下载阵列测试电路及阵列测试方法的技术资料

文档序号:13942515

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本发明公布了一种阵列测试电路,所述阵列测试电路包括扫描驱动、使能驱动、多个像素控制驱动、多个薄膜晶体管及多个像素电极,所述薄膜晶体管位于阵列基板的像素单元内并在液晶面板正常显示时按照系统驱动电路的控制调节像素电极的偏置电压,各所述薄膜晶体管...
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