利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法技术

本发明专利技术公开了一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法，该方法包括：(1)提供钛白粉标准样品；(2)采用化学滴定法和X射线荧光光谱法分别测试所述钛白粉标准样品中二氧化钛及包膜物和杂质元素的含量，并且基于所述化学滴定法和所述X射线荧光光谱法所得数据建立X射线荧光光谱法标准曲线；(3)采用X射线荧光光谱法，并且基于所述X射线荧光光谱法标准曲线测定钛白粉待测样品中二氧化钛含量。该方法可使得利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2的含量的操作过程更加简单易行。

Analysis of TiO in titanium dioxide by X ray fluorescence spectrometry

The invention discloses a method for analyzing TiO in titanium dioxide by X ray fluorescence spectrum

【技术实现步骤摘要】
利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法
本专利技术属于X射线荧光光谱分析领域，具体而言，本专利技术涉及利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法。
技术介绍
钛白粉具有稳定的物理、化学性质，优良的光学、电学性质以及优异的颜料性能，因此广泛应用于涂料、纸张、油墨、塑料、橡胶等领域。为了提高钛白粉的耐候性、化学稳定性以及分散性等性能指标，一般要对钛白粉进行表面包膜处理。在包膜过程中会引入包膜剂以及微量杂质元素，因此钛白粉中TiO2含量并不是100％。目前，通常使用化学滴定法即金属还原法测定钛白粉中TiO2的含量，其方法操作复杂，比较耗时，试剂消耗太大，进而考虑用X射线荧光光谱分析钛白粉中各杂质元素以及包膜剂的含量来反推TiO2的含量，即用100wt％减去各杂质元素以及包膜剂的含量，即为TiO2的含量。该方法的缺陷是对钛白粉中其他存在形式的杂质元素或同一金属元素的化学结构无法得知，分析结果比化学滴定法偏高或偏低，不适用于钛白粉中TiO2含量的测定。因此，现有利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的技术有待进一步改进。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的一个目的在于提出一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法。该方法可使得利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2的含量的操作过程更加简单易行。在本专利技术的一个专利技术，本专利技术提出了一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法。根据本专利技术的实施例，所述方法包括：(1)提供钛白粉标准样品；(2)采用化学滴定法和X射线荧光光谱法分别测试所述钛白粉标准样品中二氧化钛及包膜物和杂质元素的含量，并且基于所述化学滴定法和所述X射线荧光光谱法所得数据建立X射线荧光光谱法标准曲线；(3)采用X射线荧光光谱法，并且基于所述X射线荧光光谱法标准曲线测定钛白粉待测样品中二氧化钛含量。根据本专利技术实施例的利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法，通过选定钛白粉标准样品，并将X射线荧光光谱法所测得的钛白粉标准样品中二氧化钛的含量与化学滴定法测得的相同样品的钛白粉标准样品中二氧化钛的含量进行比较，以此来修订X射线荧光光谱法测量钛白粉标准样品中二氧化钛含量的测量条件和参数，从而使得利用X射线荧光光谱分析钛白粉待测样品中TiO2的含量所得的测量数值与化学滴定法测得的数值的误差在0.4％以内，进而得到一种与化学滴定法相比操作过程简单易行、与现有用X射线荧光光谱分析钛白粉中各杂质元素以及包膜剂的含量来反推TiO2的含量的方法更精确且更简便的方法。另外，根据本专利技术上述实施例的利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法，还可以具有如下附加的技术特征：在本专利技术的一些实施例中，在步骤(1)中，所述钛白粉标准样品的数量不少于15个。由此，有利于得到与化学滴定法误差更小的标准曲线。在本专利技术的一些实施例中，在步骤(1)中，所述钛白粉标准样品是采用下列步骤制备的：将原始钛白粉标准样品与粘结剂进行混合研磨，然后进行保压压片，以便得到所述钛白粉标准样品。由此，可进一步得到与化学滴定法误差更小的标准曲线。在本专利技术的一些实施例中，在步骤(1)中，所述原始钛白粉标准样品中二氧化钛的含量为87wt％～98wt％。由此，可进一步得到与化学滴定法误差更小的标准曲线。在本专利技术的一些实施例中，在步骤(2)中，基于所述化学滴定法和所述X射线荧光光谱法所得数据的误差，对所述X射线荧光光谱法所得数据曲线进行修正，得到所述X射线荧光光谱法标准曲线。由此，可进一步得到与化学滴定法误差更小的标准曲线。本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是根据本专利技术一个实施例利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法流程示意图。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的一个方面，本专利技术提出了一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法。根据本专利技术的实施例，参考图1，该方法包括：S100：提供钛白粉标准样品该步骤中，提供钛白粉标准样品。具体的，选取不少于15个原始钛白粉标准样品分别用于后续化学滴定法进行定值和用于制备钛白粉标准样品，上述原始钛白粉标准样品是采用通用生产工艺实际生产的含硅、铝、锆等无机氧化物包膜的钛白粉产品，因而上述原始钛白粉标准样品中的杂质存在形态、包膜物形态、产品粒径分布和物理性质等都与原始钛白粉待测样品接近或一致，与现有采用实验室合成的高纯二氧化钛产品或混合物配料方法制得的产品作为原始钛白粉标准样品相比更加准确。原始钛白粉标准样品中包膜剂内各元素的类型和含量并不受特别限制，原始钛白粉标准样品中二氧化钛的含量在87wt％～98wt％范围内。取完样后采用粉末压片法对原始钛白粉标准样品进行钛白粉标准样品的制样，将原始钛白粉标准样品与粘结剂按照质量比5:1进行混合，混合均匀后在压力为20MPa、保压时间为10s的条件下用分析纯硼酸固定在压片机上进行压片制样，其中，粘结剂的粒径为25微米，制得钛白粉标准样品。根据本专利技术的一个实施例，钛白粉标准样品的数量并不受特别限制，本领域技术人员可以根据实际需要进行选择，根据本专利技术的一个具体实施例，钛白粉标准样品的数量可以不少于15个。专利技术人发现，当钛白粉标准样品的数量不少于15个时可以更好的满足后续标准曲线的精度要求，从而使得本专利技术提出的基于X射线荧光光谱法标准曲线测定钛白粉待测样品中二氧化钛含量所得的数值与化学滴定法得到的定值误差更小。根据本专利技术的再一个实施例，钛白粉标准样品的制备并不受特别限制，本领域技术人员可以根据实际需要进行选择，根据本专利技术的一个具体实施例，钛白粉标准样品可以采用粉末压片法进行制备，即将原始钛白粉标准样品与粘结剂进行混合研磨，然后进行保压压片，以便得到钛白粉标准样品。具体的，将原始钛白粉标准样品与粘结剂按照质量比5:1进行混合，混合均匀后在压力为20MPa、保压时间为10s的条件下用分析纯硼酸固定进行压片制样，其中，粘结剂的粒径为25微米，制得钛白粉标准样品。专利技术人发现，采用X射线荧光光谱法进行定量分析时有两种制样方法，即熔融玻璃片法和粉末压片法，其中熔融玻璃片法需采用多种助剂与原始样品混合，且需在高温下进行熔融处理，步骤复杂，耗时长；而粉末压片法只需加入一种压片助剂，且是在配备的专用压片机上常温操作，步骤简单，速度快。根据本专利技术的又一个实施例，原始钛白粉标准样品中二氧化钛的含量并不受特别限制，本领域技术人员可以根据实际需要进行选择，根据本专利技术的一个具体实施例，原始钛白粉标准样品中二氧化钛的含量可以为87wt％～98wt％。专利技术人发现，在钛白粉实际生产领域，钛白粉中二氧化钛的含量均在此范围，范围太大或太小均说明与钛白粉实际生产所得的产品不一致，这将影响后续测试钛白粉待测样品结果的准确性。S200：采用化学滴定法和X射线荧本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO

【技术特征摘要】
1.一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法，其特征在于，包括：(1)提供钛白粉标准样品；(2)采用化学滴定法和X射线荧光光谱法分别测试所述钛白粉标准样品中二氧化钛及包膜物和杂质元素的含量，并且基于所述化学滴定法和所述X射线荧光光谱法所得数据建立X射线荧光光谱法标准曲线；(3)采用X射线荧光光谱法，并且基于所述X射线荧光光谱法标准曲线测定钛白粉待测样品中二氧化钛含量。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤(1)中，所述钛白粉标准样品的数量不少于15个。3.根据权利要求1或2所...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙翔，刘建良，李金苑，江书安，蒋永金，王若泽，崔庆雄，李明，陈艳琼，丁锐，潘梅，李进莲，
申请(专利权)人：云南冶金新立钛业有限公司，
类型：发明
国别省市：云南,53