【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种应力分析设备，尤其是一种X射线应力分析设备。
技术介绍
现在所有的X射线应力测试设备都必须有两种运动机构：(1)通过机械扫描测定衍射角2θ的机构；(2)改变Ψ角的机构。测试过程都是在若干个不同的Ψ角分别测定衍射角2θ，然后计算应力。
技术实现思路
本专利技术提供了一种结构简单、操作方便的X射线应力分析设备。
实现本专利技术目的的X射线应力分析设备，包括机壳，位于机壳内的X射线管、左线阵探测器、右线阵探测器、左激光器和右激光器；所述机壳通过微调升降机构安装在多段式万向支架上；所述X射线管通过内部支架安装在机壳内，所述左线阵探测器、右线阵探测器、左激光器和右激光器分别通过内部支架安装在机壳内；所述左线阵探测器和左激光器位于X射线管的左侧，所述右线阵探测器和右激光器位于X射线管的右侧；
所述左线阵探测器和右线阵探测器的中心线与X射线管的入射线相交于应力测试点，所述左激光器和右激光器的激光束也相交于应力测试点；
所述机壳的平面与X射线管的入射线呈55°夹角。
本专利技术的X射线应力分析设备的有益效果如下：
本专利技术的X射线应力分析设备，结构简单、一个包含X射线管和两个线阵探测器的机壳即可实现，无需
技术介绍
中所述的两种运动机构，只需将机壳的平面调整到与被测平面相平行，左、右两个线阵探测器直接采集数据，而后计算应力值，给出测试结果，操作方便。
附图说明
图1为本专利技术的X射线应力分析设备的结构示意图。
图2为图1的A-A剖视图。>图3为图1的B-B剖视图。
具体实施方式
如图1～3所示，本专利技术的X射线应力分析设备，包括机壳1，位于机壳1内的X射线管2、左线阵探测器3、右线阵探测器4、左激光器5和右激光器6；所述机壳1通过微调升降机构12安装在多段式万向支架上；所述X射线管2通过内部支架安装在机壳1内，所述左线阵探测器2、右线阵探测器3、左激光器4和右激光器5分别通过内部支架安装在机壳1内；所述左线阵探测器3和左激光器5位于X射线管2的左侧，所述右线阵探测器4和右激光器6位于X射线管2的右侧；
所述左线阵探测器3和右线阵探测器4的中心线9、11与X射线管2的入射线7相交于应力测试点S，所述左激光器5和右激光器6的激光束8、10也相交于应力测试点S；
所述机壳1的平面与X射线管2的入射线7呈55°夹角。
以一个X射线管和两个线阵探测器为核心器件，通过必要的内部支架及外壳组合而成为本专利技术的设备。两个探测器的中心线和与入射线夹角分别设为2η，夹角顶点为S。壳体内还安装左右两个激光器，两束激光交汇于S点。另外配以微调升降机构和多段式万向支架，即可用于应力测试。只需使用两束激光对准测试点S，调整宝盒外壳参照平面(见下图)使之平行于试样测试面，开机后没有测量动作，采集数据几秒至十几秒即可完成测试。
这里2η依据不同待测材料和X射线管的靶材确定。
上面所述的实施例仅仅是对本专利技术的优选实施方式进行描述，并非对本专利技术的范围进行限定，在不脱离本专利技术设计精神前提下，本领域普通工程技术人员对本专利技术技术方案做出的各种变形和改进，均应落入本专利技术的权利要求书确定的保护范围内。
本文档来自技高网...
【技术保护点】
X射线应力分析设备，其特征在于：包括机壳，位于机壳内的X射线管、左线阵探测器、右线阵探测器、左激光器和右激光器；所述X射线管通过内部支架安装在机壳内，所述左线阵探测器、右线阵探测器、左激光器和右激光器分别通过内部支架安装在机壳内；所述左线阵探测器和左激光器位于X射线管的左侧，所述右线阵探测器和右激光器位于X射线管的右侧；所述左线阵探测器和右线阵探测器的中心线与X射线管的入射线相交于应力测试点，所述左激光器和右激光器的激光束也相交于应力测试点；所述机壳的平面与X射线管的入射线呈55°夹角。
【技术特征摘要】
1.X射线应力分析设备，其特征在于：包括机壳，位于机壳内的X射线
管、左线阵探测器、右线阵探测器、左激光器和右激光器；所述X射线管通过
内部支架安装在机壳内，所述左线阵探测器、右线阵探测器、左激光器和右激
光器分别通过内部支架安装在机壳内；所述左线阵探测器和左激光器位于X射
线管的左侧，所述右线阵探测器和右激光器位...
【专利技术属性】
技术研发人员：张龙祥，吕克茂，贞宇亮，
申请(专利权)人：邯郸市爱斯特应力技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河北;13
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