者第二阳极板的位置;所述第一信号阵列为N×M阵列,N为第一...

【技术特征摘要】
1.一种探测器阳极装置,其特征在于,所述探测器阳极装置包括:第一阳极板,所述第一阳极板具有第一信号阵列;第二阳极板,所述第二阳极板的面积小于第一阳极板,并且位于所述第一阳极板内,所述第二阳极板具有第二信号阵列;第一专用集成电路ASIC芯片,与所述第一阳极板相连接,当电子打在所述第一阳极板时,检测所述第一阳极板产生的第一信号;第二ASIC芯片,与所述第二阳极板相连接,当电子打在所述第二阳极板时,检测所述第二阳极板产生的第二信号;电子学处理器,与所述第一ASIC芯片和第二ASIC芯片相连接,根据所述第一信号和第二信号得到电子打在所述第一阳极板或者第二阳极板的位置;所述第一信号阵列为N×M阵列,N为第一阵列...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴金杰张帅廖振宇
申请(专利权)人:中国计量科学研究院
类型:新型
国别省市:北京,11

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1