本发明专利技术公开了一种显示面板测试装置。所述显示面板测试装置用于对显示面板进行测试，所述显示面板测试装置包括：一机台，所述机台用于承载所述显示面板；一接触针，用于与所述显示面板的接触垫接触，以向所述显示面板输出测试信号；至少两吸附构件组合，所述吸附构件组合包括至少一吸附构件，所述吸附构件设置于所述机台上，所述吸附构件用于吸附所述显示面板，以在所述显示面板接受测试的过程中固定所述显示面板。本发明专利技术能使得所述显示面板在测试过程中保持水平状态，从而使得所述测试装置能够拍摄到处于平直状态的所述显示面板所显示的测试图像，有利于使得测试结果更加精确。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示面板测试
，特别涉及一种显示面板测试装置。
技术介绍
传统的采用窄边框技术的显示面板的边框的宽度较窄。上述显示面板一般都需要进行点灯测试，其中，点灯测试包括人工点灯测试和自动点灯测试，其中，自动点灯测试的技术方案为：点灯机上的压针接触所述显示面板上的接触垫(Pad)，从而将测试信号传输给所述显示面板，测试点灯画面，其中，在进行自动点灯测试时需保持所述显示面板处于水平状态。在实践中，专利技术人发现现有技术至少存在以下问题：在对所述显示面板实施自动点灯测试的过程中，由于所述压针在与所述接触垫接触的过程中会向所述显示面板施加压力，因此会使得所述显示面板翘曲。由于所述显示面板处于非水平状态，因此上述传统的自动点灯测试方案无法得出精确的测试结果。故，有必要提出一种新的技术方案，以解决上述技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种显示面板测试装置，其能使得所述显示面板在测试过程中保持水平状态，从而使得测试结果更加精确。为解决上述问题，本专利技术的技术方案如下：一种显示面板测试装置，所述显示面板测试装置用于对显示面板进行测试，所述显示面板测试装置包括：一机台，所述机台用于承载所述显示面板；一接触针，用于与所述显示面板的接触垫接触，以向所述显示面板输出测试信号；至少两吸附构件组合，所述吸附构件组合包括至少一吸附构件，所述吸附构件设置于所述机台上，所述吸附构件用于吸附所述显示面板，以在所述显示面板接受测试的过程中固定所述显示面板。在上述显示面板测试装置中，所述吸附构件设置于待测试的所述显示面板所处的平面的下方，所述吸附构件用于在所述平面的下方吸附所述显示面板，以固定所述显示面板，以及用于防止所述显示面板的至少一第一部分翘起；其中，所述显示面板的至少一所述第一部分翘起是由所述显示面板的至少一第二部分受到所述接触针挤压引起的。在上述显示面板测试装置中，所述吸附构件包括：一吸附部，所述吸附部用于与所述显示面板的预定部位相接触；一吸气管，所述吸气管与所述吸附部连接。在上述显示面板测试装置中，所述吸附部的横截面的最小外接圆的直径小于或等于所述显示面板的预定部位的黑色矩阵块的线宽，其中，所述预定部位为所述显示面板的边缘部位。在上述显示面板测试装置中，所述显示面板测试装置还包括：至少一抽气机，所述抽气机与至少一所述吸气管连接，所述抽气机用于通过所述吸附构件抽气，以使所述吸附构件向所述显示面板施加吸力。在上述显示面板测试装置中，所述显示面板测试装置还包括：控制电路，所述控制电路与所述吸附构件电性连接，所述控制电路用于控制所述吸附构件吸附所述显示面板，以及用于控制所述吸附构件松开所述显示面板。在上述显示面板测试装置中，所述机台设置有预定区域，所述预定区域为所述机台承载所述显示面板的区域；至少两所述吸附构件组合设置于所述预定区域内，所述吸附构件还用于支撑所述显示面板。在上述显示面板测试装置中，两所述吸附构件组合分布在所述预定区域中与所述显示面板的两侧边相对应的位置处。在上述显示面板测试装置中，至少四所述吸附构件所处的位置分布在所述显示面板四周的边缘部处。在上述显示面板测试装置中，还包括画面检测机，所述画面检测机设置于所述机台上方，所述画面检测机的摄像面与所述显示面板所在的平面平行，所述画面检测机用于拍摄所述显示面板所显示的测试图像，以生成拍摄图像，所述画面检测机还用于通过所述拍摄图像对所述显示面板进行测试分析。相对现有技术，本专利技术能使得所述显示面板在测试过程中保持水平状态，从而使得测试结果更加精确。为让本专利技术的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。【附图说明】图1为本专利技术的显示面板测试装置对显示面板进行测试的示意图；图2为图1所示的显示面板测试装置与显示面板的组合的爆炸视图。【具体实施方式】本说明书所使用的词语“实施例”意指实例、示例或例证。此外，本说明书和所附权利要求中所使用的冠词“一”一般地可以被解释为“一个或多个”，除非另外指定或从上下文可以清楚确定单数形式。参考图1和图2，图1为本专利技术的显示面板测试装置对显示面板105进行测试的示意图，图2为图1所示的显示面板测试装置与显示面板105的组合的爆炸视图。本专利技术的显示面板测试装置用于对显示面板105进行测试，所述显示面板测试装置包括机台101、接触针103、吸附构件组合。所述显示面板105可以是TFT-LCD(ThinFilmTransistorLiquidCrystalDisplay，薄膜晶体管液晶显示面板)、OLED(OrganicLightEmittingDiode，有机发光二极管显示面板)等。其中，所述机台101用于承载所述显示面板105。所述接触针103用于与所述显示面板105的接触垫202接触，以向所述显示面板105输出测试信号。具体地，所述接触针103用于在所述显示面板105的上方与所述显示面板105的所述接触垫202接触，以向所述显示面板105输出测试信号。所述吸附构件组合包括至少一吸附构件201，所述吸附构件201设置于所述机台101上，所述吸附构件201用于吸附所述显示面板105，以在所述显示面板105接受测试的过程中固定所述显示面板105。在本专利技术的显示面板测试装置中，所述吸附构件201设置于待测试的所述显示面板105所处的平面的下方，所述吸附构件201用于在所述平面的下方吸附所述显示面板105，以固定所述显示面板105，以及用于防止所述显示面板105的至少一第一部分翘起。其中，所述显示面板105的至少一所述第一部分翘起是由所述显示面板105的至少一第二部分受到所述接触针103挤压引起的。所述第二部分为所述显示面板105中受所述接触针103挤压的部分，所述第一部分是所述显示面板105中与所述第二部分在位置或方向上相对的部分。在本专利技术的显示面板测试装置中，所述吸附构件201包括吸附部、吸气管。所述吸附部用于与所述显示面板105的预定部位相接触。所述吸气管与所述吸附部连接。所述吸气管用于通过所述吸附部吸气，以在所述吸附部处形成吸力。在本专利技术的显示面板测试装置中，所述吸附部的横截面的最小外接圆的直径小于或等于所述本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种显示面板测试装置，其特征在于，所述显示面板测试装置用于对显示面板进行测试，所述显示面板测试装置包括：一机台，所述机台用于承载所述显示面板；一接触针，用于与所述显示面板的接触垫接触，以向所述显示面板输出测试信号；至少两吸附构件组合，所述吸附构件组合包括至少一吸附构件，所述吸附构件设置于所述机台上，所述吸附构件用于吸附所述显示面板，以在所述显示面板接受测试的过程中固定所述显示面板。
【技术特征摘要】
1.一种显示面板测试装置，其特征在于，所述显示面板测
试装置用于对显示面板进行测试，所述显示面板测试装置包括：
一机台，所述机台用于承载所述显示面板；
一接触针，用于与所述显示面板的接触垫接触，以向所述显
示面板输出测试信号；
至少两吸附构件组合，所述吸附构件组合包括至少一吸附构
件，所述吸附构件设置于所述机台上，所述吸附构件用于吸附所
述显示面板，以在所述显示面板接受测试的过程中固定所述显示
面板。
2.根据权利要求1所述的显示面板测试装置，其特征在于，
所述吸附构件设置于待测试的所述显示面板所处的平面的下方，
所述吸附构件用于在所述平面的下方吸附所述显示面板，以固定
所述显示面板，以及用于防止所述显示面板的至少一第一部分翘
起；
其中，所述显示面板的至少一所述第一部分翘起是由所述显
示面板的至少一第二部分受到所述接触针挤压引起的。
3.根据权利要求2所述的显示面板测试装置，其特征在于，
所述吸附构件包括：
一吸附部，所述吸附部用于与所述显示面板的预定部位相接
触；
一吸气管，所述吸气管与所述吸附部连接。
4.根据权利要求3所述的显示面板测试装置，其特征在于，
所述吸附部的横截面的最小外接圆的直径小于或等于所述显示
面板的预定部位的黑色矩阵块的线宽，其中，所述预定部位为所
述显示面板的边缘部位。
5.根据权利要求3或4所述的显示面板测试装置，其特征
在于，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：夏吉，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42
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