【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及塞尺检定技术，尤其涉及一种塞尺全自动检定装置及检定方法。
技术介绍
1、塞尺又称测微片或厚薄规，是具有固定厚度的一种实物量具，塞尺一般由成组的多片组成，每片塞尺形状相同，但厚度不同。机械工程上试验人员常用塞尺进行机械件的间隙检测、平面度检测等。因此，塞尺在科研生产、军事装备等方面具有不可取代的作用，其本身的精度至关重用。国家于2017年出台了jjg62-2017《塞尺检定规程》用于规范塞尺的检定项目和方法。其中，按照规定的方法需要进行逐点手动测量，经测算，完成一组塞尺检定人员需要用时约40分钟，极大的占用了人力成本，且这种长时间手动测量大幅度增加了人员出错概率。目前传统实验室测量塞尺方法为万能测长仪测量，这种仪器重达200kg，占地1000mm×400mm，不能搬运，无法实现现场异地测量。
2、目前专利文献中有“一种测量塞尺厚度的计量装置(cn202220042699.8)”，该装置采用电磁铁吸附原理，占地面积较大，且只测塞尺厚度，不对塞尺弯曲进行测量，不满足国标要求。
技术实现思路
1、为了解决上述技术问题，本专利技术通过对机构装置的结构设计完成一套塞尺全自动检定装置，塞尺的检测在上料后一键式自动测量，无需人员在旁操作。其中检定装置完成自动寻点测量塞尺厚度，机构翻转完成塞尺弯曲度的检定。
2、本专利技术提供了一种塞尺全自动检定装置，其特征在于，其包括底板、高精度光栅测量系统(1)、翻转定位轴(2)、三轴运动平台机构(3)、上料架(4)和上位机
3、进一步的是，所述高精度光栅测量系统(1)由光栅测量仪(10)进行量值测量，测量系统的接触方式采用“点-面”接触，以翻转定位轴轴线(13)为界，一端为圆形测头，另一端为平面测头，塞尺沿着翻转定位轴轴线(13)进料。
4、进一步的是，所述圆形测头选用球侧头(11)，所述平面测头选用直径12mm的平侧头(12)，所述球侧头(11)点测多个局部测点(15)。
5、进一步的是，所述三轴运动平台机构(3)采用高精度三轴定位系统，带动上料架(4)进行x-y-z三个方向的精确移动和定位，将塞尺送至高精度光栅测量系统(1)的检测位置。
6、进一步的是，所述上料架(4)装有一组包含各种厚度的单片塞尺。
7、进一步的是，所述上料架(4)为专用的，不同塞尺形状定制不同的上料架(4)。
8、进一步的是，所述上料架(4)根据塞尺形状进行镂空设计，镂空宽度略大于塞尺宽度，上料架(4)上拥有多组塞尺定位槽(41)，每组定位槽(41)各有多个固定托(42)用于支撑塞尺。
9、进一步的是，所述上位机为平板，通过wifi6无线通讯连接，通过平板显示器显示，根据自定义模板完成自动化原始记录。
10、进一步的是，所述塞尺全自动检定装置占地尺寸为约400mm×400mm，重量为约50kg。
11、本专利技术还提供了一种塞尺全自动检定方法，其使用上述塞尺全自动检定装置，其特征在于，包括下述步骤：
12、将一组被测塞尺从薄到厚固定在专用的上料架(4)上，上料架(4)装入三轴运动平台机构(3)，上位机确认安装完毕后运动平台按指定程序运动，将第一片塞尺移至高精度光栅测量系统(1)的光栅测量仪(10)正下方，光栅测量仪(10)测量α正，翻转定位轴(2)即翻转机构翻转180°，光栅测量仪(10)再次测量α反，完成第一片塞尺测量后，三轴运动平台机构(3)继续运动将第二片塞尺移至光栅测量仪(10)正下方，重复上述测量过程完成整组塞尺的检定工作，完成测量后，上位机生成数据报告。
13、本专利技术根据国标jjg62对塞尺厚度、弯曲度检定项目的指标要求，提出了一种全自动的塞尺检定装置，该装置不但能完成塞尺中心厚度测量，还可以测量塞尺各点局部厚度和其弯曲度，满足实验室检定人员一键式自动测量，大大节约了检定时间。
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1.一种塞尺全自动检定装置，其特征在于，其包括底板、高精度光栅测量系统(1)、翻转定位轴(2)、三轴运动平台机构(3)、上料架(4)和上位机，所述底板一侧为“凹”型，具有两个向上的支撑壁，三轴运动平台机构(3)固定安装于支撑壁顶部，所述上料架(4)跨接架设于三轴运动平台机构(3)，用于放置塞尺，所述底板另一侧固定有支架，支架上架设有翻转定位轴(2)，高精度光栅测量系统(1)固定于翻转定位轴(2)，工作时，所述三轴运动平台机构(3)承载装有塞尺的上料架(4)进行三维运动，将指定塞尺移至高精度光栅测量系统(1)进行量值检定，所述翻转定位轴(2)带动所述高精度光栅测量系统(1)翻转，所述上位机用于记载和显示数据。
2.根据权利要求1所述的塞尺全自动检定装置，其特征在于，所述高精度光栅测量系统(1)由光栅测量仪(10)进行量值测量，测量系统的接触方式采用“点-面”接触，以翻转定位轴轴线(13)为界，一端为圆形测头，另一端为平面测头，塞尺沿着翻转定位轴轴线(13)进料。
3.根据权利要求2所述的塞尺全自动检定装置，其特征在于，所述圆形测头选用球侧头(11)，所述平面
4.根据权利要求1所述的塞尺全自动检定装置，其特征在于，所述三轴运动平台机构(3)采用高精度三轴定位系统，带动上料架(4)进行X-Y-Z三个方向的精确移动和定位，将塞尺送至高精度光栅测量系统(1)的检测位置。
5.根据权利要求1所述的塞尺全自动检定装置，其特征在于，所述上料架(4)装有一组包含各种厚度的单片塞尺。
6.根据权利要求1所述的塞尺全自动检定装置，其特征在于，所述上料架(4)为专用的，不同塞尺形状定制不同的上料架(4)。
7.根据权利要求1所述的塞尺全自动检定装置，其特征在于，所述上料架(4)根据塞尺形状进行镂空设计，镂空宽度略大于塞尺宽度，上料架(4)上拥有多组塞尺定位槽(41)，每组定位槽(41)各有多个固定托(42)用于支撑塞尺。
8.根据权利要求1所述的塞尺全自动检定装置，其特征在于，所述上位机为平板，通过wifi6无线通讯连接，通过平板显示器显示，根据自定义模板完成自动化原始记录。
9.根据权利要求1所述的塞尺全自动检定装置，其特征在于，所述塞尺全自动检定装置占地尺寸为约400mm×400mm，重量为约50kg。
10.一种塞尺全自动检定方法，其使用权利要求1～9中任一项所述的塞尺全自动检定装置，其特征在于，包括下述步骤：
...【技术特征摘要】
1.一种塞尺全自动检定装置，其特征在于，其包括底板、高精度光栅测量系统(1)、翻转定位轴(2)、三轴运动平台机构(3)、上料架(4)和上位机，所述底板一侧为“凹”型，具有两个向上的支撑壁，三轴运动平台机构(3)固定安装于支撑壁顶部，所述上料架(4)跨接架设于三轴运动平台机构(3)，用于放置塞尺，所述底板另一侧固定有支架，支架上架设有翻转定位轴(2)，高精度光栅测量系统(1)固定于翻转定位轴(2)，工作时，所述三轴运动平台机构(3)承载装有塞尺的上料架(4)进行三维运动，将指定塞尺移至高精度光栅测量系统(1)进行量值检定，所述翻转定位轴(2)带动所述高精度光栅测量系统(1)翻转，所述上位机用于记载和显示数据。
2.根据权利要求1所述的塞尺全自动检定装置，其特征在于，所述高精度光栅测量系统(1)由光栅测量仪(10)进行量值测量，测量系统的接触方式采用“点-面”接触，以翻转定位轴轴线(13)为界，一端为圆形测头，另一端为平面测头，塞尺沿着翻转定位轴轴线(13)进料。
3.根据权利要求2所述的塞尺全自动检定装置，其特征在于，所述圆形测头选用球侧头(11)，所述平面测头选用直径12mm的平侧头(12)，所述球侧头(11)点测多个局部测点(15)。
4.根据权利要求1所...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈继刚，王海涛，毛志勇，田芳怡，任黎丽，倪博，
申请(专利权)人：上海精密计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：
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