测试机辅助校验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种测试机辅助校验装置，测试机设置有多个测试座，测试座包括测试端和校验端，其包括：第一电阻和第二电阻以及切换模块，每个第一电阻的第一端接地，一部分第一电阻的第二端与测试端连接，另一部分第一电阻的第二端与校验端连接，多个第二电阻的第一端分别与校验端连接；切换模块包括第一连接端、第二连接端和第三连接端，第二连接端与一部分第二电阻的第二端连接，另一部分第二电阻的第二端与测试端连接，第一连接端和第三连接端交替地与第二连接端电连接。本实用新型专利技术测试机辅助校验装置能够辅助判断测试端和校验端在测试和校验测试机的电性参数和非电性参数时是否正确，有利于提升测试机的测试准确性和生产效率。生产效率。生产效率。

【技术实现步骤摘要】
测试机辅助校验装置


[0001]本技术涉及一种测试机辅助校验
，尤其涉及一种测试机辅助校验装置。

技术介绍

[0002]现有的测试机(例如T5375测试机)是利用测试机自带的6位半万用表对测试机板卡的电性参数进行测量校验，而非电性参数则是利用测试机板卡内自身的时钟模块对输出的信号进行时钟对比，但输出的信号是根据时钟模块的时钟产生的，导致时钟模块自身出现问题时无法正确地判断输出的信号的异常，进而使得测试机在进行测试时出现测试异常，但在校验测试机时却没有异常出现，这样靠自身进行校验的情况会导致工程人员无法定位和找到测试机的问题所在，需要耗费时间和精力逐一排查，严重影响生产测试效率，甚至有时会导致测试生产线无法进行测试生产。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是提供一种测试机辅助校验装置，能够辅助判断测试端和校验端在测试和校验测试机的电性参数和非电性参数时是否正确，有利于提升测试机的测试准确性和生产效率。
[0004]为了实现上述目的，本技术公开了一种测试机辅助校验装置，测试机设置有多个测试座，所述测试座包括多个测试端和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试机辅助校验装置，测试机设置有多个测试座，所述测试座包括多个测试端和多个校验端，所述测试端的数量大于所述校验端的数量，其特征在于，包括：多个第一电阻和多个第二电阻，所述第一电阻和/或所述第二电阻为可调电阻，每个所述第一电阻的第一端接地，一部分所述第一电阻的第二端与所述测试端连接，另一部分所述第一电阻的第二端与所述校验端连接，多个所述第二电阻的第一端分别与所述校验端连接；多个切换模块，所述切换模块包括第一连接端、第二连接端和第三连接端，所述第一连接端和所述第三连接端分别与所述测试端连接，所述第二连接端与一部分所述第二电阻的第二端连接，另一部分所述第二电阻的第二端与所述测试端连接，所述第一连接端和所述第三连接端交替地与所述第二连接端电连接。2.根据权利要求1所述的测试机辅助校验装置，其特征在于，所述第二连接端设置有连接切换器，所述连接切换器用于交替地与所述第一连接端和所述第三连接端连接，以使所述第二连接端交替地与所述第一连接端和所述第三连接端电连接。3.根据权利要求1所述的测试机辅助校验装置，其特征在于，所述测试座还包括控制端，所述切换模块还包括正极端和负极端，所述正极端与电源连接，所述负极端与所述控...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢克展，陈勇，张传益，马海龙，曾润达，周彬，
申请(专利权)人：广东利扬芯片测试股份有限公司，
类型：新型
国别省市：