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本发明属于空间光学系统杂散光标校技术领域，公开了一种校准杂散光测试系统的装置和方法。本发明提供了一种校准杂散光测试系统的装置和方法，充分证明了点源透过率法(PST)更适合于大口径、高杂散光抑制比要求的空间光学系统。实验结果表明，杂散光测试系...
该专利属于长春理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过长春理工大学授权不得商用。

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