过热检测电路及半导体装置制造方法及图纸

本发明专利技术题为过热检测电路及半导体装置。本发明专利技术提供不会因瞬间的电源电压变动等的干扰噪声而进行意外的误输出而在过热状态下能够迅速输出过热状态检测信号的过热检测电路。过热检测电路采用这样的结构，即，具备：感温部；比较部；以及在既定延迟时间后将过热状态检测信号向输出部输出的干扰噪声除去部，延迟时间与温度成比例地缩短。

【技术实现步骤摘要】
201510982992

【技术保护点】
一种过热检测电路，具备感温部和比较部，其特征在于，所述过热检测电路具备将过热状态检测信号在既定延迟时间后向输出部输出的干扰噪声除去部，所述延迟时间与温度成比例地缩短。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：杉浦正一，泽井英幸，
申请(专利权)人：精工半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP