The invention discloses a method for rapid detection of precious metal products, the invention is a method for rapid detection of precious metal products by X - ray fluorescence spectrometer to detect the sample surface of the main components of content and composition of the preliminary judgment of tested samples is unqualified, further using ultrasonic thickness meter to detect the sample by ultrasonic, ultrasonic thickness meter sends out pulses of the sample reached the first material interface and reflected ultrasonic thickness gauge of the time, to calculate the sample test point and the first material interface between the thickness of D2, and the vernier caliper thickness of the measured sample of the value if, meet the |d2/d1 1|*100% 5%, you can determine the sample qualified. The method can detect the qualified of the tested sample without damage, speed, accuracy and convenience, and can greatly improve the work efficiency and reduce the cost of the large-scale inspection center under the condition of more inspection tasks.
【技术实现步骤摘要】
一种贵金属制品的快速检测方法
本专利技术涉及贵金属制品检测,更具体地说是一种贵金属制品的快速检测方法。
技术介绍
目前,在贵金属检测领域,X射线荧光光谱仪是一种用于检验贵金属制品纯度的常规检测仪器,具有快速筛选的特点,但一般的X射线荧光光谱仪对于贵金属制品的检测只局限于表层(X射线对金的探测深度仅约10μm,对银的探测深度仅约50μm),无法对贵金属制品的内部情况进行检测;市面上存在贵金属内部掺杂造假的情况,仅通过X射线荧光光谱分析贵金属制品表面,极易出现误判,检测不准确的情况;现在也有采用密度综合法来检测贵金属,但存在成本高、耗时长、局限性较大等问题,对于通过配重以及掺杂密度相近金属造假的贵金属制品,则无法检测出来。因此,有必要设计一种能够无损、快速、准确、便捷的检测贵金属制品的检测方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足,提供一种贵金属制品的快速检测方法。为实现上述目的,本专利技术采用以下技术方案:一种贵金属制品的快速检测方法,包括以下步骤:S10、设定X射线荧光光谱仪的工作条件,将被测样品置于X射线荧光光谱仪的检测台上,检测被测样品表层的主要成分及成分含量;S20、将被测样品表层多个检测点测得的被测样品数据取平均值与被测样品的标称值数据进行比较,若满足标准值下限要求,则进行下一步检测,否则,停止检测,判断被测样品不合格;S30、用量尺测出被测样品测试点处两相对表面的厚度值d1;S40、设定超声波测厚仪的工作条件,通过超声波测厚仪发出的超声波脉冲到达被测样品的第一个物质界面并反射回超声波测厚仪所消耗的时间,以计算出被测样品测试点表面与第 ...
【技术保护点】
一种贵金属制品的快速检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S10、设定X射线荧光光谱仪的工作条件,将被测样品置于X射线荧光光谱仪的检测台上,检测被测样品表层的主要成分及成分含量;S20、将被测样品表层多个检测点测得的被测样品数据取平均值与被测样品的标称值数据进行比较,若满足标准值下限要求,则进行下一步检测,否则,停止检测,判断被测样品不合格;S30、采用量尺测出被测样品测试点两相对表面的厚度值d1;S40、设定超声波测厚仪的工作条件,通过超声波测厚仪发出的超声波脉冲到达被测样品的第一物质界面并反射回超声波测厚仪所消耗的时间,以计算出被测样品测试点与第一个物质界面之间的厚度值d2。S50、将d1与d2进行对比,若符合|d2/d1‑1|*100%≤5%,则被测样合格,否则,被测样品不合格。
【技术特征摘要】
1.一种贵金属制品的快速检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S10、设定X射线荧光光谱仪的工作条件,将被测样品置于X射线荧光光谱仪的检测台上,检测被测样品表层的主要成分及成分含量;S20、将被测样品表层多个检测点测得的被测样品数据取平均值与被测样品的标称值数据进行比较,若满足标准值下限要求,则进行下一步检测,否则,停止检测,判断被测样品不合格;S30、采用量尺测出被测样品测试点两相对表面的厚度值d1;S40、设定超声波测厚仪的工作条件,通过超声波测厚仪发出的超声波脉冲到达被测样品的第一物质界面并反射回超声波测厚仪所消耗的时间,以计算出被测样品测试点与第一个物质界面之间的厚度值d2。S50、将d1与d2进行对比,若符合|d2/d1-1|*100%≤5%,则被测样合格,否则,被测样品不合格。2.根据权利要求1所述的一种贵金属制品的快速检测方法,其特征在于,所述步骤S10之前还包括用无水乙醇擦洗被测样品的测试表面。3.根据权利要求1所述的一种贵金属制品的快速检测方法,其特征在于,所述S10步骤中,选择锰元素在5.89keV能量位置的峰,分辨率优于170eV的X...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨佩,高亚伟,
申请(专利权)人:深圳市金质金银珠宝检验研究中心有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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