蜗杆测距装置制造方法及图纸

技术编号:15537612 阅读:147 留言:0更新日期:2017-06-05 05:43
本发明专利技术涉及一种蜗杆检测装置,具体涉及一种蜗杆测距装置,包括基座、检测机构、观测板以及模拟公差构件,基座上开设有插孔,其中,检测机构固定在基座上,检测机构包括检测座、检测杆与激光头,检测杆的一端竖直方向上转动连接在检测块上,检测杆的另一端固定激光头,检测杆的靠近激光头的一端的具有抬高针;观测板固定在基座上;模拟公差构件包括基件、最大公差调节件与最小公差调节件,基件固定连接在基座上,最大公差调节件或最小公差调节件堆叠在基件上,最大公差调节件与最小公差调节件位于抬高针的下方。本发明专利技术的目的在于提供能简化现有的检测流程,提高检测速度的蜗杆测距装置。

【技术实现步骤摘要】
蜗杆测距装置
本专利技术涉及一种蜗杆检测装置,具体涉及一种蜗杆测距装置。
技术介绍
蜗杆在加工成型的过程中,需要检测蜗杆上台阶间两间隔面的距离,确保蜗杆加工精度。现有技术中如公告号CN204255238u一种快速检测蜗杆长度工装,包括平板,平板上设有底座,底座下表面开有连接槽,底座上表面开有竖直向下并与连接槽连通的用于插入待检测蜗杆的检测孔,底座上表面靠近检测孔的位置设有对比块,对比块上表面开有竖直向下并贯穿整个对比块的连接孔,对比块高度与待检测蜗杆两间隔面间的长度一致,底座上表面靠近对比块的位置还设有千分表。其检测方法为将蜗杆插入检测孔中,蜗杆的其中一个间隔面与检测孔的上端面也就是平板上端面,然后使用千分表检测蜗杆的另一个间隔面,再平移千分表检测比较块的上端面,通过千分表检测的值的差值判断,蜗杆的两间隔面的距离,从而判断蜗杆的加工精度。现有技术存在的问题是:千分表在检测的过程中需要水平移动,这可能会对检测精度造成影响,其次检测的过程涉及千分表的检测的差值判断,多出计算的环节会延长检测时间,提高失误率。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供能简化现有的检测流程,提高检测速度的蜗杆测距装置。本专利技术提供基础方案是:蜗杆测距装置,包括基座、检测机构、观测板以及模拟公差构件,基座上开设有插孔,其中,检测机构固定在基座上,检测机构包括检测座、检测杆与激光头,检测杆的一端竖直方向上转动连接在检测块上,检测杆的另一端固定所述激光头,检测杆的靠近激光头的一端的具有抬高针;观测板固定在基座上;模拟公差构件包括基件、最大公差调节件与最小公差调节件,所述基件固定连接在基座上,所述最大公差调节件或最小公差调节件堆叠在基件上,所述最大公差调节件与最小公差调节件位于抬高针的下方。基座为本方案中所有的构件提供一个水平的面,检测机构的检测座的高度接近于标准的蜗杆的两端面的距离,检测座能使检测杆一端的高度接近蜗杆待检测端面的高度,检测杆能够搭接在检测蜗杆的端面与检测座的端面,检测杆的杆体倾斜的角度能够反应二者的高低情况,抬高针的作用是为了使检测杆激光头所在的一端在搭接时比检测杆的另一端高,这样能保证无论是蜗杆一侧较高还是检测座一侧较高,激光头发出的激光不会被蜗杆遮挡,激光头的效果就是利用激光直线传播的特性将检测杆反应的蜗杆与检测座之间的倾斜度延长放大,观测板的作用就是显示延长后的激光,模拟公差构件的作用就是模拟蜗杆两端面的高度,需要模拟最大公差值时,就在基件上放置最大公差调节件,同理模拟最小公差值就放置最小公差调节件,由于这里要求的精度较高,所以为了降低加工难度,设置了基件,只需精加工出最大公差调节件和最小公差调节件,检测杆的抬高针放置在最大公差调节件上时,激光头投射到观测板的高度就是后续检测时激光投射的最高点,抬高针放置在最小公差调节件上时原理相同,此时激光投射到观测板上的点为后续检测时激光投射的最低点。使用方法:将检测机构安装到基座上,将模拟公差构件的基件固定在抬高针的下方,开启激光头后,先装上最大公差调节件,将抬高针压在最大公差调节件的上端面,记录观测板上的光点高度,然后装上最小公差调节件,记录观测板上的光点高度。拆除模拟公差构件,将待检测的蜗杆插入插孔中,将检测杆抬高针的一端所在压下,使抬高针的针头抵住蜗杆待检测的端面,检测者记录观测板上的激光投射点,然后抬起检测杆,旋转蜗杆后放下检测杆,记录激光投射点。循环前述操作,最后根据根据检测蜗杆时记录的激光投射点是否在安装模拟公差构件时激光投射点之间判断蜗杆的合格率。与现有技术相比,本方案的优点在于:1.对精度有较高要求的仅有模拟公差构件,因此本方案整体制造工艺较为简单。2.经过激光头的光线放大后,检测者可在观测板上用肉眼判断蜗杆合格与否,判断的方法较为简单,无需进行相关的计算就能直接判断结果。3.检测步骤非常简单,在观测板记录到最大公差值和最小公差值后,检测需要做的仅仅是蜗杆放入插孔,然后放下检测杆,观察激光投射点即可,降低了操作难度,提高了检测的速度。方案二:为基础方案的优选,所述检测座包括标准块与检测块,标准块固定在基座上,检测块固定在标准块的上端面。有益效果:检测座的高度接近与蜗杆两端面的距离是最好的,针对不同型号的蜗杆需要不同高度的检测座,标准块不更换,只需要作出不同的检测块即可,节约了检测座的制作成本。方案三:为方案二的优选,所述激光头与检测杆平行设置。有益效果:激光头与检测杆平行时更容易控制激光的落点。方案四:为方案三的优选,所述最大公差调节件与最小公差调节件的下端面有方形孔,所述基件的上端面具有与方形孔相适应的方形凸起,所述最大公差调节件、最小公差调节件以及基件均为磁性材质。有益效果:工作时需要最大公差调节件堆叠在基件上,方形凸起配合方形孔阻止最大公差调节件相对于基件旋转,最大公差调节件、最小公差调节件以及基件均为磁性材质,在使用状态时相互吸引,增强使用状态时模拟公差构件的稳定性。方案五:为方案四的优选,观测板竖向设置,观测板具有光点记录仪。有益效果:观测板竖向设置可使记录精准,采用光电记录仪,可更快的检测激光头发出的激光,同时更加准确的判断蜗杆合格与否。方案六:为方案五的优选,所述插孔为长条状。有益效果:如果仅仅在检测时旋转蜗杆,就只能检测蜗杆端面上一个圆线的高度,将插孔设置为长条状,使蜗杆除了旋转以外还能进行滑动,检测机构的抬高针就能检测到蜗杆端面上的任意一点。附图说明下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明:图1为本专利技术结构蜗杆测距装置实施例的结构示意图;图2为本专利技术结构蜗杆测距装置实施例中检测机构与模拟公差构件配合测试的示意图;图3为本专利技术结构蜗杆测距装置实施例的具体结构示意图。具体实施方式下面通过具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明:说明书附图中的附图标记包括:基座10、检测机构20、标准块21、检测块22、检测杆23、杆体231、抬高针232、激光头24、观测板30、模拟公差构件40、基件41、调节件42、蜗杆50。如图1与图2所示的蜗杆测距装置,包括基座10、检测机构20、观测板30以及模拟公差构件40,基座10上设有供待检测蜗杆50插入的条形的插孔以及固定检测机构的定位凸台,如图3所示检测机构包括标准块21、检测块22、检测杆23以及激光头24,标准块21下部开有供定位凸台插入的凹槽,5个标准块21竖向堆叠在一起,检测块22固定标准块21的顶部,检测杆23的杆体231一端竖向转动连接于检测块22上,杆体231的另一端固定连接激光头24,杆体231的靠近激光头24的一端的固定抬高针232;观测板30固定在基座10一端,如图2所示激光头24射出的光投射到观测板30;模拟公差构件40包括基件41与调节件42,调节件42固定在基件41的顶部。检测方法,如图2所示将模拟公差构件40的基件41插入基座10的插孔,然后将调节件42固定在基座10的顶部,该调节件42加上基件41的高度等于蜗杆50端面间的最大公差值。抬高针232的头部抵住调节件42的上端面,开启激光头24,激光头24发射激光投射到观测板30上,检测者在观测板30上记录下第一个投射点,然后拆除调节件42,更换成另一个调节件42,该调节件42与基件41堆叠的高度等于蜗杆50端面间的最小公差本文档来自技高网...
蜗杆测距装置

【技术保护点】
蜗杆测距装置,包括基座、检测机构、观测板以及模拟公差构件,基座上开设有插孔,其特征在于,检测机构固定在基座上,检测机构包括检测座、检测杆与激光头,检测杆的一端竖直方向上转动连接在检测块上,检测杆的另一端固定所述激光头,检测杆的靠近激光头的一端的具有抬高针;观测板固定在基座上;模拟公差构件包括基件、最大公差调节件与最小公差调节件,所述基件固定连接在基座上,所述最大公差调节件或最小公差调节件堆叠在基件上,所述最大公差调节件与最小公差调节件位于抬高针的下方。

【技术特征摘要】
1.蜗杆测距装置,包括基座、检测机构、观测板以及模拟公差构件,基座上开设有插孔,其特征在于,检测机构固定在基座上,检测机构包括检测座、检测杆与激光头,检测杆的一端竖直方向上转动连接在检测块上,检测杆的另一端固定所述激光头,检测杆的靠近激光头的一端的具有抬高针;观测板固定在基座上;模拟公差构件包括基件、最大公差调节件与最小公差调节件,所述基件固定连接在基座上,所述最大公差调节件或最小公差调节件堆叠在基件上,所述最大公差调节件与最小公差调节件位于抬高针的下方。2.根据权利要求1所述的蜗杆测距装置,其特征在于:所述检...

【专利技术属性】
技术研发人员:王文革
申请(专利权)人:重庆市永川区益锐机械有限责任公司
类型:发明
国别省市:重庆,50

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