透镜模块制造技术

本发明专利技术公开一种透镜模块，包含第一晶片级透镜组、第二晶片级透镜组、第一感测器以及第二感测器。第一晶片级透镜组具有第一光轴。第二晶片级透镜组具有第二光轴。第一光轴平行于第二光轴，且第一晶片级透镜组与第二晶片级透镜组一体成形。第一感测器对应第一晶片级透镜组设置，且第一感测器设置于第一光轴上。第二感测器对应第二晶片级透镜组设置，且第二感测器设置于第二光轴上。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种透镜模块。
技术介绍
近年来，许多场景侦测系统企图通过模仿人类立体观察系统以产生二个或更多个影像，来侦测场景的景深。这些场景侦测系统可应用于相机、智能型手机等等。为了使这些场景侦测系统正确运作，这些场景侦测系统可被设计成接收来自两个分开但相关联的角度的影像，然后可以分析这些影像以得到景深。在这些场景侦测系统的组装中，由于场景侦测系统是依据光学元件之间的距离而进行景深分析，场景侦测系统的光学元件应被精准地定位，以达到上述的目的。然而，目前的定位方式，例如表面黏着技术(Surface-Mount Technology；SMT)，无法精准地控制光学元件之间的距离。因此，对具有场景侦测系统的每个装置而言，必须要通过额外的侦测程序以检测该距离的误差，且在此装置的景深计算中，也必须将此误差加入考虑因素。
技术实现思路
本专利技术的一实施方式提供具有多个一体成形的晶片级透镜组的透镜模块。这些晶片级透镜组用以得到影像的景深。在晶片级制造与形成过程中，已决定这些晶片级透镜组之间的距离。因此，此距离的误差是很小且可以忽略的，且无须通过额外的侦测程序检测此误差，也无须将此误差视为装置的景深计算中的考虑因素之一。根据本专利技术的一实施方式，透镜模块包含第一晶片级透镜组、第二晶片级透镜组、第一感测器以及第二感测器。第一晶片级透镜组具有第一光轴。第二晶片级透镜组具有第二光轴。第一光轴平行于第二光轴，且第一晶片级透镜组与第二晶片级透镜组一体成形。第一感测器对应第一晶片级透镜组设置，且第一感测器设置于第一光轴上。第二感测器对应第二晶片级透镜组设
置，且第二感测器设置于第二光轴上。在本专利技术的一或多个实施方式中，第一晶片级透镜组的一端无缝连接第二晶片级透镜组的一端。根据本专利技术的一实施方式，透镜模块包含多个晶片级透镜组与多个感测器。每一晶片级透镜组具有光轴，光轴平行设置，且晶片级透镜组一体成形。每一感测器设置于每一光轴上。应了解到，前面的概述与以下的详细说明都为例示，用以提供对权利要求进一步的解释。附图说明图1为本专利技术的一实施方式的透镜模块的剖视图；图2为本专利技术的另一实施方式的透镜模块的上视图；图3为本专利技术的再一实施方式的透镜模块的示意图。符号说明100：透镜模块 210：晶片级透镜组110：第一晶片级透镜组 220：感测器112：第一前非球面表面 230：成像透镜组114：第一后非球面表面 240：成像感测器116：端 S：基板120：第二晶片级透镜组 S1：基板122：第二前非球面表面 S11：表面124：第二后非球面表面 S12：相对表面126：端 S2：透镜层130：第一感测器 O：光轴140：第二感测器 O1：第一光轴150：处理器 O2：第二光轴160：成像透镜组 O3：成像光轴200：透镜模块 OI：成像光轴具体实施方式详细参照本专利技术的多个实施方式，其中多个实施方式的实施例将搭配附
图以详细说明。尽可能地，附图与说明叙述中使用相同的标号用标示相同或相似的元件。图1为根据本专利技术的一实施方式的透镜模块100的剖视图。透镜模块100包含第一晶片级透镜组110、第二晶片级透镜组120、第一感测器130以及第二感测器140。第一晶片级透镜组110具有第一光轴O1。第二晶片级透镜组120具有第二光轴O2。第一光轴O1平行于第二光轴O2，且第一晶片级透镜组110与第二晶片级透镜组120一体成形。第一感测器130对应第一晶片级透镜组110设置，且第一感测器130设置于第一光轴O1上。第二感测器140对应第二晶片级透镜组120设置，且第二感测器140设置于第二光轴O2上。需注意的是，第一光轴O1与第二光轴O2并非互相对准或重叠。第一晶片级透镜组110与第二晶片级透镜组120是用以收集不同影像的光线。如此一来，第一感测器130可以接收经过第一晶片级透镜组110的第一影像，而第二感测器140可以接收经过第二晶片级透镜组120的第二影像。在本专利技术的一或多个实施方式中，透镜模块100包含处理器150，处理器150连接第一感测器130与第二感测器140。处理器150通过计算分析第一影像与第二影像，进而得到影像的景深值。在本实施方式中，第一晶片级透镜组110与第二晶片级透镜组120可由多个层体形成，例如玻璃基板与树脂。第一晶片级透镜组110与第二晶片级透镜组120可由相同的步骤制作而成。详细而言，第一晶片级透镜组110与第二晶片级透镜组120的组合可以形成一个堆叠，该堆叠包含相同的基板S1与相同的多个透镜层S2。基板S1可包含表面S11与一相对于表面S11的相对表面S12，而透镜层S2可以分别形成于表面S11和相对表面S12上。透镜层S2可分别包含两个透镜结构。如此一来，基板S1的一部分与透镜层S2的一部分共同形成第一晶片级透镜组110，而基板S1的另一部分与透镜层S2的另一部分共同形成第二晶片级透镜组120。而且，透镜层S2的透镜结构提供第一晶片级透镜组110与第二晶片级透镜组120聚焦能力。于此，第一晶片级透镜组110与第二晶片级透镜组120之间的虚线是用以指出第一晶片级透镜组110与第二晶片级透镜组120可以是两个独立群组，其中第一晶片级透镜组110与第二晶片级透镜组120在结构上是连接的。
应注意的是，此虚线并非指第一晶片级透镜组110与第二晶片级透镜组120之间的结构上的分离。在本专利技术的一或多个实施方式中，第一晶片级透镜组110实质上相同于第二晶片级透镜组120，但这不应用以限制本专利技术的范围。第一晶片级透镜组110与第二晶片级透镜组120可以是不同的，但两者仍一体成形。传统上，透镜组分别被设计定位于预定的位置。举例而言，表面黏着技术是一种定位方法，其中透镜组分别安装于多个预定的位置。然而，由于限制，此安装程序并不够精确，而多个安装的透镜组之间的距离并非一固定且精准的值，换句话说，此距离随着不同的透镜系统而变动。在具有透镜系统的装置的量产中，此安装的透镜组之间的变动距离是一个问题。需要执行矫正程序，以侦测每个透镜系统中安装的透镜组之间的距离的误差，并且将此误差视为景深计算中的考虑因素之一。此误差可以是一个绝对误差，即预定距离与实际距离之间的差值。在本实施方式中，由于第一晶片级透镜组110与第二晶片级透镜组120通过晶片级程序而共同制作，且其共同安装于预定位置上，因此第一晶片级透镜组110与第二晶片级透镜组120之间的距离的误差是微小到可以忽略的。因此，并不需要为了景深计算，而侦测此距离的误差。更甚者，可以省略矫正程序，且由于矫正程序的省略，具有晶片级透镜组的相机的制作成本也可以降低。在本专利技术的一或多个实施方式中，第一晶片级透镜组110与第二晶片级透镜组120都为凸透镜，但这不应用以限制本专利技术的范围。应了解到，在部分实施方式中，第一晶片级透镜组110与第二晶片级透镜组120可以是凹透镜。在本专利技术的一或多个实施方式中，第一晶片级透镜组110的一端116无缝地连接第二晶片级透镜组120的一端126。详细而言，第一晶片级透镜组110包含第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种透镜模块，包含：第一晶片级透镜组，具有第一光轴；第二晶片级透镜组，具有第二光轴，其中该第一光轴平行于该第二光轴，且该第一晶片级透镜组与该第二晶片级透镜组一体成形；第一感测器，对应该第一晶片级透镜组设置，且该第一感测器设置于该第一光轴上；以及第二感测器，对应该第二晶片级透镜组设置，且该第二感测器设置于该第二光轴上。

【技术特征摘要】
1.一种透镜模块，包含：第一晶片级透镜组，具有第一光轴；第二晶片级透镜组，具有第二光轴，其中该第一光轴平行于该第二光轴，且该第一晶片级透镜组与该第二晶片级透镜组一体成形；第一感测器，对应该第一晶片级透镜组设置，且该第一感测器设置于该第一光轴上；以及第二感测器，对应该第二晶片级透镜组设置，且该第二感测器设置于该第二光轴上。2.如权利要求1所述的透镜模块，其中该第一晶片级透镜组的一端无缝连接该第二晶片级透镜组的一端。3.如权利要求1所述的透镜模块，其中该第一晶片级透镜组实质上相同于该第二晶片级透镜组。4.如权利要求1所述的透镜模块，其中该第一晶片级透镜组与该第二晶片级透镜组由多个层体形成。5.如权利要求1所述的透镜模块，还包含：成像透镜组，具有成像光轴，该成像光轴平行于该第一光轴；以及成像感测器，对应该成像透镜组设置，且该成像感测器设置于该成像光轴上。6.如权利要求1所述的透镜模块，还包含处理器，连...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕引栋，郭汉檥，
申请(专利权)人：奇景光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71