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本发明公开了一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法，该方法包括：(1)提供钛白粉标准样品；(2)采用化学滴定法和X射线荧光光谱法分别测试所述钛白粉标准样品中二氧化钛及包膜物和杂质元素的含量，并且基于所述化学滴定法和所述X射线荧...
该专利属于云南冶金新立钛业有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过云南冶金新立钛业有限公司授权不得商用。

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