【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种表面改性的SiC纳米线,其特征在于所述表面改性的SiC纳米线为核壳结构的一维纳米材料,芯部为SiC,外层为SiO2,SiO2紧密包覆在SiC外面形成致密的包覆层,其中SiO2包覆层为非晶态,界面处的结合为原子尺度的紧密结合,SiO2包覆层厚度控制为2nm~500nm。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:张晓东,杨路路,周宇航,闫旭,黄小萧,温广武,侯思民,赵义,刘文会,刘璐,
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学,
类型:发明
国别省市:黑龙江;23
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