一种β”-氧化铝粉体合成用坩埚及制备方法技术

技术编号:13514632 阅读:89 留言:0更新日期:2016-08-11 23:07
本发明专利技术公开了一种β”‑氧化铝粉体合成用坩埚,包括从下至上依次同轴设置的底座、筒体和筒盖,所述筒体的顶面上设有若干径向凹槽,所述底座、所述筒体和所述筒盖的孔隙率均小于3%;所述底座、所述筒体和所述筒盖是由纯度大于99wt.%的氧化镁粉体、真镁铝尖晶石粉体或富镁镁铝尖晶石粉体中的一种烧结而成的,在所述氧化镁粉体、所述真镁铝尖晶石粉体或所述富镁镁铝尖晶石粉体中,氧化钙和氧化钾含量均小于等于0.02wt.%,氧化铁和二氧化硅的含量小于等于0.01wt.%。本发明专利技术还公开了一种β”‑氧化铝粉体合成用坩埚的制备方法。

【技术实现步骤摘要】
201610181791

【技术保护点】
一种β”‑氧化铝粉体合成用坩埚,其特征在于:包括从下至上依次同轴设置的底座、筒体和筒盖,所述筒体的顶面上设有若干径向凹槽,所述底座、所述筒体和所述筒盖的孔隙率均小于3%;所述底座、所述筒体和所述筒盖是由纯度大于99wt.%的氧化镁粉体、纯度大于99wt.%真镁铝尖晶石粉体或纯度大于99wt.%富镁镁铝尖晶石粉体中的一种烧结而成的,在所述氧化镁粉体、所述真镁铝尖晶石粉体或所述富镁镁铝尖晶石粉体中,氧化钙和氧化钾含量均小于等于0.02wt.%,氧化铁和二氧化硅的含量小于等于0.01wt.%。

【技术特征摘要】
1.一种β”-氧化铝粉体合成用坩埚,其特征在于:包括从下至上依次同轴设置的底座、筒体和筒盖,所述筒体的顶面上设有若干径向凹槽,所述底座、所述筒体和所述筒盖的孔隙率均小于3%;所述底座、所述筒体和所述筒盖是由纯度大于99wt.%的氧化镁粉体、纯度大于99wt.%真镁铝尖晶石粉体或纯度大于99wt.%富镁镁铝尖晶石粉体中的一种烧结而成的,在所述氧化镁粉体、所述真镁铝尖晶石粉体或所述富镁镁铝尖晶石粉体中,氧化钙和氧化钾含量均小于等于0.02wt.%,氧化铁和二氧化硅的含量小于等于0.01wt.%。2.根据权利要求1所述的一种β”-氧化铝粉体合成用坩埚,其特征在于:所述底座顶面的外圆周上设有与所述筒体底面对应的环形台阶。3.一种β”-氧化铝粉体合成用坩埚的制备方法,其特征在于:通过配料步骤,将纯度大于99wt.%,氧化钙和氧化钾含量均小于等于0.02wt.%,氧化铁和二氧化硅的含量均小于等于0.01wt.%的氧化镁粉体、真镁铝尖晶石粉体或者富镁镁铝尖晶石粉体中的一种与石蜡,以及表面活性剂混合,制得球磨配料;通过球磨步骤和成浆步骤得到以熔融石蜡为流动相的浆料;通过制坯步骤,以所述浆料为原料,分别压铸底座、筒体和筒盖的素坯;通过排蜡步骤,使所述底座、所述筒体和所述筒盖的素坯中的石蜡在窑炉内蒸发;通过烧结步骤,使所述底座、所述筒体和所述筒盖的素坯在所述窑炉内烧结,得到所述底座、所述筒体和所述筒盖,所述底座、所述筒体和所述筒盖的孔隙率均小于3%;通过组装步骤,将述底座、所述筒体和所述筒盖组装成为所述坩埚。4.根据权利要求3所述的一种β”-氧化铝粉体...

【专利技术属性】
技术研发人员:侯肖瑞徐培敏范俊杰陈福平徐小刚
申请(专利权)人:上海电气钠硫储能技术有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

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