工件的特性测定装置以及工件的特性测定方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供能够不在工件的低硬度部产生损伤地进行固定而对工件高精度地进行特性测定的工件的特性测定装置以及工件的特性测定方法。工件的特性测定装置(100)具备在输送工作台(2)的外周部设置并进行被收纳在工件收纳孔内的工件(W1)的特性测定的工件的特性检测部(10)。工件的特性检测部(10)具有抵接于工件(W1)而进行工件的特性检测的检测部件(P1a、P1b)；和将工件收纳孔内(3)的工件(W1)向工件收纳孔(3)中与开口部相向的内壁(3si、5s)侧固定的固定单元(15)。在各工件收纳孔(3)的内壁(3si、5s)形成有在工件(W1)抵接于内壁的情况下避开工件(W1)的低硬度部的缺口部(3si)。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及在形成于输送工作台的多个工件收纳孔个别地收纳电子零件等工件并输送、由在输送工作台的旋转路径中配置的工件的特性测定部对工件的特性进行测定的工件的特性测定装置以及工件的特性测定方法，特别涉及在具有易于由于按压而产生损伤的低硬度部的工件的测定时、能够不按压低硬度部地将工件固定的工件的特性测定装置以及工件的特性测定方法。
技术介绍
以往以来，已知有在形成于旋转自在的输送工作台的多个工件收纳孔中个别地收纳电子零件等工件并输送的工件特性测定装置(参照专利文献1)。将专利文献1中记载的工件输送装置的平面图示于图28。工件输送装置100具有在水平的工作台基座101之上配置的旋转自在的输送工作台102。在输送工作台102的外周部形成有个别地收纳图29所示的芯片形电子零件等工件W0的多个工件收纳孔103。输送工作台102通过未图示的驱动机构的作用在中心轴104的周围顺时针(箭头A方向)间歇旋转。另外，除位于后述的分离供给部107的工件收纳孔103外，工件本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种工件的特性测定装置，其对具有高硬度部和低硬度部的工件的特性进行测定，其特征在于，具备：工作台基座；输送工作台，旋转自如地配置于所述工作台基座上，并具有向外方开口的开口部并且沿外周边缘设置有多个收纳工件的工件收纳孔；和工件的特性检测部，设置于所述输送工作台的外周部，进行被收纳于所述工件收纳孔内的工件的特性测定，所述工件的特性检测部具有：抵接于工件而进行工件的特性检测的检测部件；和将工件收纳孔内的工件向工件收纳孔中与开口部相向的内壁侧固定的固定单元，在各工件收纳孔的内壁，形成有在工件抵接于内壁的情况下避开工件的低硬度部的缺口部。

【技术特征摘要】
2015.01.07 JP 2015-0016211.一种工件的特性测定装置，其对具有高硬度部和低硬度部的工件的
特性进行测定，其特征在于，具备：
工作台基座；
输送工作台，旋转自如地配置于所述工作台基座上，并具有向外方开
口的开口部并且沿外周边缘设置有多个收纳工件的工件收纳孔；和
工件的特性检测部，设置于所述输送工作台的外周部，进行被收纳于
所述工件收纳孔内的工件的特性测定，
所述工件的特性检测部具有：抵接于工件而进行工件的特性检测的检
测部件；和将工件收纳孔内的工件向工件收纳孔中与开口部相向的内壁侧
固定的固定单元，
在各工件收纳孔的内壁，形成有在工件抵接于内壁的情况下避开工件
的低硬度部的缺口部。
2.根据权利要求1所述的工件的特性测定装置，其特征在于，
所述固定单元包括从开口部朝向内壁侧按压工件的高硬度部的推压
件，
所述工件的特性检测部进一步具有：计测推压件的移动距离的距离计
测单元；和强制排出单元，该强制排出单元，在由距离计测单元所计测到
的移动距离比预先规定的距离大的情况下，通过控制部而工作以将工件收
纳孔内的工件排出。
3.根据权利要求1所述的工件的特性测定装置，其特征在于，
所述工件的特性检测部进一步具有：设置于工作台基座且向工作台基
座吸引工件的吸引通道；计测吸引通道内的真空度的真空度计测单元；和
强制排出单元，该强制排出单元在由真空度计测单元所计测到的真空度比
预先规定的真空度低的情况下，通过控制部而工作以将工件收纳孔内的工
件排出。
4.根据权利要求2或3所述的工件的特性测定装置，其特征在于，
所述强制排出单元包括对工件收纳孔内的工件是否已被排出进行检测
的排出...

【专利技术属性】
技术研发人员：小岛智幸，小平晃久，
申请(专利权)人：东京威尔斯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP