本实用新型专利技术实施例提供一种显示面板测试装置及测试系统，涉及显示技术领域，能够对多种规格的显示面板进行检测。显示面板测试装置包括探针组件、控制器和多个控制开关。其中，探针组件包括M个测试探针，M＞1，为正整数；且显示面板上的任意一个测试端口至少对应一个测试探针。每一个测试探针通过一个控制开关与控制器相连接，测试探针用于在控制器开启控制开关时，接收控制器输出的测试信号。该显示面板测试装置用于对显示面板的显示性能进行检测。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及显示
，尤其涉及一种显示面板测试装置及测试系统。
技术介绍
在制作TFT_LCD(ThinFilm Transistor Liquid Crystal Display，薄膜晶体管-液晶显示器)的过程中，当阵列基板和彩膜基板对盒之后，需要对对盒后的显示面板的显示性能进行检测。现有技术中，在对显示面板进行检测时，通常会在如图1所示的显示面板10的非显示区域01上设置测试端口 100(Cell Test Pad)。然后，将测试装置上的每一个测试探针200与测试端口 100——对应，并将测试探针200按压于测试端口 100上，从而使得测试装置输入的测试信号能够通过测试触电输出至显示面板10内，以对显示面板进行检测。由于显示面板10的分辨率各有不同，从而导致显示区域01中的像素单元101的宽度H不同，而测试装置上的每一个测试探针200需要与测试端口 100—一对应才能够实现检测。因此测试装置上相邻两个测试探针200之间的间距(pin pitch)a需要与被测试的显示面板10中像素单元101的宽度H相匹配。这样一来，为了能够对不同规格的显示面板10进行测试，需要购买多种规格的测试装置以满足不同的需求，从而导致制作成本的上升。
技术实现思路
本技术的实施例提供一种显示面板测试装置及测试系统，能够对多种规格的显示面板进行检测。为达到上述目的，本技术的实施例采用如下技术方案:本技术实施例的一方面，提供一种显示面板测试装置，包括探针组件、控制器和多个控制开关。所述探针组件包括M个测试探针，M> I，为正整数，显示面板上的任意一个测试端口至少对应一个所述测试探针。每一个所述测试探针通过一个控制开关与所述控制器相连接，所述测试探针用于在所述控制器开启所述控制开关时，接收所述控制器输出的测试信号。优选的，所述控制开关为电子开关。优选的，所述控制开关为晶体管，所述晶体管的栅极和第一极连接所述控制器，第二极与所述测试探针相连接。优选的，所述晶体管为N型或P型晶体管。优选的，所述晶体管为增强型或耗尽型晶体管。优选的，所述控制器包括数据处理器，用于计算出显示面板中像素单元的宽度H与相邻两个测试探针之间的间距a以及测试探针宽度b之间的关系。优选的，所述数据处理器计算出的显示面板中像素单元的宽度H与相邻两个测试探针之间的间距a以及测试探针宽度b之间的关系为H=3a+3b。优选的，所述数据处理器计算出的显示面板中像素单元的宽度H与相邻两个测试探针之间的间距a以及测试探针宽度b之间的关系为H=2a+2b。进一步优选的，相邻两个测试探针之间的间距a为3μπι?4μπι，测试探针的宽度b为2.5μπι?3.5um；a > bo优选的，所述探针组件还包括用于连接显示面板上公共电压端的公共电压探针。进一步优选的，所述公共电压探针位于所述探针组件中第一个测试探针之前，或者位于所述探针组件中最后一个测试探针之后。优选的，所述显示面板包括横纵交叉的栅线和数据线;所述测试端口通过引线与所述栅线和/或所述数据线相连接。优选的，所述显示面板上的任意一个测试端口至少对应两个所述测试探针，以使得所述控制器开启所述控制开关时，与所述测试端口相连接的至少两个所述测试探针均接收所述控制器输出的测试信号。本技术的另一方面，提供一种测试系统，包括上述所述的任意一种显示面板测试装置。优选的，还包括图像采集装置，用于对所述显示面板显示的测试图像进行采集。进一步优选的，所述图像采集装置包括C⑶或CMOS摄像机。本技术提供一种显示面板测试装置及测试系统，所述显示面板包括探针组件、控制器和多个控制开关。其中，探针组件包括M个测试探针，M> I，为正整数。此外，显示面板上的任意一个测试端口至少对应一个测试探针，且每一个测试探针通过一个控制开关与控制器相连接，测试探针用于在控制器开启控制开关时，接收控制器输出的测试信号。这样一来，对于测试端口的数量小于M的显示面板而言，由于每一个测试端口能够对应至少一个测试探针，从而可以使得该测试装置能够对测试端口数量小于M的任意一种规格的显示面板进行检测。此外，由于设置有控制开关，因此当将至少一个测试探针按压于一个测试端口时，对于没有测试端口与之相对应的测试探针而言，可以通过控制器将与该测试探针相连接的控制开关断开，以避免向未连接测试端口的测试探针输入测试信号。【附图说明】为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为现有技术提供的一种显示面板测试装置的结构示意图；图2为本技术实施例提供的一种显示面板测试装置的结构示意图；图3为本技术实施例提供的另一种显示面板测试装置的结构示意图；图4为本技术实施例提供的又一种显示面板测试装置的结构示意图；图5为图2所示的探针组件中设置有公共电压探针的结构示意图。附图标记:O 1-非显不区域；02-显不区域；I O-显不面板；20-探针组件；30-控制器;40、40 ’ -控制开关；100-测试端口 ； 101-像素单元；110-引线；111-公共电压端；200、200 ’ -测试探针；201-公共电压探针;H-像素单元的宽度;a-相邻两个测试探针之间的间距;b-测试探针的宽度。【具体实施方式】下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。本技术实施例提供一种显示面板测试装置，如图2所示，包括探针组件20、控制器30和多个控制开关40。其中，探针组件20包括M个测试探针200，M>1，为正整数。此外，显示面板10上的任意一个测试端口 100至少对应一个测试探针200。每一个测试探针200通过一个控制开关40与控制器30相连接，测试探针200用于在控制器30开启控制开关40时，接收控制器30输出的测试信号。这样一来，对于测试端口的数量小于M的显示面板而言，由于每一个测试端口能够对应至少一个测试探针，从而可以使得该测试装置能够对测试端口数量小于M的任意一种规格的显示面板进行检测。此外，由于设置有控制开关，因此当将至少一个测试探针按压于一个测试端口时，对于没有测试端口与之相对应的测试探针而言，可以通过控制器将与该测试探针相连接的控制开关断开，以避免向未连接测试端口的测试探针输入测试信号。其中，该具有M个测试探针200的显示面板测试装置能够对测试端口 100的数量小于M的显示面板10进行测试。在此情况下，由图2可知，该探针组件20中任意相邻的两个测试探针200之间的间距a小于该显示面板10中每一个像素单元101的宽度H。其中，像素单元101的宽度H的方向与相邻的两个测试探针200之间的间距所在的方向相同。此外该像素单元101由显示面板10的显示区域02上多条栅线(G1、G2本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种显示面板测试装置，其特征在于，包括探针组件、控制器和多个控制开关；所述探针组件包括M个测试探针，M＞1，为正整数；显示面板上的任意一个测试端口至少对应一个所述测试探针；每一个所述测试探针通过一个控制开关与所述控制器相连接，所述测试探针用于在所述控制器开启所述控制开关时，接收所述控制器输出的测试信号。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：吴海龙，周焱，毛大龙，但艺，雷嗣军，张智，侯帅，肖利军，林汇哲，
申请(专利权)人：重庆京东方光电科技有限公司，京东方科技集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：重庆;85
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