一种芯片的开路短路测试板制造技术

一种芯片的开路短路测试板，涉及芯片测试技术领域，其结构包括单片机、选择继电器模块、芯片管脚接地和测量切换继电器模块、电源切换供电模块和电压采集模块，单片机的第一输出端与选择继电器模块电连接，选择继电器模块的输出端与芯片管脚接地和测量切换继电器模块的受控端电连接，芯片管脚接地和测量切换继电器模块的输出端与被测芯片电连接，电源切换供电模块的输出端与芯片管脚接地和测量切换继电器模块的输入端电连接，电压采集模块的输入端与被测芯片的被测管脚电连接，电压采集模块与单片机通讯，本实用新型专利技术的单片机供软件工程师编写软件后，利用一块电路板就可对芯片进行开路短路测试，方便仅测试开路短路的芯片降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及芯片测试
，特别是涉及一种芯片的开路短路测试板。
技术介绍
对于芯片测试来说，0/S (Open开路/Short短路)测试都是必须的，而且在所有测试项目来说，都是最先测试的，Ο/s测试原理如下:1、测试二极管相对电源的压降，就是给所测引脚加10uA电流(即罐电流或抽电流)，其他的引脚全部给零电位或者直接接到GND引脚，二极管导通后，测试该引脚的电压，通常典型值是0.65V，范围值是0.2至1.2V。2、测试对二极管对地的压降，就是给所测引脚加-1OOuA电流(与上述相反，即抽电流或罐电流)，其他的引脚全部给零电位，或者直接接到GND引脚，二极管导通后，测试该引脚的电压，通常典型值是-0.65V,范围是-0.2V至-1.2V。如果测到的电压值小于0.2或大于-0.2，则判断为短路，如果测到的电压值小于-1.2或大于1.2则判断为开路。由于芯片内部二极管的排列顺序为每两个二极管串联，其中间的接点为芯片管脚，一般测试时，都是偶数引脚和奇数引脚分开测试，当要测试偶数引脚时，对偶数引脚抽电流(罐电流)并且将奇数引脚接地，当要测试奇数引脚时，对奇数引脚罐电流(抽电流)并且将偶数引脚接地。现有的芯片测试机一般比较大型，由于能测芯片的各种性能，功能较为齐全，所以成本也比较高，但对某些芯片来说，其无需测试其它项目，只需测试是否开路或者短路即可，对于这种测试项目较为单一的芯片来说，利用测试机测试，其成本会比较高。
技术实现思路
本技术的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种芯片的开路短路测试板，该芯片的开路短路测试板供软件工程师编写软件后，可方便仅测试开路短路的芯片降低测试成本。本技术的目的通过以下技术方案实现:提供一种芯片的开路短路测试板，包括单片机、选择继电器模块、芯片管脚接地和测量切换继电器模块、电源切换供电模块和电压采集模块，单片机的第一输出端与选择继电器模块电连接，选择继电器模块的输出端与芯片管脚接地和测量切换继电器模块的受控端电连接，芯片管脚接地和测量切换继电器模块的输出端与被测芯片电连接，电源切换供电模块的输出端与芯片管脚接地和测量切换继电器模块的输入端电连接，电压采集模块的输入端与被测芯片的被测管脚电连接，电压采集模块与单片机通讯。所述选择继电器模块包括至少两个型号为74HC595的继电器驱动芯片，第一个芯片的QH引脚与第二个芯片的DS引脚电连接，每个继电器驱动芯片的引脚ST_CK1和引脚SH_CK1分别于单片机电连接。所述芯片管脚接地和测量切换继电器模块包括多个型号为ATQ209的继电器，每个继电器的V+引脚接电源，每个继电器的V-引脚与所述继电器驱动芯片的引脚Q0、引脚Ql、引脚Q2、引脚Q3、引脚Q4、引脚Q5、引脚Q6和引脚Q7中的任一个引脚——对应电连接，每个继电器的Cl引脚和C2引脚均接地。所述电源切换供电模块包括多个三极管供电组，每个三极管供电组包括三个三极管，第一个三极管的发射极接正电源，第一个三极管的基极经第一电阻接至单片机，第一个三极管的集电极经第二电阻接至被测芯片的一个被测管脚和第二个三极管的集电极，第二个三极管的发射极接负电源，第二个三极管的基极经第三电阻接至第三个三极管的集电极，第三个三极管的集电极接正电源，第三个三极管的基极经第四电阻接至单片机。所述电压采集模块包括多个型号为AD7327的电压采集芯片，每个所述电压采集芯片的引脚VinO、引脚Vinl、引脚Vin2、引脚Vin3、引脚Vin4、引脚Vin5、引脚Vin6和引脚Vin7与被测芯片的被测引脚一一对应电连接，每个所述电压采集芯片的引脚DOUT与单片机电连接。所述芯片的开路短路测试板还包括拨码开关，所述拨码开关与所述单片机电连接。所述芯片的开路短路测试板还包括指示灯，所述指示灯与所述单片机电连接。所述芯片的开路短路测试板还包括蜂鸣器，所述蜂鸣器与所述单片机电连接。所述芯片的开路短路测试板还包括显示屏，所述显示屏与所述单片机电连接。本技术的有益效果:本技术的单片机通过控制选择继电器模块选通芯片管脚接地和测试切换继电器模块选通待测试的芯片管脚，例如将被测芯片的奇数引脚接地(暂时不测的)，电源切换供电模块通过芯片管脚接地和测试切换继电器模块对偶数引脚灌入或抽出电流，电压采集模块对偶数引脚进行电压采集，将采集到的电压反馈给单片机判断；接着单片机通过控制选择继电器模块选通芯片管脚接地和测试切换继电器模块将被测芯片的偶数引脚接地，电源切换供电模块通过芯片管脚接地和测试切换继电器模块对奇数引脚灌入或抽出电流，电压采集模块对奇数引脚进行电压采集，将采集到的电压反馈给单片机判断。本技术的单片机供软件工程师编写软件后，利用一块电路板就可对芯片进行开路短路测试，方便仅测试开路短路的芯片降低测试成本。【附图说明】利用附图对技术作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本技术的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。图1是本技术的一种芯片的开路短路测试板的电路框图。图2是本技术的一种芯片的开路短路测试板的单片机的电路示意图。图3是本技术的一种芯片的开路短路测试板的型号为74HC595的芯片的示意图。图4是本技术的一种芯片的开路短路测试板的型号为ATQ209的继电器的示意图。图5是本技术的一种芯片的开路短路测试板的为芯片的奇数引脚供电的一个三极管供电组的示意图。图6是本技术的一种芯片的开路短路测试板的为芯片的偶数引脚供电的一个三极管供电组的示意图。图7是本技术的一种芯片的开路短路测试板的型号为AD7327的电压采集芯片的不意图。【具体实施方式】结合以下实施例对本技术作进一步描述。本实施例的一种芯片的开路短路测试板，如图1所示，包括单片机、选择继电器模块、芯片管脚接地和测量切换继电器模块、电源切换供电模块和电压采集模块，单片机的第一输出端与选择继电器模块电连接，选择继电器模块的输出端与芯片管脚接地和测量切换继电器模块的受控端电连接，芯片管脚接地和测量切换继电器模块的输出端与被测芯片电连接，电源切换供电模块的输出端与芯片管脚接地和测量切换继电器模块的输入端电连接，电压采集模块的输入端与被测芯片的被测管脚电连接，电压采集模块与单片机通讯。本实施例还包括电源模块为整个电路供电。本实施例的单片机供软件工程师编写软件后，利用一块电路板就可对芯片进行开路短路测试，方便仅测试开路短路的芯片降低测试成本。具体的，如图3所示，所述选择继电器模块包括两个型号为74HC595的继电器驱动芯片ICll和IC12，可测试两个16引脚的芯片，第一个芯片的QH引脚与第二个芯片的DS引脚电连接，每个继电器驱动芯片的引脚ST_CK1和引脚SH_CK1分别于单片机电连接。所述芯片管脚接地和测量切换继电器模块包括十六个型号为ATQ209的继电器，如图4所示为其中一个继电器IC009的电路示意图，继电器IC009的V+引脚接电源，继电器IC009的V-引脚与所述继电器驱动芯片ICll的引脚Q4电连接，继电器IC009的Cl引脚和C2引脚均接地。所述电源切换供电模块包括十六个三极管供电组，如图5所示为其中一个三极管供电组的电路示本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片的开路短路测试板，其特征在于：包括单片机、选择继电器模块、芯片管脚接地和测量切换继电器模块、电源切换供电模块和电压采集模块，单片机的第一输出端与选择继电器模块电连接，选择继电器模块的输出端与芯片管脚接地和测量切换继电器模块的受控端电连接，芯片管脚接地和测量切换继电器模块的输出端与被测芯片电连接，电源切换供电模块的输出端与芯片管脚接地和测量切换继电器模块的输入端电连接，电压采集模块的输入端与被测芯片的被测管脚电连接，电压采集模块与单片机通讯。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙文涛，
申请(专利权)人：广东利扬芯片测试股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44