一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术的实施方式提供了一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置及方法，该装置包括：一模式切换电路；模式切换电路的输入端连接第一端口和第二端口，输出端连接芯片的模式控制电路；其中，第一端口为扫描时钟端口SCAN_CLK；第二端口为扫描输入端口SCAN_IN或扫描使能端口SCAN_EN；模式切换电路根据第一端口输出的第一信号序列确定是否进行模式切换，当确定进行模式切换时，根据第二端口输出的第二信号序列生成一模式控制信号并传输给模式控制电路，以使模式控制电路根据模式控制信号控制芯片切换至一待切换模式。本发明专利技术可以低成本地实现在扫描链测试中动态地调整芯片的模式，达到降低功耗和加大驱动能力的目的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术的实施方式涉及扫描链测试
，更具体地，本专利技术的实施方式涉及一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置、芯片及方法。
技术介绍
本部分旨在为权利要求书中陈述的本专利技术的实施方式提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。扫描链测试是可测性设计技术的一种重要方法，这种方法能够从芯片外部设定电路中各个触发器的状态，并通过简单的扫描链设计，扫描观测触发器是否工作在正常状态，以此来检测电路的正确性。随着集成电路设计规模的逐步增大，扫描链测试中同时翻转的电路数量越来越多，这可能会引起测试中瞬态电流增大，造成许多不可预测的错误发生，甚至烧毁芯片。为了避免这些情况，可在扫描链测试过程中动态调整芯片的模式，每种模式下，芯片所集成的各个硬核会有特定的状态(例如处于工作状态或关闭状态)，不同的模式下，硬核的状态可能不同。另一方面，扫描链测试的过程可以分为移位、捕获、测试等阶段，不同阶段对芯片中各种硬核的状态有不同的要求，因此，在扫描链测试的不同阶段，也需要对芯片的模式进行动态调整。此外，硬核的状态对芯片的电流消耗、电源驱动能力等也有较大影响。综上，在扫描链测试中动态地调整芯片的模式(硬核的状态)，对扫描链测试的过程、芯片安全、及功耗控制等具有重要的意义。
技术实现思路
目前已有一种利用外部端口来调整芯片模式的方法，这种方法利用外部端口提供模式控制信号，芯片内部包含一模式控制电路，该模式控制电路连接芯片集成的各个硬核，并根据模式控制信号来调整各个硬核的状态，进而实现芯片模式的转换。这种方法虽然能够实现在扫描链测试中动态地调整芯片模式，但是却必需借助外部端口才能进行，并且由于一个外部端口最多只能提供两种模式控制信号，也就只能控制芯片实现两种模式的转换，当需要在更多模式间进行转换时，就需要借助更多的外部端口。而在实际的芯片生产中，每增加一个外部端口，需要耗费很高的成本，扫描链测试的效率也会受到限制。例如，某一芯片采用8个测试端口，理论上测试机台的64个探针可以同时并行测试8个芯片，但是实际中至少需要一个端口提供模式控制信号，这样测试机台的64个探针最多就只能同时测7个芯片了。可见目前这种利用外部端口提供模式控制信号来实现在扫描链测试中动态调整芯片模式的方法，存在生产成本高、测试效率受限等缺点。为了克服以上缺点，本专利技术提供一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置及方法。在本专利技术实施方式的第一方面中，提供了一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置，包括：一模式切换电路；所述模式切换电路的输入端连接第一端口和第二端口，输出端连接芯片的模式控制电路；其中，所述第一端口为扫描时钟端口SCAN_CLK；所述第二端口为扫描输入端口SCAN_IN或扫描使能端口SCAN_EN；所述模式切换电路根据所述第一端口输出的第一信号序列确定是否进行模式切换，当确定进行模式切换时，根据所述第二端口输出的第二信号序列生成一模式控制信号并传输给所述模式控制电路，以使所述模式控制电路根据所述模式控制信号控制所述芯片切换至一待切换模式。在本专利技术实施方式的第二方面中，提供了一种用于扫描链测试中调整芯片模式的方法，包括：通过第一端口接收第一信号序列，通过第二端口接收第二信号序列；其中，所述第一端口为扫描时钟端口SCAN_CLK，所述第二端口为扫描输入端口SCAN_IN或扫描使能端口SCAN_EN；根据所述第一信号序列确定是否进行模式切换，当确定进行模式切换时，根据所述第二信号序列生成一模式控制信号并传输给芯片的模式控制电路，以使所述模式控制电路根据所述模式控制信号控制所述芯片切换至一待切换模式。在本专利技术实施方式的第三方面中，提供了一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置，包括：一模式切换电路；所述模式切换电路的输入端连接第一端口、第二端口和第三端口，输出端连接芯片的模式控制电路；其中，所述第一端口为扫描时钟端口SCAN_CLK；所述第二端口和所述第三端口为扫描输入端口SCAN_IN、扫描使能端口SCAN_EN中的一种，且所述第二端口和所述第三端口为不同的端口；所述模式切换电路根据所述第一端口输出的第一信号序列确定是否进行模式切换，当确定进行模式切换时，根据所述第二端口输出的第二信号序列和所述第三端口输出的第三信号序列生成一模式控制信号并传输给所述模式控制电路，以使所述模式控制电路根据所述模式控制信号控制所述芯片转换至一待切换模式。在本专利技术实施方式的第四方面中，提供了一种用于扫描链测试中调整芯片模式的方法，包括：通过第一端口接收第一信号序列，通过第二端口接收第二信号序列，通过第三端口接收第二信号序列；其中，所述第一端口为扫描时钟端口SCAN_CLK，所述第二端口和所述第三端口为扫描输入端口SCAN_IN、扫描使能端口SCAN_EN中的一种，且所述第二端口和所述第三端口为不同的端口；根据所述第一信号序列确定是否进行模式切换，当确定进行模式切换时，根据所述第二信号序列和所述第三信号序列生成一模式控制信号并传输给所述模式控制电路，以使所述模式控制电路根据所述模式控制信号控制所述芯片转换至一待切换模式。借助于上述技术方案，本专利技术利用扫描链测试所用的SCAN_CLK、SCAN_IN、SCAN_EN等常规端口，向模式切换电路输入特定的信号序列，模式切换电路自动根据这些信号序列确定是否进行模式切换，以及确定需要切换至哪一种模式，即，本专利技术是在提供模式切换电路的基础上，复用扫描链测试所用的常规端口，实现在扫描链测试中动态地调整芯片的模式。本专利技术无需借助外部端口，只需要提供该模式切换电路即可，相比于现有技术，可以低成本地实现在扫描链测试中动态地调整芯片的模式，达到降低功耗和加大驱动能力的目的。附图说明通过参考附图阅读下文的详细描述，本专利技术示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中，以示例性而非限制性的方式示出了本专利技术的若干实施方式，其中：图1为本专利技术示例性装置一的结构示意图；图2为本专利技术示例性装置一的模式切换电路的一种结构示意图；图3为实施例一提供的模式切换电路的具体结构示意图；图4为实施例一中采用的测试向量的示意图；图5为本专利技术示例性装置二的结构示意图；图6为本专利技术示例性装置二的模式切换电路的一种结构示意图；图7为实施例二提供的模式切换电路的具体结构示意图；图8为实施例二中采用的测试向量的示意图；在附图中，相同或对应的标号表示相同或对应的部分。具体实施方式下面将参考若干示例性实施方式来描述本专利技术的原理和精神。应当理解，给出这些实施方式仅仅是为了使本领域技术人员能够更好地理解进而实现本专利技术，而并非以任何方式限制本专利技术的范围。相反，提供这些实施方式是为了使本公开更加透彻和完整，并且能够将本公开的范围完整地传达给本领域的技术人员。示例性装置一本专利技术提供一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置，如图1所示，包括：一模式切换电路；该模式切换电路的输入端连接第一端口和第二端口，输出端连接芯片的模式控制电路。其中，所述第一端口为扫描时钟端口SCAN_CLK；所述第二端口为扫描输入端口SCAN_IN或扫描使能端口SCAN_EN。所述模式切换电路根据所述第一端口输出的第一信号序列确定是否进行模式切换，当确定进行模式切换时，根据所述第二端口输出的第二本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置，其特征在于，包括：一模式切换电路；所述模式切换电路的输入端连接第一端口和第二端口，输出端连接芯片的模式控制电路；其中，所述第一端口为扫描时钟端口SCAN_CLK；所述第二端口为扫描输入端口SCAN_IN或扫描使能端口SCAN_EN；所述模式切换电路根据所述第一端口输出的第一信号序列确定是否进行模式切换，当确定进行模式切换时，根据所述第二端口输出的第二信号序列生成一模式控制信号并传输给所述模式控制电路，以使所述模式控制电路根据所述模式控制信号控制所述芯片切换至一待切换模式。

【技术特征摘要】
1.一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置，其特征在于，包括：一模式切换电路；所述模式切换电路的输入端连接第一端口和第二端口，输出端连接芯片的模式控制电路；其中，所述第一端口为扫描时钟端口SCAN_CLK；所述第二端口为扫描输入端口SCAN_IN或扫描使能端口SCAN_EN；所述模式切换电路根据所述第一端口输出的第一信号序列确定是否进行模式切换，当确定进行模式切换时，根据所述第二端口输出的第二信号序列生成一模式控制信号并传输给所述模式控制电路，以使所述模式控制电路根据所述模式控制信号控制所述芯片切换至一待切换模式。2.根据权利要求1所述的用于扫描链测试中调整芯片模式的装置，其特征在于，所述模式切换电路包括一识别单元和一运算单元；所述识别单元的输入端连接所述第一端口和所述第二端口，输出端连接所述运算单元；所述运算单元的输出端连接所述模式控制电路；所述识别单元根据所述第一端口输出的第一信号序列确定是否进行模式切换，并对所述第二端口输出的第二信号序列进行初步计算，当确定进行模式切换时，输出所述初步计算的结果；所述运算单元根据预设的至少两个预设数据、至少两种模式控制信号、至少两种待切换模式的一一对应关系，确定与所述初步计算的结果一致的预设数据，生成该预设数据相对应的模式控制信号，并将生成的模式控制信号输出给所述模式控制电路，以使所述模式控制电路根据接收到的模式控制信号控制所述芯片切换至对应的待切换模式。3.根据权利要求2所述的用于扫描链测试中调整芯片模式的装置，其特征在于，所述识别单元包括一计数器；所述计数器的复位端连接所述第一端口，时钟端连接所述第二端口；所述计数器的时钟端对所述第二端口输入的第二信号序列的有效沿计数得到一计数结果；所述计数器的复位端在所述第一端口输出的第一信号序列为时钟信号时，使所述计数结果归零；所述计数器输出所述计数结果。4.根据权利要求3所述的用于扫描链测试中调整芯片模式的装置，其特征在于，所述运算单元包括至少两个比较器；所述至少两个比较器与所述至少两个预设数据一一对应；所述比较器存储其对应的预设数据，并将所述计数结果与其对应的预设数据进行比较，当比较结果为一致时，生成并输出其对应的预设数据相对应的模式控制信号。5.一种用于扫描链测试中调整芯片模式的方法，其特征在于，包括：通过第一端口接收第一信号序列，通过第二端口接收第二信号序列；其中，所述第一端口为扫描时钟端口SCAN_CLK，所述第二端口为扫描输入端口SCAN_IN或扫描使能端口SCAN_EN；根据所述第一信号序列确定是否进行模式切换，当确定进行模式切换时，根据所述第二信号序列生成一模式控制信号并传输给芯片的模式控制电路，以使所述模式控制电路根据所述模式控制信号控制所述芯片切换至一待切换模式。6.根据权利要求5所述的用于扫描链测试中调整芯片模式的方法，其特征在于，通过第一端口接收第一信号序列，通过第二端口接收第二信号序列之前，还包括：生成一段扫描链测试所用的测试向量，所述测试向量中对应于所述第一端口的位置的数据为所述第一信号序列，对应于所述第二端口的位置的数据为所述第二信号序列；在扫描链测试中扫描所述测试向量，将扫描到的所述第一信号序列发送给所述第一端口，将扫描到的所述第二信号序列发送给所述第二端口。7.根据权利要求6所述的用于扫描链测试中调整芯片模式的方法，其特征在于，还包括：确定在扫描链测试中扫描所述测试向量之前，所述第二端口输出的信号值；当控制所述芯片由一原始模式切换至所述待切换模式，再由所述待切换模式切换至所述原始模式时，将所述第二信号序列中最后一个信号的值设置为所述信号值。8.一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置，其特征在于，包括：一模式切换电路；所述模式切换电路的输入端连接第一端口、第二端口和第三端口，输出端连接芯片的模式控制电路；其中，所述第一端口为扫描时钟端口SCAN_CLK；所述第二端口和所述第三端口为扫描输入端口SCAN_IN、扫描使能端口SCAN_EN中的一种，且所述第二端...

【专利技术属性】
技术研发人员：荣海涛，彭磊，
申请(专利权)人：瑞萨集成电路设计北京有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11