一种O型圈全检系统技术方案

本实用新型专利技术提出一种O型圈全检系统，包括：取料装置；送料装置，包括振动盘及输送带，所述振动盘用于对所述O型圈进行定向排列，所述振动盘包括料斗、底盘及送料器，所述取料装置用于把O型圈送入料斗，所述送料器的输出端与所述输送带连接；自动光学检测装置，包括测试平台，所述测试平台设于所述输送带的输出口的下方，所述测试平台用于对所述O型圈进行检测。本实用新型专利技术通过在送料装置中增加了一个振动盘，从而大大提高了自动光学检测装置的检测效率及精度，同时使得本实用新型专利技术的O型圈全检系统是一个能够实现直径小于1.0mm的O型圈自动全检的系统，从而减小了直径小于1.0mm的O型圈的检测成本。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光学检测
，尤其是一种O型圈全检系统。
技术介绍
现有的皮带式的全自动光学全检机受限于送料系统，皮带式送料系统为了将产品梳理成个别分开的状态，会在送料系统的终端使用自动滚动的毛刷，但毛刷会使线径小于1.00mm以下的O型圈打卷而无法透过光学镜头全检，所以只能检直径在1.00mm以上的O型密封圈。一般来说，尺寸小于1.00mm的密封圈，精度要求会更严格，如果不能用全检机全检，则小直径产品就无法实现零缺陷的质量保证。但如果加装一个振动盘送料系统，透过振动盘将料直接送到毛刷之后的排列皮带上，则可顺利进行全检。
技术实现思路
为了解决上述问题，本技术提出一种能够对尺寸小于1.00mm的O型圈进行全检的O型圈全检系统。本技术通过以下技术方案实现的：本技术提出一种O型圈全检系统，包括：取料装置；送料装置，包括振动盘及输送带，所述振动盘用于对所述O型圈进行定向排列，所述振动盘包括料斗、底盘及送料器，所述振动盘用于对所述O型圈进行排列，所述送料器的输出端与所述输送带连接；自动光学检测装置，包括测试平台，所述测试平台设于所述输送带的输出口的下方，所述测试平台用于对所述O型圈进行检测。进一步的，所述底盘下面设置有驱动器，所述料斗为筒状，料斗内壁固定有螺旋上升的O型圈道，O型圈道在顶端向着料斗外壁螺旋下降设置，O型圈道的出口端连接着送料器，料斗的外部设置有O型圈承接槽，O型圈承接槽位于料斗外壁的O型圈道的下面。进一步的，所述料斗外壁的O型圈道下降部分为窄道，窄道的宽度与O型圈的外径一致。进一步的，所述测试平台包括光信号采集装置、信号处理电路、主控制电路，所述光信号采集装置用于采集O型圈的光信号；所述信号处理电路的输入端与所述光信号采集装置的输出端连接，所述信号处理电路用于将采集的O型圈的光信号转化为电信号输出；所述主控制电路的信号输入端与所述信号处理电路的信号输出端连接，所述主控制电路用于接收电信号并判断所述O型圈是否合格。本技术的有益效果：1.本技术通过在送料装置中增加了一个振动盘，使得经过送料装置输出的O型圈依次定向排列并进入检测平台，从而大大提高了自动光学检测装置的检测效率及精度，同时由于振动盘的设计，使得所述O型圈全检系统中不需要使用毛刷来梳理O型圈，使得直径小于1.00mm的O型圈不会因为出现打卷的情况而没有被自动光学检测装置进行全检，从而使得本技术的O型圈全检系统是一个能够实现直径小于1.0mm的O型圈自动全检的系统，从而减小了直径小于1.0mm的O型圈的检测成本。附图说明图1为本技术的一种示意图O型圈全检系统的结构方框图；图2为本技术的振动盘的结构示意图。具体实施方式为了更加清楚、完整的说明本技术的技术方案，下面结合附图对本技术作进一步说明。请参考图1，本技术本技术提出一种O型圈全检系统，包括取料装置1、送料装置2及自动光学检测装置。优选的，请参考图1-图2，所述送料装置2包括振动盘22及输送带21，所述振动盘22用于对所述O型圈进行定向排列，所述振动盘22包括料斗226、底盘221及送料器225，所述取料装置1用于把O型圈送入料斗226，所述送料器225的输出端与所述输送带21连接，待振动盘22对O型圈进行定向排列之后，所述送料器225把定向排列的O型圈传到所述输送带21上。具体的，请参考图2，所述底盘221下面设置有驱动器，所述料斗226为筒状，料斗226内壁固定有螺旋上升的O型圈道222，O型圈道222在顶端向着料斗外壁的螺旋下降设置，O型圈道222的出口端连接着送料器225；料斗226的外部设置有O型圈承接槽223，O型圈承接槽223位于料斗226外壁的O型圈道222的下面。所述振动盘22在使用时，O型圈放在料斗226内，驱动器带动底盘221振动，在振动作用力下，O型圈进入O型圈道222，并在O型圈道222上前进。更具体的，请参考图2，所述料斗226外壁的O型圈道222下降部分为窄道224，窄道224的宽度与O型圈的外径一致。O型圈运动到变窄口227时，只有纵向分布在料斗外壁的O型圈道222上的O型圈能进入窄道224，其他形式在O型圈道222上的O型圈都会在变窄口227掉落，被O型圈承接槽223承接；进入窄道224的O型圈进入送料器225，并被整齐有序地输送出去。优选的，所述自动光学检测装置包括测试平台3，所述测试平台3设于所述输送带21的输出口的下方，所述测试平台3用于对所述O型圈进行检测。具体的，所述测试平台3包括光信号采集装置31、信号处理电路32、主控制电路33，所述光信号采集装置31用于采集O型圈道222的光信号；所述信号处理电路32的输入端与所述光信号采集装置31的输出端连接，所述信号处理电路32用于将采集的O型圈道222的光信号转化为电信号输出；所述主控制电路33的信号输入端与所述信号处理电路32的信号输出端连接，所述主控制电路33用于接收电信号并判断所述O型圈是否合格。本技术通过在送料装置2中增加了一个振动盘22，使得经过送料装置2输出的O型圈依次定向排列并进入检测平台，从而大大提高了自动光学检测装置的检测效率及精度，同时由于振动盘22的设计，使得所述O型圈全检系统中不需要使用毛刷来梳理O型圈，使得直径小于1.00mm的O型圈不会因为出现打卷的情况而没有被自动光学检测装置进行全检，从而使得本技术的O型圈全检系统是一个能够实现直径小于1.0mm的O型圈自动全检的系统，从而减小了直径小于1.0mm的O型圈的检测成本。当然，本技术还可有其它多种实施方式，基于本实施方式，本领域的普通技术人员在没有做出任何创造性劳动的前提下所获得其他实施方式，都属于本技术所保护的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种O型圈全检系统，其特征在于，所述O型圈全检系统包括：取料装置；送料装置，包括振动盘及输送带，所述振动盘用于对所述O型圈进行定向排列，所述振动盘包括料斗、底盘及送料器，所述取料装置用于把O型圈送入料斗，所述送料器的输出端与所述输送带连接；自动光学检测装置，包括测试平台，所述测试平台设于所述输送带的输出口的下方，所述测试平台用于对所述O型圈进行检测。

【技术特征摘要】
1.一种O型圈全检系统，其特征在于，所述O型圈全检系统包括：取料装置；送料装置，包括振动盘及输送带，所述振动盘用于对所述O型圈进行定向排列，所述振动盘包括料斗、底盘及送料器，所述取料装置用于把O型圈送入料斗，所述送料器的输出端与所述输送带连接；自动光学检测装置，包括测试平台，所述测试平台设于所述输送带的输出口的下方，所述测试平台用于对所述O型圈进行检测。2.根据权利要求1所述的O型圈全检系统，其特征在于，所述底盘下面设置有驱动器，所述料斗为筒状，料斗内壁固定有螺旋上升的O型圈道，O型圈道在顶端向着料斗外壁螺旋下降设置，O型圈道的出口端连接着送料器，料斗的外部设...

【专利技术属性】
技术研发人员：利子珑，
申请(专利权)人：东莞市杜一特橡胶制品有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44