本发明专利技术是关于一种晶闸管级测试设备的校验装置，包括可控晶闸管、可调阻尼电阻、可调阻尼电容、可调均压电阻、阻尼开关和均压开关，可控晶闸管的两极均连接晶闸管级测试设备的测试回路输入端子；可调阻尼电阻与可调阻尼电容串联构成可调阻尼电路，可控晶闸管、可调阻尼电路和可调均压电阻三者并联连接；可控晶闸管的阳极分别连接可调阻尼电阻的一端和可调均压电阻的一端，可控晶闸管的阴极分别连接可调阻尼电容的一端和可调均压电阻的另一端；阻尼开关设置在可调阻尼电路上，均压开关设置在可调均压电阻所在并联支路上。该校验装置结构简单、操控方便、电气状态易改变，对指导晶闸管级试验仪器的校验和研发方面有重要的支撑作用。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及晶闸管级
，尤其涉及一种晶闸管级测试设备的校验装置。
技术介绍
随着高压直流输电在全国的大力发展，基于晶闸管级换流阀的高压直流输电技术在我国得到大规模应用。而晶闸管级作为高压换流阀的基本结构单元，其可靠性直接决定了直流输电系统的运行可靠性。为适应高电压系统的需要通常采用晶闸管级串联的方式，该晶闸管级串联结构示意图如图1所示，为了保证晶闸管级的均压精度，在每级晶闸管上均配置晶闸管级阻尼电路(包含串联的阻尼电阻和阻尼电容)。由于电力电子器件自身的脆弱性，为保证高压换流阀的安全稳定运行，晶闸管级测试设备需要对晶闸管级的阻尼电阻、阻尼电容以及晶闸管触发功能进行测试。目前国内还没有针对高压换流阀用晶闸管级的综合测试系统，因此，在实际生产运用中仍然采用分离测试的方式，即使用晶闸管级测试设备对每一个晶闸管级单元进行测试。晶闸管级测试设备的具体检测步骤如下：首先计算出电路总阻抗；然后计算出阻尼电阻值和阻尼电容值，若阻尼电阻值和阻尼电容值均正常，则说明晶闸管级不短路；最后可通过测试晶闸管导通压降来对晶闸管的触发功能进行测试。由于直流输电系统中晶闸管级数量庞大，导致晶闸管级测试设备采用分离测试方式进行晶闸管级测试时工作量巨大，这就要求晶闸管级测试设备在检测过程中保持稳定良好的测试性能。假如晶闸管级测试设备本身出现偏差或故障，而当测试人员并未及时发现，会导致直流输电系统存在严重的安全隐患；而当测试人员检测中途发现晶闸管级测试设备本身出现偏差或故障，则需要更换晶闸管级测试设备，重新对晶闸管级进行测试。因此，准确对晶闸管级测试设备进行校验对于提高晶闸管级测试的测试效率和保证直流输电系统安全稳定运行都具有重要意义。
技术实现思路
为克服相关技术中存在的问题，本专利技术提供一种晶闸管级测试设备的校验装置。根据本专利技术实施例提供的晶闸管级测试设备的校验装置一种晶闸管级测试设备的校验装置，其特征在于，包括可控晶闸管、可调阻尼电阻、可调阻尼电容、可调均压电阻、阻尼开关和均压开关，其中，可控晶闸管的两极均连接晶闸管级测试设备的测试回路输入端子；可调阻尼电阻与可调阻尼电容串联构成可调阻尼电路，可控晶闸管、可调阻尼电路和可调均压电阻三者并联连接；可控晶闸管的阳极分别连接可调阻尼电阻的一端和可调均压电阻的一端，可控晶闸管的阴极分别连接可调阻尼电容的一端和可调均压电阻的另一端；阻尼开关设置在可调阻尼电路上，均压开关设置在可调均压电阻所在并联支路上。优选地，所述校验装置还包括绝缘箱，所述可控晶闸管、可调阻尼电阻、可调阻尼电容、可调均压电阻、阻尼开关和均压开关均设置于所述绝缘箱的底板上、且均位于所述绝缘箱内。优选地，所述绝缘箱活动设置有顶板，所述顶板上设置有晶闸管触发控制旋钮、阻尼电阻调节旋钮、阻尼电容调节旋钮、均压电阻调节旋钮、阻尼开关旋钮和均压开关旋钮，其中，所述晶闸管触发控制旋钮连接所述可控晶闸管的触发极；所述阻尼电阻调节旋钮、阻尼电容调节旋钮和均压电阻调节旋钮分别与所述可调阻尼电阻、可调阻尼电容和可调均压电阻的调节端子连接；所述阻尼开关旋钮和均压开关旋钮分别与所述阻尼开关和均压开关连接。优选地，所述绝缘箱还包括绝缘支架，所述绝缘支架设置于所述底板上、并支撑所述绝缘箱。优选地，所述绝缘箱中两块相对的侧板各设置有一个观察散热孔，设置有所述观察散热孔的其中一个侧板铰接于所述底板。优选地，所述可调阻尼电阻的调值范围为0-99Ω；所述可调阻尼电容的调值范围为2.0-2.4μF；所述可调均压电阻的调值范围为0-200kΩ。优选地，所述绝缘箱的顶板、底板、侧板和绝缘支架满足10kV绝缘强度。本专利技术的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：本专利技术实施例提供的晶闸管级测试设备的校验装置，包括可控晶闸管、可调阻尼电阻、可调阻尼电容、可调均压电阻、阻尼开关和均压开关，可控晶闸管的两极均连接晶闸管级测试设备的测试回路输入端子；可调阻尼电阻与可调阻尼电容串联构成可调阻尼电路，可控晶闸管、可调阻尼电路和可调均压电阻三者并联连接；可控晶闸管的阳极分别连接可调阻尼电阻的一端和可调均压电阻的一端，可控晶闸管的阴极分别连接可调阻尼电容的一端和可调均压电阻的另一端；阻尼开关设置在可调阻尼电路上，均压开关设置在可调均压电阻所在并联支路上。上述校验装置通过调控可控晶闸管、可调阻尼电阻、可调阻尼电容、可调均压电阻、阻尼开关和均压开关，改变校验装置电路总阻抗和可控晶闸管触发状态，模拟出不同状态下的晶闸管级电气性能参数，实现以晶闸管级电路反向对晶闸管级测试设备的测试功能进行校验。上述校验装置具备结构简单、操控方便以及电气状态易改变等优点，对指导晶闸管级试验仪器的校验和研发方面有重要的支撑作用。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本专利技术。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为现有技术中晶闸管级串联结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种晶闸管级测试设备的校验装置的电路图；图3为本专利技术实施例提供的一种晶闸管级测试设备的校验装置的结构示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种晶闸管级测试设备的校验装置的内部结构示意图。图示如下：1-可控晶闸管、2-可调阻尼电阻、3-可调阻尼电容、4-可调均压电阻、5-阻尼开关、6-均压开关、7-绝缘箱、8-晶闸管触发控制旋钮、9-阻尼电阻调节旋钮、10-阻尼电容调节旋钮、11-均压电阻调节旋钮、12-阻尼开关旋钮、13-均压开关旋钮、14-绝缘支架、15-观察散热孔。具体实施方式这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本专利技术相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本专利技术的一些方面相一致的装置和方法的例子。参见图2、图3和图4，图2为本专利技术实施例提供的一种晶闸管级测试设备的校验装置的电路图，图3为本专利技术实施例提供的一种晶闸管级测试设备的校验装置的结构示意图，图4为本专利技术实施例提供的一种晶闸管级测试设备的校验装置的内部结构示意图。如图2所示，本专利技术提供的晶闸管级测试设备的校验装置，一种晶闸管级测试设备的校验装置，其特征在于，包括可控晶闸管1、可调阻尼电阻2、可调阻尼电容3、可调均压电阻4、阻尼开关5和均压开关6，其中，所述可控晶闸管1的两极均连接晶闸管级测试设备的测试回路输入端子；所述可调阻尼电阻2与所述可调阻尼电容3串联构成可调阻尼电路，所述可控晶闸管1、可调阻尼电路和可调均压电阻4三者并联连接；所述可控晶闸管1的阳极分别连接所述可调阻尼电阻2的一端和所述可调均压电阻4的一端，所述可控晶闸管1的阴极分别连接所述可调阻尼电容3的一端和所述可调均压电阻4的另一端；所述阻尼开关5设置在所述可调阻尼电路上，所述均压开关6设置在所述可调均压电阻4所在并联支路上本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种晶闸管级测试设备的校验装置，其特征在于，包括可控晶闸管(1)、可调阻尼电阻(2)、可调阻尼电容(3)、可调均压电阻(4)、阻尼开关(5)和均压开关(6)，其中，所述可控晶闸管(1)的两极均连接晶闸管级测试设备的测试回路输入端子；所述可调阻尼电阻(2)与所述可调阻尼电容(3)串联构成可调阻尼电路，所述可控晶闸管(1)、可调阻尼电路和可调均压电阻(4)三者并联连接；所述可控晶闸管(1)的阳极分别连接所述可调阻尼电阻(2)的一端和所述可调均压电阻(4)的一端，所述可控晶闸管(1)的阴极分别连接所述可调阻尼电容(3)的一端和所述可调均压电阻(4)的另一端；所述阻尼开关(5)设置在所述可调阻尼电路上，所述均压开关(6)设置在所述可调均压电阻(4)所在并联支路上。
【技术特征摘要】
1.一种晶闸管级测试设备的校验装置，其特征在于，包括可控晶闸管(1)、可调阻尼电阻(2)、可调阻尼电容(3)、可调均压电阻(4)、阻尼开关(5)和均压开关(6)，其中，所述可控晶闸管(1)的两极均连接晶闸管级测试设备的测试回路输入端子；所述可调阻尼电阻(2)与所述可调阻尼电容(3)串联构成可调阻尼电路，所述可控晶闸管(1)、可调阻尼电路和可调均压电阻(4)三者并联连接；所述可控晶闸管(1)的阳极分别连接所述可调阻尼电阻(2)的一端和所述可调均压电阻(4)的一端，所述可控晶闸管(1)的阴极分别连接所述可调阻尼电容(3)的一端和所述可调均压电阻(4)的另一端；所述阻尼开关(5)设置在所述可调阻尼电路上，所述均压开关(6)设置在所述可调均压电阻(4)所在并联支路上。2.根据权利要求1所述的晶闸管级测试设备的校验装置，其特征在于，所述校验装置还包括绝缘箱(7)，所述可控晶闸管(1)、可调阻尼电阻(2)、可调阻尼电容(3)、可调均压电阻(4)、阻尼开关(5)和均压开关(6)均设置于所述绝缘箱(7)的底板上、且均位于所述绝缘箱(7)内。3.根据权利要求2所述的晶闸管级测试设备的校验装置，其特征在于，所述绝缘箱(7)活动设置有顶板，所述顶板上设置有晶闸管触发控制旋钮(8)、阻尼电阻调节旋钮(9)、阻尼电容调节旋钮(1...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭晶，王科，瞿秋南，陈泓宇，谭向宇，刘红文，刘光祺，程志万，彭兆裕，马宏明，徐肖伟，
申请(专利权)人：云南电网有限责任公司电力科学研究院，
类型：发明
国别省市：云南;53
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