轨迹测定装置、数控装置以及轨迹测定方法制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】轨迹测定装置、数控装置以及轨迹测定方法
本专利技术涉及对向机械等的轴进给驱动系统赋予指令时的运动轨迹进行测定的轨迹测定装置、数控装置以及轨迹测定方法。
技术介绍
工作机械等机械(例如加工中心、激光加工机)通过驱动伺服电动机，对加工头等的位置进行控制。此时，加工头被控制为准确地追随对移动的起点和终点之间的路径进行了指定的路径。由伺服电动机驱动的轴称为进给轴，通过使用多个进给轴，从而实现二维形状、三维形状的移动轨迹。在加工头中，在各进给轴安装有编码器、线性标尺等位置检测器，以使得由位置检测器检测出的位置(反馈位置)与指令位置之间差变小的方式进行反馈控制。由此，加工头一边追随被赋予的指令路径、一边移动。反馈位置的轨迹(反馈轨迹)优选与指令位置的轨迹(指令轨迹)一致，但实际上由于各种原因，导致在反馈轨迹和指令轨迹之间产生轨迹误差。在近年来的机械中，如果轨迹误差大，则进行加工时的加工精度恶化，因此对在进行了圆弧运动等时的轨迹误差进行测定，基于该测定结果，进行控制参数的调整、机械结构的修正等。当前，在评价运动时的轨迹误差的情况下，使用多个轴进行运动，测定出此时的反馈轨迹。例如...
【技术保护点】
一种轨迹测定装置，其针对移动对象测定具有大于或等于3轴的可动轴的机械的所述移动对象的移动轨迹，该轨迹测定装置的特征在于，具有轨迹运算部，该轨迹运算部使用指令条件、指令信号以及反馈信号，针对每个平面对将所述可动轴中的2个可动轴作为坐标轴的所述平面中的所述移动轨迹进行运算，其中，所述指令条件是包含所述可动轴间的轴间相位差在内的向所述移动对象的指令条件，所述指令信号是基于所述轴间相位差生成的向所述可动轴的指令信号，所述反馈信号表示以使所述可动轴的位置追随所述指令信号的方式对所述可动轴进行了反馈控制时的所述可动轴的位置。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种轨迹测定装置，其针对移动对象测定具有大于或等于3轴的可动轴的机械的所述移动对象的移动轨迹，该轨迹测定装置的特征在于，具有：显示对象轴指定部，其从所述大于或等于3轴的可动轴即测定对象可动轴之中，对作为显示对象的2个可动轴进行指定；以及轨迹运算部，其基于指令条件、指令信号以及反馈信号，对将由所述显示对象轴指定部指定出的所述2个可动轴作为坐标轴的平面中的、之后要对所述移动轨迹进行显示时的所述移动轨迹进行运算，在进行该运算时，提取针对所述2个可动轴的所述指令信号以及所述反馈信号，以向所述2个可动轴的指令信号的轴间相位差成为90°的方式对所述2个可动轴中的一个可动轴的定时进行调整，并且对该定时的调整时间进行计算，使用与所述调整时间相同的时间对所述一个可动轴的反馈信号的定时进行调整，其中，所述指令条件是在对所述移动轨迹进行测定时所使用的、包含圆弧指令的半径、进给速度及轴间相位差在内的向所述移动对象的指令条件，所述指令信号是作为将所述圆弧指令的半径设为振幅、将所述进给速度除以所述半径而得到的值设为频率的正弦波信号而生成的在所述各测定对象可动轴中具有基于轴间相位差的相位的向所述各测定对象可动轴的指令信号，所述反馈信号表示以使所述各测定对象可动轴的位置追随所述指令信号的方式对所述可动轴进行了反馈控制时的所述各测定对象可动轴的位置。2.根据权利要求1所述的轨迹测定装置，其特征在于，还具有：指令条件输入部，其用于输入所述指令条件；指令生成部，其基于所述轴间相位差，针对每个所述可动轴生成所述指令信号；以及反馈信号取得部，其取得所述反馈信号。3.一种数控装置，其特征在于，具有：伺服控制部，其针对使用大于或等于3轴的可动轴使移动对象移动的机械，进行使用了向所述可动轴的指令信号的反馈控制；以及轨迹测定装置，其测定所述移动对象的移动轨迹，所述轨迹测定装置具有：显示对象轴指定部，其从所述大于或等于3轴的可动轴即测定对象可动轴之中，对作为显示对象的2个可动轴进行指定；以及轨迹运算部，其基于指令条件、指令信号以及反馈信号，对将由所述显示对象轴指定部指定出的所述2个可动轴作为坐标轴的平面中的、之后要对所述移动轨迹进行显示时的所述移动轨迹进行运算，在进行该运算时，提取针对所述2个可动轴的所述指令信号以及所述反馈信号，以向所述2个可动轴的指令信号的轴间相位...
【专利技术属性】
技术研发人员：长冈弘太朗，藤田智哉，小泽正启，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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