【技术实现步骤摘要】
本技术涉及单晶硅制备
,尤其涉及一种用于拉制单晶硅的加热体结构。
技术介绍
在硅制造
,其所采用悬浮区熔法中的线圈主要为区熔法,其是利用铜线圈将多晶硅圆棒的料局部融化后进行拉制的,区熔法为将一多晶硅棒通过环带状加热器,以产生局部融化现象,再控制凝固过程而生长单晶棒,在生长单晶时,使圆柱形硅棒固定于垂直方向旋转,并用高频感应线圈在氩气的气氛中加热,使棒的底部和在其下部靠近的同轴固定的单晶籽晶间形成熔滴,这两个棒朝方向旋转,然后将在多晶棒与籽晶间仅靠表面张力形成的熔区并沿棒长逐步向上移动,进而可将其转换成单晶;但在现有技术中,对于目前同类的装置很多因线圈结构与局部尺寸不合理受限,使其不利于大直径单晶的生长成功率,特别是对于多晶原料的直径不同和不规则运动的形状效果不明显,存在着硅刺现象,导致其成晶不稳定。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足,适应现实需要,提供一种结构设计新颖、合理、可用于大直径单晶的生产、且能够保证其生产效率的用于拉制单晶硅的加热体结构。为了实现本技术的目的,本技术所采用的技术方案为:设计一种用于拉制单晶硅的加热体结构,其特征在于:它包括导电盘,所述导电盘的中部向内凹陷构成弧面,在所述弧面上设有至少五个环绕所述导电盘中心设置的通孔;在所述弧面的中部开设有椭圆形开口,并在所述导电盘上沿该导电盘的半径设有一缺口带,所述缺口带的外端贯穿所述导电盘设置,所述缺口带的内端与所述椭圆形开口连通,其中与所述缺口带相向设置的通孔与所述椭圆形开口连通;在相邻两个通孔之间,且远离所述椭圆形开口的导电盘的弧面上设有一直径小于所述通孔的开口,所 ...
【技术保护点】
一种用于拉制单晶硅的加热体结构,其特征在于:它包括导电盘,所述导电盘的中部向内凹陷构成弧面,在所述弧面上设有至少五个环绕所述导电盘中心设置的通孔;在所述弧面的中部开设有椭圆形开口,并在所述导电盘上沿该导电盘的半径设有一缺口带,所述缺口带的外端贯穿所述导电盘设置,所述缺口带的内端与所述椭圆形开口连通,其中与所述缺口带相向设置的通孔与所述椭圆形开口连通;在相邻两个通孔之间,且远离所述椭圆形开口的导电盘的弧面上设有一直径小于所述通孔的开口,所述开口通过贯穿所述弧面上的开口带与所述椭圆形开口连通;所述缺口带的宽度为5.0~10.0mm;所述开口带的宽度小于所述缺口带的宽度;在所述缺口带端部两侧的导电盘侧壁上设置两个相向设置的连接板;在与所述连接板相向设置的导电盘的侧壁上设有固定片。
【技术特征摘要】
1.一种用于拉制单晶硅的加热体结构,其特征在于:它包括导电盘,所述导电盘的中部向内凹陷构成弧面,在所述弧面上设有至少五个环绕所述导电盘中心设置的通孔;在所述弧面的中部开设有椭圆形开口,并在所述导电盘上沿该导电盘的半径设有一缺口带,所述缺口带的外端贯穿所述导电盘设置,所述缺口带的内端与所述椭圆形开口连通,其中与所述缺口带相向设置的通孔与所述椭圆形开口连通;在相邻两个通孔之间,且远离所述椭圆形开口的导电盘的弧面上设有一直径小于所述通孔的开口,所述开口通过贯穿所述弧面上的开口带与所述椭圆形开口连通;所述缺口带的宽度为5.0~10.0mm;所述开口带的宽度小于所述缺口带的宽度;在所述缺口带端部两侧的导电盘侧壁上设置两个相向设置的连接板;在与所述连接板相向设置的导电盘的侧壁上设有固定片。2.如权利要求1所述的用于拉制单晶硅的加热体结构,...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘波,
申请(专利权)人:九江市庐山新华电子有限公司,
类型:新型
国别省市:江西;36
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