基于FLEX的平衡调制解调器测试电路制造技术

一种基于FLEX的平衡调制解调器测试电路，包括第一运算放大器，其包括放大器、比较器、集成输出放大器；第二运算放大器，其包括放大器、比较器、集成输出放大器；及其中，所述第一放大器和第二放大器具有两路不同输入通道，一个时间只有一路工作。本发明专利技术采用的电路与现有技术相比，其优点是：解决了传统无法测试既有调制器又有解调器测试要求的器件，实现了调制器、解调器的测试方法，保证了测试的速度和精度，实现了稳定的小电流测试功能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路测试技术，尤其涉及使用大规模集成电路测试系统MicroFLEX进行航天用平衡调制/解调器AD630测试的方法。
技术介绍
AD630是平衡调制/解调器，每通道带宽2Mhz，能从100dB噪声中恢复信号，1khz互调干扰小于-120dB，可编程闭环增益±1，±2，闭环增益精度和匹配度0.05%，在航天型号中有广泛的应用。然而，现有技术无法测试精度如此高又有动态参数测试要求的器件，无法实现动态参数、高精度的测试方法，并有较好的稳定性。大规模集成电路测试系统MicroFLEX具有高速，高精度测试的功能，且有比较完善的窗口编辑界面，适合用于此类高速、高精度器件的测试，在FLEX上开发AD630的测试程序并设计相关测试线路，可较好地满足测试要求。因此，为了进行电性能测试，业界需要有高速，高精度的测试设备和测试线路。
技术实现思路
本专利技术旨在使用大规模集成电路测试系统MicroFLEX来进行平衡调制/解调器AD630的测试，解决了传统无法测试既有调制器又有解调器测试要求的器件，实现了调制器、解调器的测试方法，并有较好的稳定性。为了达成上述目的，提供了一种基于FLEX的平衡调制解调器测试电路，包括第一运算放大器，其包括放大器、比较器、集成输出放大器；第二运算放大器，其包括放大器、比较器、集成输出放大器；及其中，所述第一放大器和第二放大器具有两路不同输入通道，一个时间只有一路工作。一些实施例中，还包括比较器电路。一些实施例中，所述测试电路的继电器连接USERPOWER5V和UDBxx。一些实施例中，用DC30仪表提供器件电源。一些实施例中，用三路运放测试仪表连接所述两个运算放大器以及所述比较器电路。本专利技术采用的电路与现有技术相比，其优点是：解决了传统无法测试既有调制器又有解调器测试要求的器件，实现了调制器、解调器的测试方法，保证了测试的速度和精度，实现了稳定的小电流测试功能。以下结合附图，通过示例说明本专利技术主旨的描述，以清楚本专利技术的其他方面和优点。附图说明结合附图，通过下文的详细说明，可更清楚地理解本专利技术的上述及其他特征和优点，其中：图1为根据本专利技术实施例的测试电路的方块图；及图2为根据本专利技术实施例的测试电路的电路图。具体实施方式参见本专利技术具体实施例的附图，下文将更详细地描述本专利技术。然而，本专利技术可以以许多不同形式实现，并且不应解释为受在此提出之实施例的限制。相反，提出这些实施例是为了达成充分及完整公开，并且使本
的技术人员完全了解本专利技术的范围。现参考附图详细说明根据本专利技术实施例的一种基于FLEX的平衡调制解调器测试电路。如图1所示，根据本专利技术实施例的测试电路包括第一运算放大器，其包括放大器、比较器、集成输出放大器；第二运算放大器，其包括放大器、比较器、集成输出放大器；及其中，所述第一放大器和第二放大器具有两路不同输入通道，一个时间只有一路工作。本专利技术设计了一种基于FLEX系统的测试线路。用不同角度理解AD630调制/解调器件的内部功能连接，把放大器、比较器、集成输出放大器结合成一个运放电路。这个放大器由两路不同输入通道，一个时间只有一路工作。复杂电路简单化，把AD630调制/解调器件看作两个运算放大器、一个比较器分解测试。考虑到满足高性能测试的要求，用DC30仪表提供器件电源，用三路运放测试资源提供两个运放、一个比较器电路的测试，继电器连接USERPOWER5V和UDBxx。现参考图2，详细描述使用FLEX进行平衡调制/解调器AD630的测试电路。电源电流（Is）：器件上电工作，用DC30通道加电压测电流。电源电压抑制比（PSRR）：器件给±13.5V上电工作，选择A路放大器，两个输入端同时接地，输出设定1.4V，仪表内部运放环增益Gain设定10K，用PLMeter测量仪表内部OAL点电压V1，改变器件工作电压±16.5V，用PLMeter测量仪表内部OAL点电压V2，计算PSRR=20*log(deltaV/(2*deltaVps)*Gain)。选择B路放大器，用相同办法测量PSRR。偏置电压（Voffset）：器件给±15V上电工作，选择A路放大器，两个输入端同时接地，输出设定1.4V，仪表内部运放环增益Gain设定1K，用PLMeter测量仪表内部OAL点电压V1即为Voffset。选择B路放大器，用相同办法测量Voffset。偏置电流（Ibias/Ioffset）：器件给±15V上电工作，选择A路放大器，两个输入端同时接地，输出设定1.4V，仪表内部运放环增益Gain设定10K，用PLMeter测量两个输入脚的输入电流即为Ibias，两者之差即为Ioffset。选择B路放大器，用相同办法测量Ibias，Ioffset。共模抑制比（CMRR）：器件给±15V上电工作，选择A路放大器，两个输入端同时接地，输出设定1.4V，仪表内部运放环增益Gain设定10K，用PLMeter测量仪表内部OAL点电压V1，两个输入端同时接1.5V，用PLMeter测量仪表内部OAL点电压V2，计算CMRR=20*log(deltaV/(deltaVin*Gain)。选择B路放大器，用相同办法测量CMRR。输出电压摆幅（Vout）：器件给±15V上电工作，选择A路放大器，负载设定2K欧姆，一路输入接地，另外一路输入接0.1V，用PLMeter测量仪表测量运放输出电压V1，改变一路输入从0.1V到-0.1V，用PLMeter测量仪表测量运放输出电压V2，即为输出摆幅。选择B路放大器，用相同办法测量输出电压摆幅。开环增益（AVOL）：器件给±15V上电工作，选择A路放大器，两个输入端同时接地，输出设定0.25V，仪表内部运放环增益Gain设定10K，用PLMeter测量仪表内部OAL点电压V1，改变输出设定为2V，用PLMeter测量仪表内部OAL点电压V2，计算AVOL=20*log(deltaVset/(deltaV*Gain);选择B路放大器，用相同办法测量开环增益比较器输入偏置电流（Ibias）：器件给±15V上电工作，比较器输入同时给5V电压，用PLMeter测量输入偏置电流Ibias。比较器通道状态电流（Isink）：器件给±15V上电工作，比较器输入同时给5V电压，测量比较器输出脚在电平-Vs+0.4V时的电流。本专利技术采用的电路与现有技术相比，其优点是：解决了传统无法测试既有调制器又有解调器测试要求的器件，实现了调制器、解调器的测试方法，保证了测试的速度和精度，实现了稳定的小电流测试功能。以上详细描述了本专利技术的较佳具体实施例。应当理解，本领域的普通技术人员无需创造性劳动就可以根据本专利技术的构思做出诸多修改和变化。凡本
中技术人员依本专利技术的构思在现有技术的基础上通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案，皆应在由权利要求书所确定的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于FLEX的平衡调制解调器测试电路，其特征在于，包括：第一运算放大器，其包括放大器、比较器、集成输出放大器；第二运算放大器，其包括放大器、比较器、集成输出放大器；及其中，所述第一放大器和第二放大器具有两路不同输入通道，一个时间只有一路工作。

【技术特征摘要】
1.一种基于FLEX的平衡调制解调器测试电路，其特征在于，包括：
第一运算放大器，其包括放大器、比较器、集成输出放大器；
第二运算放大器，其包括放大器、比较器、集成输出放大器；及
其中，所述第一放大器和第二放大器具有两路不同输入通道，一个时间只有一路工作。
2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括比...

【专利技术属性】
技术研发人员：许伟达，徐导进，
申请(专利权)人：上海精密计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：上海;31