阵列测试电路及阵列测试方法技术

本发明专利技术公布了一种阵列测试电路，所述阵列测试电路包括扫描驱动、使能驱动、多个像素控制驱动、多个薄膜晶体管及多个像素电极，所述薄膜晶体管位于阵列基板的像素单元内并在液晶面板正常显示时按照系统驱动电路的控制调节像素电极的偏置电压，各所述薄膜晶体管的栅极均连接至所述使能驱动，所述使能驱动发送使能信号同时控制各所述薄膜晶体管的通断状态，各所述薄膜晶体管的漏极均连接至所述扫描驱动，每一个所述像素控制驱动的输入端均对应连接一个所述薄膜晶体管的源极，每一个所述像素控制驱动的输出端均对应连接一个所述像素电极。本发明专利技术节省显示面板边缘大量的布局空间，阵列测试时输入的信号数量少，简化了阵列测试的过程。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示
，尤其是涉及一种阵列测试电路及阵列测试方法。
技术介绍
薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-LCD，TFT-LCD)近年来得到了飞速的发展和广泛的应用，它被广泛用于便携式移动电子产品的显示设备，如手机，数码相机，掌上电脑，GPRS等移动产品。液晶显示器面板一般由彩膜基板和阵列基板对盒形成，两个基板之间的空间中封装有液晶层。阵列基板主要包括扫描线、资料线及像素电极，扫描线与资料线设置方向垂直，像素电极形成于扫描线与资料线交错而成的像素区内，通过扫描线信号导通薄膜晶体管，资料线发送的信号通过薄膜晶体管发送到对应的像素电极改变像素电极的偏置电压从而控制液晶分子偏转。在阵列基板的制造过程中，需要通过检测程序来检测是否有缺陷存在，例如检测阵列基板上的电路是否有缺陷。现有技术中，使用阵列测试电路对像素电极施加电压，对像素电极发射电子束产生二次电子信号，通过检测二次电子信号的方法判断阵列基板的缺陷。阵列测试电路利用多个开关分别控制对各像素电极施加电压信号的线路通断状态，由于阵列测试电路位于阵列基板的边缘，多个开关的设计占用了较大的布局空间，不利于窄边框面板的设计，并且每一个像素电极均需要一个开关单独控制一个对应的电压信号，在阵列检测过程中输入的信号数量较多，工作效率低。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种阵列测试电路及阵列测试方法，用以解决现有技术中阵列测试电路的开关占用布局空间较大，面板周围电路设计灵活性低，不利于窄边框面板设计，阵列检测中输入的信号数量较多，工作负荷大等问题。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种阵列测试电路，所述阵列测试电路包括扫描驱动、使能驱动、多个像素控制驱动、多个薄膜晶体管及多个像素电极，所述薄膜晶体管位于阵列基板的像素单元内并在液晶面板正常显示时按照系统驱动电路的控制调节像素电极的偏置电压，各所述薄膜晶体管的栅极均连接至所述使能驱动，所述使能驱动发送使能信号同时控制各所述薄膜晶体管的通断状态，各所述薄膜晶体管的漏极均连接至所述扫描驱动，每一个所述像素控制驱动的输入端均对应连接一个所述薄膜晶体管的源极，每一个所述像素控制驱动的输出端均对应连接一个所述像素电极，测试状态时，所述扫描驱动发出的电压控制信号经过连通状态的各所述薄膜晶体管后到达与各所述薄膜晶体管对应连接的所述像素控制驱动，所述像素控制驱动按照电压控制信号调节与之对应连接的所述像素电极的偏置电压。进一步，所述像素电极包括红色像素电极、绿色像素电极及蓝色像素电极，所述像素控制驱动包括红色控制驱动、绿色控制驱动及蓝色控制驱动，所述红色控制驱动连接红色像素电极，所述绿色控制驱动连接绿色像素电极，所述蓝色控制驱动连接蓝色像素电极，所述红色控制驱动、所述绿色控制驱动、所述蓝色控制驱动分别控制施加于所述红色像素电极、所述绿色像素电极、所述蓝色像素电极的偏置电压大小。进一步，所述薄膜晶体管包括第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管及第三薄膜晶体管，所述第一薄膜晶体管的源极连接所述红色控制驱动，所述第二薄膜晶体管的源极连接所述绿色控制驱动，所述第三薄膜晶体管的源极连接所述蓝色控制驱动，所述第一薄膜晶体管、所述第二薄膜晶体管及所述第三薄膜晶体管将所述扫描驱动发出的电信号一分为三并分别传递到所述红色控制驱动、所述绿色控制驱动及所述蓝色控制驱动。进一步，所述像素控制驱动还包括白色控制驱动，所述薄膜晶体管还包括第四薄膜晶体管，所述第四薄膜晶体管的源极连接所述白色控制驱动。进一步，所述扫描驱动安装于所述液晶显示器的阵列基板上。本专利技术还提供了一种阵列测试方法，包括：提供阵列测试电路，所述阵列测试电路包括扫描驱动、使能驱动、多个像素控制驱动、多个薄膜晶体管及多个像素电极，所述使能驱动发送使能信号至所述薄膜晶体管的栅极并使所述薄膜晶体管源极与漏极连通，扫描驱动发出电压控制信号经过所述薄膜晶体管传递到与之对应的所述像素控制驱动，所述像素控制驱动控制像素电极产生偏置电压，使用检测器检测所述像素电极的带电情况。进一步，所述“扫描驱动发出电压控制信号经过所述薄膜晶体管传递到与之对应的所述像素控制驱动”包括，所述像素控制驱动包括红色控制驱动、绿色控制驱动及蓝色控制驱动，所述薄膜晶体管包括第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管及第三薄膜晶体管，所述电压控制信号一分为三，经过所述第一薄膜晶体管传递到所述红色控制驱动，所述电压控制信号经过所述第二薄膜晶体管传递到所述绿色控制驱动，所述电压控制信号经过所述第三薄膜晶体管传递到所述蓝色控制驱动。进一步，所述“所述像素控制驱动控制像素电极产生偏置电压”包括，所述像素电极包括红色像素电极、绿色像素电极及蓝色像素电极，所述红色像素控制驱动驱动所述红色像素电极产生电压，所述绿色像素控制驱动驱动所述绿色像素电极产生电压，所述蓝色像素控制驱动驱动所述蓝色像素电极产生电压。进一步，所述像素控制驱动还包括白色控制驱动，所述薄膜晶体管还包括第四薄膜晶体管，所述电压控制信号经过所述第四薄膜晶体管传递到所述白色控制驱动。进一步，所述“使用检测器检测所述像素电极的带电情况”包括，所述检测器包括电子枪与接收器，使用所述电子枪发射电子束于所述像素电极上，所述接收器检测所述像素电极出射的二次电子信号并判断所述阵列基板是否具有缺陷。本专利技术的有益效果如下：使用阵列基板原有的薄膜晶体管代替占用大量布局空间的开关控制对各像素电极施加电压信号的线路通断状态，节省了开关占用的显示面板边缘大量的布局空间，提高了面板边缘电路设计的灵活性；相对于每一个开关均需要一个单独的信号控制的开关式测试电路，使能驱动发出一个使能信号可同时控制多个薄膜晶体管的栅极电压，从而控制各薄膜晶体管的通断状态，减少了阵列测试时输入的信号数量，简化了阵列测试的过程。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的明显变形方式。图1为本专利技术实施例一提供的液晶显示器显示状态的阵列基板原理图。图2为本专利技术实施例一提供的阵列测试电路的电路图。图3为本专利技术实施例一提供的阵列测试方法的步骤图。图4为本专利技术实施例二提供的阵列测试电路的电路图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。图1为本专利技术实施例一提供的液晶显示器显示状态的阵列基板原理图，如图所示，薄膜晶体管10的栅极连接扫描驱动20，薄膜晶体管10的漏极连接数据驱动30，薄膜晶体管10的源极连接像素电极40。显示模式下，扫描电极20发送使能信号至薄膜晶体管10的栅极使薄膜晶体管10的栅极电压高于薄膜晶体管10栅极的阈值电压，此时薄膜晶体管10的漏极与源极连通，数据驱动30与像素电极40电连接，实现数据驱动30控制像素电极40的驱动电压，从而改变液晶分子的偏转状态；进行测试模式则本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列测试电路，其特征在于，所述阵列测试电路包括扫描驱动、使能驱动、多个像素控制驱动、多个薄膜晶体管及多个像素电极，所述薄膜晶体管位于阵列基板的像素单元内并在液晶面板正常显示时按照系统驱动电路的控制调节像素电极的偏置电压，各所述薄膜晶体管的栅极均连接至所述使能驱动，所述使能驱动发送使能信号同时控制各所述薄膜晶体管的通断状态，各所述薄膜晶体管的漏极均连接至所述扫描驱动，每一个所述像素控制驱动的输入端均对应连接一个所述薄膜晶体管的源极，每一个所述像素控制驱动的输出端均对应连接一个所述像素电极，测试状态时，所述扫描驱动发出的电压控制信号经过连通状态的各所述薄膜晶体管后到达与各所述薄膜晶体管对应连接的所述像素控制驱动，所述像素控制驱动按照电压控制信号调节与之对应连接的所述像素电极的偏置电压。

【技术特征摘要】
1.一种阵列测试电路，其特征在于，所述阵列测试电路包括扫描驱动、使能驱动、多个像素控制驱动、多个薄膜晶体管及多个像素电极，所述薄膜晶体管位于阵列基板的像素单元内并在液晶面板正常显示时按照系统驱动电路的控制调节像素电极的偏置电压，各所述薄膜晶体管的栅极均连接至所述使能驱动，所述使能驱动发送使能信号同时控制各所述薄膜晶体管的通断状态，各所述薄膜晶体管的漏极均连接至所述扫描驱动，每一个所述像素控制驱动的输入端均对应连接一个所述薄膜晶体管的源极，每一个所述像素控制驱动的输出端均对应连接一个所述像素电极，测试状态时，所述扫描驱动发出的电压控制信号经过连通状态的各所述薄膜晶体管后到达与各所述薄膜晶体管对应连接的所述像素控制驱动，所述像素控制驱动按照电压控制信号调节与之对应连接的所述像素电极的偏置电压。2.根据权利要求1所述的阵列测试电路，其特征在于，所述像素电极包括红色像素电极、绿色像素电极及蓝色像素电极，所述像素控制驱动包括红色控制驱动、绿色控制驱动及蓝色控制驱动，所述红色控制驱动连接红色像素电极，所述绿色控制驱动连接绿色像素电极，所述蓝色控制驱动连接蓝色像素电极，所述红色控制驱动、所述绿色控制驱动、所述蓝色控制驱动分别控制施加于所述红色像素电极、所述绿色像素电极、所述蓝色像素电极的偏置电压大小。3.根据权利要求2所述的阵列测试电路，其特征在于，所述薄膜晶体管包括第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管及第三薄膜晶体管，所述第一薄膜晶体管的源极连接所述红色控制驱动，所述第二薄膜晶体管的源极连接所述绿色控制驱动，所述第三薄膜晶体管的源极连接所述蓝色控制驱动，所述第一薄膜晶体管、所述第二薄膜晶体管及所述第三薄膜晶体管将所述扫描驱动发出的电信号一分为三并分别传递到所述红色控制驱动、所述绿色控制驱动及所述蓝色控制驱动。4.根据权利要求3述的阵列测试电路，其特征在于，所述像素控制驱动还包括白色控制驱动，所述薄膜晶体管还包括第四薄膜晶体管，所述第四薄膜晶体管的源极连接所述白色控制驱动。5...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪光辉，龚强，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42