AVSS管脚及VSS管脚的开路测试方法技术

本发明专利技术公开了一种AVSS管脚及VSS管脚的开路测试方法，其中，AVSS管脚的开路测试方法包括：在芯片的AVSS系管脚中，选取一个管脚作为测试管脚，其中，AVSS系管脚是芯片的所有管脚中使用模拟电源进行供电的管脚；对AVSS系管脚中的其余管脚印加电流，并测量测试管脚的电压；将测试管脚的电压值与预先得到的AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值进行比较；如果测试管脚的电压值高于AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值，则确定AVSS管脚开路；其中，芯片的AVSS与VSS管脚通过引线框架短接。本发明专利技术对VSS与AVSS管脚通过引线框架短接的芯片，能够判断出AVSS或VSS管脚是否开路，且测试时间较短。

【技术实现步骤摘要】
201610169575

【技术保护点】
一种AVSS管脚的开路测试方法，其特征在于，包括：在芯片的AVSS系管脚中，选取一个管脚作为测试管脚，其中，所述AVSS系管脚是所述芯片的所有管脚中使用模拟电源进行供电的管脚；对所述AVSS系管脚中的其余管脚印加电流，并测量所述测试管脚的电压；将所述测试管脚的电压值与预先得到的AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值进行比较；如果所述测试管脚的电压值高于所述AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值，则确定所述AVSS管脚开路；其中，所述芯片的所述AVSS管脚与VSS管脚通过引线框架短接。

【技术特征摘要】
1.一种AVSS管脚的开路测试方法，其特征在于，包括：
在芯片的AVSS系管脚中，选取一个管脚作为测试管脚，其中，所述AVSS系管
脚是所述芯片的所有管脚中使用模拟电源进行供电的管脚；
对所述AVSS系管脚中的其余管脚印加电流，并测量所述测试管脚的电压；
将所述测试管脚的电压值与预先得到的AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电
压值进行比较；
如果所述测试管脚的电压值高于所述AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电压
值，则确定所述AVSS管脚开路；
其中，所述芯片的所述AVSS管脚与VSS管脚通过引线框架短接。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电流通过与所述芯片连接的
测试机印加。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电流的大小按照所述芯片的
额定电流值进行设定。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，如果对多个芯片的AVSS管脚进
行开路测试，所述方法还包括：
确定AVSS管脚开路的芯片为不合格芯片，AVSS管脚未开路的芯片为合格芯片；
分别统计所述多个芯片中不合格芯片的个数和合格芯片的个数，并生成统计结果
曲线图...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯明亮，
申请(专利权)人：瑞萨集成电路设计北京有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11