一种灯加热的基片温控系统技术方案

技术编号:15286738 阅读:90 留言:0更新日期:2017-05-10 00:10
一种灯加热的基片温控系统,主要解决现有温控系统对基片表面温度无法控制的问题。本发明专利技术提供一种灯加热的基片温控系统,包括灯管、基片支架和功率控制器。本发明专利技术的灯加热温控系统可以很好的控制基片在工艺反应中的基片温升情况,并且可以实现产品的连续性生产,大幅度的提高设备的产能,具有构思独特、简单易行,适用于半导体设备的低温工艺中,具有良好的推广前景。

Substrate temperature control system for heating lamp

The utility model relates to a temperature control system for a substrate heated by a lamp, which mainly solves the problem that the existing temperature control system can not control the surface temperature of the substrate. The invention provides a substrate temperature control system for lamp heating, which comprises a lamp tube, a substrate bracket and a power controller. The lamp heating temperature control system of the invention can control the substrate very well in the process in the reaction of substrate temperature, and can realize the continuous production of products, greatly improve the production capacity of the equipment, has a unique design, simple and easy, suitable for semiconductor devices at low temperature process, with good promotion prospects.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种灯加热的基片温控系统,属于半导体薄膜制备及应用

技术介绍
随着半导体行业的快速发展,薄膜制备设备在半导体行业中的比重越来越大,对薄膜沉积的温度要求越来越低。其中,PECVD设备在薄膜制备中占有很大的比重,而低温工艺的应用在PECVD设备中同样占有很大的比重,低温工艺中需要保证基片表面的温度低于表面所能承受的最高温度(一般不超过220℃)。因此保证低温工艺中基片表面的温度是一个非常重要的事情。目前,灯光加热系统在PECVD低温工艺中已经展开了应用。使得工艺中基片的温度保持低于所能承受的最高温度,提高薄膜制备的质量。传统温控系统采用电阻丝加热的方式,工艺过程中电阻丝加热的设定温度不变,随着反应的进行,基片表面的温度逐渐升高,因此只能通过分次沉积,缩短反应时间来达到控制基片表面温度的目的。这样会很大程度上地降低产能。
技术实现思路
本专利技术以解决上述问题为目的,主要解决现有加热盘温控系统无法控制基片表面温度的问题,提供一种灯加热的基片温控系统本专利技术采用灯光加热代替电阻丝加热的方式,只需要通过功率控制器来调节灯的功率,从而达到快速控制基片温度的目的。为实现上述目的,本专利技术采用下述技术方案:一种灯加热的基片温控系统,包括灯管、基片支架和功率控制器;所述灯管上方安装基片支架,所述功率控制器与灯管通过导线连接,使得基片表面的温升不超过工艺起始温度的3%。进一步地,所述温控系统的工艺温度小于350℃。进一步地,所述灯管为日光灯,功率为0-1200w。工作原理:本专利技术的灯加热的基片温控系统是采用控制灯的功率达到控制光强的目的,进而达到可以自动的控制工艺反应过程中基片的温度。工艺开始前,通过灯光将基片加热至工艺设定温度(例如180℃),反应开始时将灯的功率降低,光强变弱,此时基片温度的维持主要来自工艺反应中的放热,此热量不足以使得基片温度超过它所能承受的最高温度,以此达到控制基片表面温度的目的。本专利技术的有益效果及特点:本专利技术的温控系统采用灯加热可以更快更好的控制基片的温度,避免了工艺反应过程中基片温度的升高。工艺反应中基片温度不会随着反应时间的变长而增高,因此该加热装置很大程度上提高了产能。该装置具有构思独特、简单易行,适用于半导体设备的低温工艺中,具有良好的推广前景。附图说明图1是本专利技术的温控系统的结构示意图;具体实施方式下面结合实施例进一步对本专利技术进行详细说明,但专利技术保护内容不局限于所述实施例:如图1所示,一种灯加热的基片温控系统,包括灯管1、基片支架2和功率控制器3;所述灯管1上方安装基片支架2,所述功率控制器3与灯管1连接,使得基片表面的温升不超过工艺起始温度的3%。所述灯管为日光灯。温控系统的工艺温度为180℃。在180℃PECVD(等离子体增强化学气相沉积)低温TEOS(正硅酸乙酯)工艺中,采用热交换器控温的加热盘进行薄膜沉积时,具体操作流程为:在工艺反应开始前,采用灯管1将基片支架2上的基片加热至180℃,工艺开始后,通过功率控制器3将灯管1的功率降低,使得基片的温度不超过220℃,具体实验参数如下表所示,从表中可得出在工艺反应过程中基片温度不会随着反应时间的变长而增高。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种灯加热的基片温控系统,其特征在于,包括灯管、基片支架和功率控制器;所述灯管上方安装基片支架,所述功率控制器与灯管通过导线连接,使得基片表面的温升不超过工艺起始温度的3%。

【技术特征摘要】
1.一种灯加热的基片温控系统,其特征在于,包括灯管、基片支架和功率控制器;所述灯管上方安装基片支架,所述功率控制器与灯管通过导线连接,使得基片表面的温升不超过工艺起始温度的3%。2.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘忆军吴围于棚
申请(专利权)人:沈阳拓荆科技有限公司
类型:发明
国别省市:辽宁;21

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1