一种校准杂散光测试系统的装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术属于空间光学系统杂散光标校技术领域，公开了一种校准杂散光测试系统的装置和方法。本发明专利技术提供了一种校准杂散光测试系统的装置和方法，充分证明了点源透过率法(PST)更适合于大口径、高杂散光抑制比要求的空间光学系统。实验结果表明，杂散光测试系统PST的测量范围达到了10<supgt;‑3</supgt;～10<supgt;‑10</supgt;，完全满足测试要求。其测试结果可用于遮光罩的校正等应用，为空间光学系统杂散光的抑制提供了一定的借鉴意义。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于空间光学系统杂散光标校，尤其涉及一种校准杂散光测试系统的装置和方法。

技术介绍

1、随着空间光学技术的快速发展及光电探测器件灵敏度的不断提高，大视场、多光谱、高分辨率的遥感系统在航空、航天等领域的应用越来越广泛。空间光学系统杂散光抑制能力与评价指标逐渐严苛，提升杂散光抑制能力和仿真分析势在必行。

2、空间光学系统在视场外具有强辐射的环境中工作，需评估空间光学系统对轴外杂散光的抑制能力。点源透过率(pst)是一种能够精准测量同时标定光机系统本身对杂散光抑制能力的测量方法。pst是指光学系统轴外视场角θ的点源目标辐射，经光学系统后在像面处产生的辐照度ed(θ)，与其在光学系统入瞳处的辐照度ei的比值。其数学表达式为

3、

4、pst是国际上较为通用的杂散光评价标准，代表着光机系统本身对杂散光的衰减能力，它与杂散光光源辐射的强度无关，与光线的入射角θ及系统工作波段λ相关。

5、杂散光测试系统是评价空间光学系统杂散光抑制能力的重要设备，需要对其系统的测量范围和测试精度进行标定。本专利技术设计了一套用于杂本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种校准杂散光测试系统的装置的校准方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述校准杂散光测试系统的装置的校准方法，其特征在于，所述校准镜头材料为H-ZF7LA，并在表面镀增透膜，以确保可见光波段透过率大于97％，且在0.66μm波段透过率达到99％。

3.如权利要求1所述校准杂散光测试系统的装置的校准方法，其特征在于，所述校准镜头的具体指标为：工作波段为0.66μm，焦距为250mm，视场角为6°，F数为5。

4.如权利要求1所述校准杂散光测试系统的装置的校准方法，其特征在于，校准方法进一步包括对杂散光的表面辐射能量传输模型进行分析，包括将杂散光...

【技术特征摘要】

1.一种校准杂散光测试系统的装置的校准方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述校准杂散光测试系统的装置的校准方法，其特征在于，所述校准镜头材料为h-zf7la，并在表面镀增透膜，以确保可见光波段透过率大于97％，且在0.66μm波段透过率达到99％。

3.如权利要求1所述校准杂散光测试系统的装置的校准方法，其特征在于，所述校准镜头的具体指标为：工作波段为0.66μm，焦距为250mm，视场角为6°，f数为5。

4.如权利要求1所述校准杂散光测试系统的装置的校准方法，其特征在于，校准方法进一步包括对杂散光的表面辐射能量传输模型进行分析，包括将杂散光线分解为若干相等面积的微面元，计算这些微面元到达像面的辐射积分总和，并利用表面双向散射分布函数和几何因子来确定发射面元的辐射通量。

5.权利要求4所述校准杂散光测试系统的装置的校准方法，其特征在于，杂散光抑制方法包括：降低bsdf通过对光机构件表面进行黑化或镀膜处理，减小gcf通过加装遮光罩或光阑，以及减小dφs上级表面发出的辐射能量，如使用滤光片或降低工作...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢毅，徐熙平，张宁，吕耀文，
申请(专利权)人：长春理工大学，
类型：发明
国别省市：