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本发明的实施方式提供了一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置及方法，该装置包括：一模式切换电路；模式切换电路的输入端连接第一端口和第二端口，输出端连接芯片的模式控制电路；其中，第一端口为扫描时钟端口SCAN_CLK；第二端口为扫描输入端口S...
该专利属于瑞萨集成电路设计(北京)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过瑞萨集成电路设计(北京)有限公司授权不得商用。

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