利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法技术

本发明专利技术公开了一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法，该方法包括：(1)提供钛白粉标准样品；(2)采用化学滴定法和X射线荧光光谱法分别测试所述钛白粉标准样品中二氧化钛及包膜物和杂质元素的含量，并且基于所述化学滴定法和所述X射线荧光光谱法所得数据建立X射线荧光光谱法标准曲线；(3)采用X射线荧光光谱法，并且基于所述X射线荧光光谱法标准曲线测定钛白粉待测样品中二氧化钛含量。该方法可使得利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2的含量的操作过程更加简单易行。

Analysis of TiO in titanium dioxide by X ray fluorescence spectrometry

The invention discloses a method for analyzing TiO in titanium dioxide by X ray fluorescence spectrum

【技术实现步骤摘要】
利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法
本专利技术属于X射线荧光光谱分析领域，具体而言，本专利技术涉及利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法。
技术介绍
钛白粉具有稳定的物理、化学性质，优良的光学、电学性质以及优异的颜料性能，因此广泛应用于涂料、纸张、油墨、塑料、橡胶等领域。为了提高钛白粉的耐候性、化学稳定性以及分散性等性能指标，一般要对钛白粉进行表面包膜处理。在包膜过程中会引入包膜剂以及微量杂质元素，因此钛白粉中TiO2含量并不是100％。目前，通常使用化学滴定法即金属还原法测定钛白粉中TiO2的含量，其方法操作复杂，比较耗时，试剂消耗太大，进而考虑用X射线荧光光谱分析钛白粉中各杂质元素以及包膜剂的含量来反推TiO2的含量，即用100wt％减去各杂质元素以及包膜剂的含量，即为TiO2的含量。该方法的缺陷是对钛白粉中其他存在形式的杂质元素或同一金属元素的化学结构无法得知，分析结果比化学滴定法偏高或偏低，不适用于钛白粉中TiO2含量的测定。因此，现有利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的技术有待进一步改进。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO

【技术特征摘要】
1.一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法，其特征在于，包括：(1)提供钛白粉标准样品；(2)采用化学滴定法和X射线荧光光谱法分别测试所述钛白粉标准样品中二氧化钛及包膜物和杂质元素的含量，并且基于所述化学滴定法和所述X射线荧光光谱法所得数据建立X射线荧光光谱法标准曲线；(3)采用X射线荧光光谱法，并且基于所述X射线荧光光谱法标准曲线测定钛白粉待测样品中二氧化钛含量。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤(1)中，所述钛白粉标准样品的数量不少于15个。3.根据权利要求1或2所...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙翔，刘建良，李金苑，江书安，蒋永金，王若泽，崔庆雄，李明，陈艳琼，丁锐，潘梅，李进莲，
申请(专利权)人：云南冶金新立钛业有限公司，
类型：发明
国别省市：云南,53